技術(shù)編號：12596672
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于集成電路設(shè)計領(lǐng)域，具體涉及一種提取寄生電容的方法及系統(tǒng)。背景技術(shù)隨著科技的發(fā)展，電路優(yōu)化設(shè)計成為集成電路設(shè)計流程中的一個重要階段。電路優(yōu)化的目的就是提高電路的電學(xué)性能，而電路的最終實(shí)際電學(xué)性能不僅取決電路的器件參數(shù)值，還取決于器件本身的寄生效應(yīng)、器件之間的寄生效應(yīng)、連線本身的寄生效應(yīng)、連線之間的寄生效應(yīng)、以及連線和器件之間的寄生效應(yīng)，而在其中相鄰連線間的寄生效應(yīng)尤為關(guān)鍵。從電路優(yōu)化理論上來講，為了得到準(zhǔn)確的電路優(yōu)化結(jié)果，需要精確考慮所設(shè)計的電路上的各個器件連線之間的寄生效應(yīng)，尤其是電容...
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