技術(shù)編號：5834973
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于光學技術(shù)測量領(lǐng)域，具體涉及一種大場縱向表面磁光克爾效應(yīng)測量裝置。 技術(shù)背景1877年John Kerr發(fā)現(xiàn)了磁光克爾效應(yīng)，按照樣品磁化強度矢量相對激光入射面和樣 品表面的不同，磁光克爾效應(yīng)可以分為三種縱向克爾效應(yīng)、極向克爾效應(yīng)和橫向克爾效 應(yīng)[l] 。 1985年Moog和Bader進行鐵磁超薄膜的磁光克爾效應(yīng)測量，成功地得到一原子層 厚度磁性物質(zhì)的磁滯回線[2]。由于此方法的測量靈敏度可達到一個原子層厚度，所以成 為表面磁學研究的重要方法。下面...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。