技術編號:11542907
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明總體來說涉及光電器件的掃描測試技術,具體而言,涉及一種成本低且性能穩(wěn)定的大面積光電倍增管(PMT)的電耦合掃描測試裝置和方法。背景技術在核電子學與核探測器領域,進行高能物理實驗、核電子學與核探測器研制過程中,會使用大量的大型光電器件,例如大面積光電倍增管(簡稱PMT)。雖然對于小型的光電倍增管,由于其有效面積有限,在使用中一般不考慮其有效面積的均勻性。但是很多測試表明,無論是平面的光陰極還是球面的光陰極,由于沒有采用轉移陰極系統(tǒng)進行光陰極的制備,所以其光陰極的均勻性,受到銻球排布位置和光陰...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。