技術編號：5860343
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于熱學測量，具體涉及一種利用橢偏儀測量納米材料熔點的方法。背景技術精確測量納米尺度下材料的熔點是研究納米材料性質的重要技術。例如在制造納米信息器件的工藝中，當材料的尺寸小到納米尺度時，其熱學性質會發(fā)生明顯的變化，而這種變化將直接影響器件的溫度穩(wěn)定性。傳統(tǒng)的測量納米材料熔點的方法主要有兩種，一種是透射電子顯微鏡，通過觀察透射電子的衍射圖樣，根據圖樣的改變來判斷納米材料的熔點，但是這種方法不能實時快速的測量，而且制樣比較麻煩；另一種方法是熱量計，通過測...
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