技術(shù)編號(hào)：24862
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。專利摘要本實(shí)用新型公開一種金屬探測(cè)器調(diào)校裝置，包括有MCU、顯示控制電路、DAC控制電路、第一DDS控制電路、第二DDS控制電路、第一低通濾波電路、第二低通濾波電路、第一放大電路和第二放大電路；通過配合利用各個(gè)電路，實(shí)現(xiàn)了一個(gè)信號(hào)發(fā)生器，數(shù)字合成來模擬一些常見金屬在金屬探測(cè)器中的響應(yīng)信號(hào)，在金屬探測(cè)器的生產(chǎn)過程中，直接將本實(shí)用新型產(chǎn)生的信號(hào)輸入至金屬探測(cè)器的探測(cè)電路中，就可以進(jìn)調(diào)試和校準(zhǔn)，而不必連接探測(cè)線圈并通過探測(cè)線圈產(chǎn)生真實(shí)的物理信號(hào)來進(jìn)行調(diào)試，從而擺脫了受環(huán)境電磁干擾的限制，降低了生產(chǎn)難度，大大提高了生產(chǎn)效率...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。