技術編號：5874307
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種射線檢測儀，具體涉及一種用于計算斷層分析(CT)裝置的射線檢測儀，該裝置使用射線，如X-射線，γ-射線，等等。背景技術 圖8顯示使用射線檢測儀的射線CT裝置的示意圖。受檢體51安置在CT裝置的中心。射線源52(例如X-射線管)設置在繞受檢體51轉動的臺架50的外周側位置，多個射線檢測器8安置在與射線源52相對的位置，受檢體51在它們之間。從射線源52以扇形發(fā)散的射線53穿過受檢體51，同時由受檢體51的各個部分吸收，并到達射線檢測儀8。對于受...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。