技術(shù)編號(hào)：2782427
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種檢測出具有雙折射特性的檢出對(duì)象的參數(shù)(特別是檢出對(duì)象的液晶層的延遲(リタデ一シヨン)、厚度)的檢出對(duì)象的參數(shù)檢出方法以及檢出裝置。背景技術(shù) 作為構(gòu)成液晶顯示裝置的液晶顯示元件(以下稱為“液晶晶元”)，使用液晶分子的長軸方向定向?yàn)榇笾屡c基板面平行的方向的液晶晶元。作為這樣的液晶晶元，公知有扭轉(zhuǎn)向列型(Twisted NematicTN)的液晶晶元、超扭轉(zhuǎn)向列型(Super Twisted NematicSTN)的液晶晶元、IPS型(In-Pla...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。