技術(shù)編號(hào):3262915
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及以氧化鑭(La)為基礎(chǔ)成分,包含由鈦(Ti)、鋯(Zr)、鉿(Hf)的一種或 兩種以上組成的添加氧化物的氧化鑭基燒結(jié)體、包含該燒結(jié)體的濺射靶、氧化鑭基燒結(jié)體 的制造方法及通過(guò)該制造方法制造濺射靶的方法。背景技術(shù)最近,作為下一代MOSFET中的柵絕緣膜,要求薄膜化,但是,迄今作為柵絕緣膜使 用的SiO2,通過(guò)隧道效應(yīng)造成漏電流增加,難以正常工作。因此,作為代替SiO2的材料,提出了具有高介電常數(shù)、高熱穩(wěn)定性、對(duì)硅中的空穴 和電子具有高能障的Hf02...
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