技術(shù)編號(hào)：40555403
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于光伏組件測(cè)試，特別涉及光伏組件誘導(dǎo)衰減的測(cè)試方法、系統(tǒng)、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。背景技術(shù)、現(xiàn)有的光伏組件紫外誘導(dǎo)衰減(ultraviolet?intensity?decay，簡(jiǎn)稱uvid)測(cè)試是給提供輻照組件正面。但是，在電站的實(shí)際使用過(guò)程中，首先光伏組件內(nèi)部有電流流過(guò)；其次光伏組件具有一定的運(yùn)行溫度，運(yùn)行溫度會(huì)受多種因素的影響，如應(yīng)用的場(chǎng)景、安裝方式、環(huán)境條件、電池類型、設(shè)計(jì)，以及組件內(nèi)部的工作電流等，組件表面溫度還會(huì)存在上升的趨勢(shì)。研究表明，在高輻照地區(qū)，支架安裝的組件工作溫度可以達(dá)到...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。