技術(shù)編號：11914062
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體芯片批量測試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種半導(dǎo)體芯片批量測試方法。背景技術(shù)半導(dǎo)體芯片的質(zhì)量是通過一組不同單位，類型各異的測試數(shù)據(jù)反映。半導(dǎo)體芯片批量生產(chǎn)時，需要對數(shù)以千記測試數(shù)據(jù)快速分析，進(jìn)行質(zhì)量分級，分析缺陷分布特點(diǎn)并找出原因。由于測試數(shù)據(jù)的多維性和測試實(shí)時性要求，單變量數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析方法以及傳統(tǒng)的多維數(shù)據(jù)統(tǒng)計方法均難以取得滿意的效果。發(fā)明人之前獲得的國家發(fā)明專利“基于二位彩色數(shù)字圖譜的復(fù)雜機(jī)電系統(tǒng)狀態(tài)評估方法”(專利號：ZL201110146488.5)，和以第一作者發(fā)表的相關(guān)論文《P...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。