技術編號：11516957
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及集成電路芯片測試領域，更具體地，涉及SRAM型FPGA芯片中查找表的檢測電路及檢測方法。背景技術FPGA(Field－ProgrammableGateArray)，即現場可編程門陣列，它是在PAL、GAL、CPLD等可編程器件的基礎上進一步發(fā)展的產物。Xilinx7系列FPGA包括Artix-7、Kentix-7與Virtex-7三個子類，三類器件的可配置邏輯塊(CLB)結構相同，如圖1所示。每個CLB由2個切片組成，每個切片具有唯一的物理位置編號(如X0Y0，X2Y1)。查找表(Lo...
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