技術(shù)編號(hào)：11252424
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請(qǐng)涉及中子檢測(cè)設(shè)備領(lǐng)域，特別是涉及一種去除快中子束流的斬波器。背景技術(shù)散裂中子源是利用高中子通量的中子束流對(duì)微觀世界進(jìn)行研究的一個(gè)新進(jìn)的功能強(qiáng)大的大科學(xué)研究平臺(tái)，它為眾多學(xué)科前沿領(lǐng)域的研究提供了一種最先進(jìn)、不可替代的研究工具?？熘凶邮跁r(shí)間上是伴隨質(zhì)子束打靶產(chǎn)生的，即散裂中子源每個(gè)脈沖周期的零時(shí)刻發(fā)出的中子束流，如果不對(duì)其進(jìn)行消除，將會(huì)影響到后續(xù)研究的進(jìn)行。目前，國(guó)內(nèi)對(duì)于快中子束的研究相對(duì)較少，暫無有效的去除快中子束流的方法。發(fā)明內(nèi)容本申請(qǐng)的目的是提供一種專門用于去除快中子束流的斬波器。本申...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。