技術編號：12356148
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及基于奇偶探測策略的超分辨量子干涉測量系統(tǒng)及方法。背景技術干涉儀是現(xiàn)代光學測量技術中最基礎也最常用的系統(tǒng)。當兩束相干電磁波發(fā)生干涉，例如楊氏雙縫干涉實驗或是標準的馬赫曾德爾(MZ)干涉儀中發(fā)生的情況，在接收屏上能看到一個強度隨干涉儀兩臂光程差變化而變化的干涉條紋圖樣，該圖樣的變化周期由電磁場的波長λ決定。通常我們將引起干涉光強變化二分之一周期的光程差(相位差)變化稱為干涉儀的標準分辨率極限，即λ/2π。從相位探測的角度來看，該分辨率是固定的，無法通過換用短波長電磁波進行干涉來提高，對于需...
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