技術(shù)編號：12174098
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及金屬平均晶粒尺寸測量技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種剔除曲面擴散影響的金屬晶粒尺寸超聲衰減評價方法。背景技術(shù)晶粒尺寸是表征金屬材料微觀特性的一個重要參數(shù)，如細晶強化是提高多晶鑄件強度、塑性及韌性的有效手段，而增大晶粒尺寸則可使晶界能降低，提高金屬的耐腐蝕性能。因此，在金屬構(gòu)件的生產(chǎn)和服役過程中，嚴格控制晶粒尺寸是保障金屬材料強度、韌性、耐候性等機械性能的關(guān)鍵之一，而有效檢測晶粒尺寸又是其的前提和基礎(chǔ)。獲取金屬材料晶粒尺寸的方法可分為有損和無損兩種，有損法如金相法具有結(jié)果直觀和檢測精度高等優(yōu)點，但...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。