技術(shù)編號：10592100
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。近紅外探測器均勻性測試是指在相同光照條件下，由于像元間存在響應(yīng)、噪聲水平和量子效率等方面的差異，各像元輸出信號不一致性的測試。近紅外探測器均勻性測試為近紅外探測器標定以及光電類儀器的圖像質(zhì)量提供了重要依據(jù)。隨著光電儀器設(shè)備和用戶對圖像質(zhì)量要求的提高，迫切需要對近紅外探測器進行高精度和高穩(wěn)定度的均勻性測試，以滿足后續(xù)圖像的處理和校正。近紅外探測器的暗電流水平與工作溫度直接相關(guān)，工作溫度越低其暗電流水平越低，因此對近紅外探測器的均勻性測試也應(yīng)保證其工作在一定的...
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