技術(shù)編號：12720506
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種掃描鏈重定序方法。背景技術(shù)插入掃描鏈?zhǔn)羌呻娐房蓽y性設(shè)計(jì)的重要方法，它將集成電路中的普通寄存器替換成掃描寄存器，并將掃描寄存器首尾連接，構(gòu)成串行的掃描鏈，以實(shí)現(xiàn)附加的掃描測試功能。掃描鏈的插入會增加集成電路的面積和功耗開銷，并且在測試模式下，掃描鏈的數(shù)據(jù)通路還必須滿足建立時間、保持時間等時序檢查約束，由此所引入的緩沖器進(jìn)一步增加了集成電路的面積和功耗開銷。對掃描鏈進(jìn)行重定序是降低集成電路的面積和功耗的一種途徑，掃描鏈重定序方法是將掃描鏈上的掃描寄存器按...
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