技術編號：12269148
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及核譜學和核探測技術領域，具體而言，涉及一種基于反符合的用于探測正電子湮沒的方法及系統(tǒng)。背景技術放射源發(fā)出的正電子射入待測樣品中，經熱化擴散后與待測樣品中的電子發(fā)生湮沒，發(fā)射出伽馬光子，伽馬光子的產生時間及其攜帶的動量和能量信息，分別對應著正電子在材料中的壽命，與之湮沒的電子動量和能量分布信息，這些信息可以反映出待測樣品材料的微觀結構。如圖1所示的常規(guī)測量方法中，采用兩片相同的樣品緊密夾住放射源進行正電子的測量。圖1是根據(jù)現(xiàn)有技術示出的一種“三明治”結構正電子湮沒測量系統(tǒng)原理框圖。如圖1...
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