技術(shù)編號：12621274
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種檢測裝置及其使用方法，尤其涉及一種高可測率的檢測裝置及其使用方法。背景技術(shù)一般具有多個檢測點(diǎn)(如電子元件接點(diǎn))的諸如印刷電路板、半導(dǎo)體封裝元件或晶圓等制成后，均需通過一種專用治具予以檢測，借以確認(rèn)是否為良品或有無斷路現(xiàn)象。圖1為現(xiàn)有技術(shù)的電路板電性檢測的示意圖，請參照圖1，檢測治具110上具有多個探針111，用于接觸電路板120上的測點(diǎn)123以實(shí)現(xiàn)電性檢測，測點(diǎn)123電連接金手指121與連接器122，但是，如圖1所示，測點(diǎn)123會處于暴露的狀態(tài)，可能帶來靜電的問題。圖2為現(xiàn)有技術(shù)的...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。