技術(shù)編號(hào)：40566086
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請(qǐng)涉及半導(dǎo)體測(cè)試，特別是涉及一種測(cè)試數(shù)據(jù)加速處理裝置、方法和測(cè)試機(jī)。背景技術(shù)、自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備（ate）是對(duì)待測(cè)器件（dut）進(jìn)行檢測(cè)的裝置，由于其功能復(fù)雜、精度高、自動(dòng)化程度高被廣泛的應(yīng)用在晶圓（cp）和成品檢測(cè)之中。在進(jìn)行測(cè)試的過程中會(huì)產(chǎn)生大量的錯(cuò)誤周期數(shù)據(jù)，需要快速定位各站點(diǎn)（site）的周期數(shù)來對(duì)待測(cè)器件進(jìn)行分析的需求。傳統(tǒng)的數(shù)據(jù)分析方式，是把前端業(yè)務(wù)卡采集到的錯(cuò)誤周期數(shù)據(jù)，通過數(shù)據(jù)幀匯聚到上位機(jī)通過軟件來進(jìn)行集中計(jì)算統(tǒng)計(jì)，占用上位機(jī)軟件處理時(shí)間較長。當(dāng)前端業(yè)務(wù)卡的錯(cuò)誤周期數(shù)據(jù)量達(dá)到...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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