技術(shù)編號(hào)：5879993
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于測量領(lǐng)域，具體涉及一種基于雙頻激光干涉的二維測量裝置。 背景技術(shù)現(xiàn)代高精密加工、高檔數(shù)控裝備等領(lǐng)域的發(fā)展，需要高效、高精度、大范圍的測量 技術(shù)作為支撐，如高檔數(shù)控機(jī)床的加工精度的保證，首先需要對機(jī)床本身的精度進(jìn)行檢測， 而其檢測的方法有諸多，與單項(xiàng)誤差(如線性度、垂直度等)檢測相比，綜合誤差(如圓誤 差、對角線等)檢測具有高效、易操作的優(yōu)點(diǎn)，為當(dāng)前機(jī)床精度檢測發(fā)展的主要方向。這就 要求一種先進(jìn)的二維測量技術(shù)。目前，檢測機(jī)床圓誤差的主要有英國雷尼紹...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。