技術(shù)編號：40572961
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種基于多尺度特征的金氧半場效晶體管壽命預(yù)測方法，屬于半導(dǎo)體。背景技術(shù)、隨著電子設(shè)備的快速發(fā)展，對半導(dǎo)體器件的可靠性要求越來越高。金氧半場效晶體管作為半導(dǎo)體器件的核心組件，其壽命預(yù)測對于保證電子設(shè)備穩(wěn)定性和可靠性至關(guān)重要。與之相對應(yīng)的是，如何準(zhǔn)確的對金氧半場效晶體管進(jìn)行壽命預(yù)測，成為了亟待解決的問題。、目前，通常采用單一尺度實現(xiàn)對金氧半場效晶體管的壽命預(yù)測。、雖然上述方法能夠?qū)崿F(xiàn)對金氧半場效晶體管的壽命預(yù)測，但是，在進(jìn)行壽命預(yù)測時，未考慮結(jié)合金氧半場效晶體管的多尺度特征，造成對金...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。