技術編號：12711572
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及低溫保持應用杜瓦，具體是指一種適合與廣泛應用的落射型三維影像儀、顯微鏡組合實現(xiàn)樣品在液氮溫度(77K)條件下樣品形變、電學性能測量的低溫應用杜瓦。背景技術在紅外探測器研制領域，隨著紅外材料研制技術、芯片制造技術和微電子技術的飛速發(fā)展，紅外焦平面探測器在性能、規(guī)模等方面取得了巨大的成就。制冷型紅外焦平面探測器因響應速度快、靈敏度高和探測距離遠等優(yōu)異特性在航天遙感、天文探測和軍事等敏感領域重要應用而備受各國的重視。用于制造制冷型焦平面探測器所涉及的InSb、HgCdTe和超晶格材料，光敏元...
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