技術(shù)編號：11323492
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種求取頁巖儲層有機孔隙度的測錄井方法，，為頁巖氣儲層評價提供解釋評價關(guān)鍵參數(shù)。背景技術(shù)在頁巖氣儲層綜合解釋評價過程中，通常用孔隙度作為衡量儲層品質(zhì)好壞的重要參數(shù)之一。除了與常規(guī)儲層相似的粒間孔、粒內(nèi)孔、溶蝕孔等孔隙外，頁巖氣儲層還存在著大量的有機孔，越來越多的生產(chǎn)實際表明，頁巖氣儲層有機孔隙度的大小、占比對頁巖氣層產(chǎn)能起主導(dǎo)作用。通過檢索相關(guān)文獻、專利了解到，目前頁巖氣儲層有機孔隙度的求取依賴于以巖心資料為基礎(chǔ)的室內(nèi)實驗分析，其最終求取結(jié)果受制于頁巖氣儲層的特殊性、實驗測試環(huán)境以及內(nèi)...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學習研究技術(shù)思路。