技術(shù)編號(hào):5847527
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型屬于光電測(cè)量,具體涉及到一種超寬視場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)畸變測(cè)量裝置。背景技術(shù)在艦船光學(xué)系統(tǒng)、靶場(chǎng)光電測(cè)量設(shè)備、武器控制系統(tǒng)、精密測(cè)量以及復(fù)制系統(tǒng)中,超寬視場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)作為其重要的組成部分,起到了極其重要的作用。而超寬視場(chǎng)光學(xué)系統(tǒng)的畸變直接影響著成像的幾何位置精度,而且誤差隨視場(chǎng)的加大而陡升。為了得到準(zhǔn)確的幾何位置圖像,在進(jìn)行光學(xué)設(shè)計(jì)時(shí)不僅要盡可能對(duì)畸變進(jìn)行校正,而且要對(duì)生產(chǎn)的實(shí)際光學(xué)系統(tǒng)還需要仔細(xì)地進(jìn)行畸變測(cè)量,以便提供在使用中的修正值。以往的畸變測(cè)量方法如...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。