技術(shù)編號(hào)：11579814
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于電磁技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種混響室條件下的輻射敏感度測(cè)試方法及裝置。背景技術(shù)隨著微電子技術(shù)的高速發(fā)展，電子設(shè)備逐漸趨于小型化、集成化，設(shè)備內(nèi)部及其工作場(chǎng)地的電磁環(huán)境也越來越復(fù)雜。在設(shè)備定型前進(jìn)行輻射敏感度測(cè)試，是評(píng)估設(shè)備電磁防護(hù)性能的重要手段?；祉懯易鳛橐环N新興的測(cè)試場(chǎng)地，一般用于設(shè)備輻射敏感度的通過性測(cè)試，用于臨界輻射干擾場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試還有待研究。由于混響室內(nèi)部為統(tǒng)計(jì)均勻的電磁環(huán)境，傳統(tǒng)均勻場(chǎng)中的輻射敏感度測(cè)試方法在混響室中并不適用，采用現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn)中提供的方法也存在校準(zhǔn)過程復(fù)雜、與均勻場(chǎng)相關(guān)性...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。