技術(shù)編號：11286852
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于抗輻照復(fù)雜集成電路技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種抗輻照復(fù)雜集成電路單粒子錯誤率截面的預(yù)估方法，可用于對航天微電子器件抗輻照性能的評估。背景技術(shù)隨著我國航天技術(shù)以及集成電路工藝的迅猛發(fā)展，宇航用抗輻照集成電路的集成度不斷提高，呈現(xiàn)出模塊多、規(guī)模大、集成度高、結(jié)構(gòu)復(fù)雜等特點?？馆椪諒?fù)雜集成電路空間在軌運行時，時常會遭受宇宙帶電粒子的襲擊，致使電路功能輸出錯誤甚至功能失效，如何從地面模擬加速試驗中能更加可惜合理的預(yù)估宇航用復(fù)雜集成電路的抗輻照性能，是抗輻照復(fù)雜集成電路單粒子性能評估領(lǐng)域所面臨的新的挑...
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