技術(shù)編號：40638351
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請涉及芯片測試領(lǐng)域，特別是涉及一種高精度測試信號輸出裝置及測試機。背景技術(shù)、芯片測試，指的是利用測試機輸出測試信號對被測器件的各項參數(shù)指標(biāo)進(jìn)行檢測，剔除殘次品以控制半導(dǎo)體器件的出廠品質(zhì)。測試機包括測試信號輸出裝置，用于輸出測試信號。、現(xiàn)有技術(shù)中，測試信號輸出裝置通常搭配一對切換開關(guān)和至少一路信號處理電路。切換開關(guān)有以下兩種：機械式繼電器和rf?mems開關(guān)。采用機械式繼電器存在體積大和樁線效應(yīng)的缺點。rf?mems開關(guān)的導(dǎo)通電阻典型值為.歐姆，雖然不存在機械式繼電器的缺點，但是由于r...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。