技術(shù)編號(hào)：2903185
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種具有空間高分辨能力的高靈敏發(fā)射光譜測(cè)量技術(shù)，用于對(duì)等離子體炬尤其是低氣壓等離子體炬進(jìn)行診斷，可得到等離子體炬的發(fā)光強(qiáng)度、電子溫度、電子密度、分子轉(zhuǎn)動(dòng)溫度、分子振動(dòng)溫度等空間分布信息。背景技術(shù)等離子體炬技術(shù)作為工業(yè)中一種常用的方法，已經(jīng)被廣泛應(yīng)用在噴涂、切割、化學(xué)氣相沉積、有害廢料處理、等離子體與托卡馬克壁材料相互作用等領(lǐng)域中。等離子體炬的基本原理是在兩電極間形成電弧放電，兩電極間通入氣流，氣體被電離、加熱、膨脹，形成的等離子體從噴嘴噴出，產(chǎn)成...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。