技術(shù)編號：12014974
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于相位激光測量技術(shù)，主要涉及一種相位激光測距裝置與方法。背景技術(shù)大尺寸測量在發(fā)展大型精密機(jī)械制造、重大科技工程、航空航天工業(yè)、船舶工業(yè)和微電子裝備業(yè)等大型光機(jī)電一體化裝備加工制造中備受關(guān)注，其中幾米至幾百米范圍的大尺寸測量是航空航天器及巨型船舶中的大型零部件加工和整體裝配的重要基礎(chǔ)，其測量方法與設(shè)備性能的優(yōu)劣直接影響工件質(zhì)量及裝配精度，進(jìn)而影響整套裝備的運行質(zhì)量、性能及壽命。多測尺相位測距方法利用一組從大到小的測尺波長對被測距離進(jìn)行逐級精化測量，解決了測量范圍和測量精度之間的相互矛盾，能...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。