技術(shù)編號：2785598
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及X射線成像領(lǐng)域，具體地涉及利用X射線對物體進(jìn)行暗場成像的技術(shù)。 背景技術(shù)在現(xiàn)有技術(shù)例如CT的設(shè)備中，利用X射線對物體進(jìn)行掃描成像得到了廣泛地應(yīng) 用。但是，傳統(tǒng)的X射線成像利用材料對X射線的衰減特性來非破壞性地檢查物體的內(nèi)部 結(jié)構(gòu)，這屬于X射線的明場成像的技術(shù)。在光學(xué)成像領(lǐng)域，暗場(Dark field)成像顯著區(qū)別于明場(Brightfield)成像。 暗場成像是利用非直射光(例如散射光、衍射光、折射光和熒光等)對物質(zhì)進(jìn)行成像的技 術(shù)。其中，可見...
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