技術(shù)編號(hào)：5868365
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明的一個(gè)或多個(gè)實(shí)施方式涉及用于微陣列的基底、使用其制造微陣列的方法 以及從微陣列獲得光數(shù)據(jù)的方法。背景技術(shù)微陣列通常由與靶物質(zhì)結(jié)合并固定在基底上的多個(gè)確定區(qū)域(清楚區(qū)域， distinct region)中的探針材料組成。微陣列用在各種靶物質(zhì)分析中。通過將含有熒光物 質(zhì)標(biāo)記的靶物質(zhì)的樣品與微陣列的探針材料接觸并測(cè)量由探針材料與熒光物質(zhì)標(biāo)記的靶 物質(zhì)產(chǎn)生的反應(yīng)產(chǎn)物發(fā)射的光信號(hào)來分析靶物質(zhì)。通常，由于微陣列包括其中可能固定許多不同類型的探針材料的高密度的獨(dú)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。