技術(shù)編號：40583757
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請涉及芯片測試，具體而言，涉及一種針對sm-xts高階側(cè)信道分析抵抗能力的安全評估方法和設(shè)備。背景技術(shù)、側(cè)信道信息是指芯片在運(yùn)行過程中產(chǎn)生的電磁輻射、功耗消耗等物理信息，側(cè)信道信息的泄露嚴(yán)重威脅密碼芯片的信息安全，是密碼芯片面臨的主要安全風(fēng)險(xiǎn)之一。側(cè)信道分析(side-channelanalysis，sca)可以利用一個(gè)密碼設(shè)備運(yùn)行過程中消耗或產(chǎn)生的時(shí)間、功耗以及電磁等物理特征來恢復(fù)秘密信息，已經(jīng)成為信息安全的一個(gè)嚴(yán)重威脅。、存儲設(shè)備作為智能設(shè)備中不可或缺的數(shù)據(jù)存儲媒介，其安全性得到了...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。