技術(shù)編號：40613769
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本申請涉及發(fā)光裝置檢測領(lǐng)域，尤其涉及發(fā)光裝置檢測方法、系統(tǒng)以及計算機可讀存儲介質(zhì)。背景技術(shù)、消費者對mini?led(mini?light?emitting?diode，次毫米發(fā)光二極管)/microled(micro?light?emitting?diode，微型發(fā)光二極管)直接顯示技術(shù)的良率要求較高，甚至到.％～％，在高分辨、高對比度下，少量的亮點與暗點均會顯著影響顯示效果，故需要對亮點或是暗點進行檢測和修復。但在檢測的過程中，往往存在多項檢測的項目，檢測的效率低。、因...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。