技術(shù)編號：12715099
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種X射線能級探測電路，適用于探測領(lǐng)域。背景技術(shù)X射線探測是接收穿透混合物質(zhì)后射線的強(qiáng)度。通過不同介質(zhì)對不同能級的吸收情況進(jìn)行測量，可以求解出混合物質(zhì)的介質(zhì)屬性和組成情況。射線經(jīng)過探測器后產(chǎn)生電壓脈沖，輸入處理測量線路后，記錄X射線強(qiáng)度的計(jì)數(shù)。射線在NaI晶體管中被轉(zhuǎn)換成電脈沖，脈沖數(shù)目的多少，反映射線強(qiáng)度的大小，即脈沖數(shù)目越多，射線的強(qiáng)度越大。為了能夠記錄出反映不同能級的放射性強(qiáng)度，脈沖電信號則需要傳輸?shù)接?jì)數(shù)器的計(jì)量電路中。測量自然X射線強(qiáng)度的方法是記錄同一點(diǎn)處不同能量的射線強(qiáng)度，從...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲(chǔ)備，不適合論文引用。