技術(shù)編號:3255315
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種光學(xué)元件的檢測,尤其是涉及一種大口徑平面光學(xué)元件拋光盤表面平整性在線檢測系統(tǒng)。背景技術(shù)超精密表面在各工業(yè)領(lǐng)域中都有廣泛的應(yīng)用,目前主要集中在兩個方面一是以強(qiáng)激光、短波光學(xué)等為代表的工程光學(xué)領(lǐng)域,如激光聚變系統(tǒng)、紫外光學(xué)系統(tǒng)、X射線光學(xué)系統(tǒng)、X射線激光系統(tǒng)、高溫等離子體診斷等光學(xué)領(lǐng)域。在這類系統(tǒng)中,為了減小散射損失, 提高抗破壞閾值所用的光學(xué)組件都應(yīng)精密和光滑。二是以磁記錄頭、大規(guī)模集成電路基片等器件為主的電子工業(yè)領(lǐng)域。現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展對...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。