技術編號：5836040
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于光學檢測中涉及的一種利用四根測桿定位 離軸非球面鏡與零位補償器相對位置的標定方法。 背景技術隨著我國國防建設和航天、航空事業(yè)的迅速發(fā)展，對非球面鏡光 學元件提出了更高更多的應用要求。對非球面鏡面形的精密拋光加工 總是伴隨著檢測進行，檢測的結果給出與光學設計數(shù)據的誤差，為進 一步拋光加工提供依據。目前對非球面鏡面形檢測較多的是采用零位 補償器的自準直檢測方法，如圖1所示，包括非球面鏡l，零位補償器2，檢測設備3。非球面鏡1是一個反射光學元件；零位補...
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