技術(shù)編號(hào)：12033175
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于光譜檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種幾何參數(shù)連續(xù)可調(diào)的室內(nèi)高光譜檢測(cè)裝置。背景技術(shù)高光譜成像檢測(cè)技術(shù)是采用成像光譜儀，在光譜波長(zhǎng)200-2500nm范圍內(nèi)利用數(shù)十或數(shù)百個(gè)光譜波段對(duì)目標(biāo)物體進(jìn)行連續(xù)成像，同時(shí)獲取目標(biāo)物體的二維圖像信息和一維光譜信息，以實(shí)現(xiàn)物質(zhì)成分的快速檢測(cè)與分析。當(dāng)前，目標(biāo)物體的高光譜數(shù)據(jù)獲取手段主要包含三種方式：室內(nèi)檢測(cè)、室外采集和航空航天遙感。其中室內(nèi)檢測(cè)裝置獲取的環(huán)境(光照、大氣擾動(dòng)等因素)比室外更穩(wěn)定、觀測(cè)結(jié)果的重復(fù)性和穩(wěn)定性更好，因此獲得了廣泛應(yīng)用。然而，目前...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。