技術(shù)編號：11918111
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明是有關(guān)于一種芯片調(diào)試系統(tǒng)及方法與系統(tǒng)芯片，且特別是有關(guān)于一種可保留調(diào)試信息的芯片調(diào)試系統(tǒng)及方法與系統(tǒng)芯片。背景技術(shù)隨著各式電子產(chǎn)品的蓬勃發(fā)展，在電子產(chǎn)品中的系統(tǒng)芯片的研發(fā)與制造的過程中，開發(fā)人員必須對所設(shè)計或制造出的系統(tǒng)芯片花費更大量的時間與人力，來進行系統(tǒng)芯片的偵錯以及除錯。因此，發(fā)展出在系統(tǒng)芯片內(nèi)建立量測線路，并由少數(shù)的測試引腳以及串列傳輸?shù)姆绞絹砣〈结槞z測。而目前此種架構(gòu)已被定工業(yè)標準，并且稱之為JTAG(JointTestActionGroup)。目前大部分的系統(tǒng)芯片都提供JTA...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學習研究技術(shù)思路。