技術編號：12174784
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種核能領域，尤其涉及一種模擬能譜曲線仿真方法。背景技術核衰變過程在時間上是隨機發(fā)生的，衰變過程釋放射線(能量)也是隨機的，但對其發(fā)生的時間間隔及能量值作統(tǒng)計分析，可得知核衰變過程有著以下特性：在發(fā)生核衰變的時間間隔上近似服從指數(shù)分布；核衰變過程對外釋放的能量(即能譜)近似服從高斯分布?；诤怂プ冞^程存在以上特性，傳統(tǒng)方式的仿核信號發(fā)生器是以服從不同分布的隨機數(shù)來模擬核信號特征，即以服從指數(shù)分布隨機數(shù)模擬核信號在時間間隔統(tǒng)計特性；以高斯分布隨機數(shù)模擬核信號在幅度上的統(tǒng)計特性。但僅以服從...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權(quán)，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。