一種以太網(wǎng)測試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及網(wǎng)絡(luò)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種以太網(wǎng)測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002] 雖然無線網(wǎng)絡(luò)最近幾年發(fā)展迅速，但是信號不穩(wěn)容易掉線，而傳統(tǒng)的有線以太網(wǎng) 具有連接穩(wěn)定、不易掉線的優(yōu)點，因此，仍被廣泛使用。從中心機房到住宅小區(qū)，以及大廈的 不同樓層之間，都設(shè)置有線以太網(wǎng)絡(luò)。交換機（Switch)與終端設(shè)備（Device)之間有時仍 需要較長的網(wǎng)線（RJ45Cable)連接，有時為了評估長距離下的交換網(wǎng)絡(luò)通信質(zhì)量，也需要 將很長的網(wǎng)線跨接在交換機和測試儀器（Instruments)之間進行評估。
[0003] 當(dāng)網(wǎng)線增長后通信距離也相應(yīng)的增加，信號在傳輸線路上將產(chǎn)生一定的衰減，嚴(yán) 重的衰減會影響到接收端的信號質(zhì)量，甚至?xí)?dǎo)致系統(tǒng)無法正常通信。在沒有中繼情況下， 雙絞線以太網(wǎng)絡(luò)點對點通信距離在100米以內(nèi)，因此，以太網(wǎng)線纜的長度一般都不超過100 米。在實際應(yīng)用中，經(jīng)常需要拖著幾十米常的網(wǎng)線進行組網(wǎng)測試、性能測試等，由于網(wǎng)線太 長，當(dāng)網(wǎng)線纏繞在一起時，網(wǎng)絡(luò)環(huán)境凌亂，且不便于測試。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004] 針對現(xiàn)有的有線以太網(wǎng)測試存在的上述問題，現(xiàn)提供一種旨在實現(xiàn)可模擬衰減變 化下不同設(shè)備互聯(lián)時的性能表現(xiàn)并降低了網(wǎng)絡(luò)測試時布線長和減少了布線的復(fù)雜度的以 太網(wǎng)測試系統(tǒng)。
[0005] 具體技術(shù)方案如下：
[0006] -種以太網(wǎng)測試系統(tǒng)，應(yīng)用于網(wǎng)絡(luò)測試中，包括：
[0007] 第一轉(zhuǎn)換單元，連接以太網(wǎng)接口，用以將與待測試的以太網(wǎng)相關(guān)聯(lián)的差分信號轉(zhuǎn) 換為單端信號；
[0008] 第二轉(zhuǎn)換單元，連接設(shè)備終端或測試設(shè)備，用以將所述單端信號還原為所述差分 信號；
[0009] 射頻通路，連接于所述第一轉(zhuǎn)換單元和所述第二轉(zhuǎn)換單元之間，所述射頻通路包 括衰減通路和正常通路，所述衰減通路用以根據(jù)預(yù)設(shè)條件調(diào)節(jié)所述單端信號的衰減量，所 述正常通路用以正常傳輸所述單端信號；
[0010] 切換單元，分別連接所述第一轉(zhuǎn)換單元、所述第二轉(zhuǎn)換單元和所述射頻通路，所述 切換單元可操作的切換將所述第一轉(zhuǎn)換單元和所述第二轉(zhuǎn)換單元連接于所述衰減通路，或 將所述第一轉(zhuǎn)換單元和所述第二轉(zhuǎn)換單元連接于正常通路；
[0011] 所述第一轉(zhuǎn)換單元、所述第二轉(zhuǎn)換單元及所述射頻通路的數(shù)目與以太網(wǎng)相關(guān)聯(lián)的 差分信號數(shù)目相匹配。
[0012] 優(yōu)選的，所述衰減通路包括一數(shù)字衰減器。
[0013] 優(yōu)選的，所述正常通路包括一射頻線。
[0014] 優(yōu)選的，所述預(yù)設(shè)條件為：
[0015] 當(dāng)待測試以太網(wǎng)信號為IOM以太網(wǎng)信號時，所述射頻通路的衰減量在IdB至5dB 之間；
[0016] 當(dāng)待測試以太網(wǎng)信號為100M以太網(wǎng)信號時，所述射頻通路的衰減量在IdB至25dB 之間；
[0017] 當(dāng)待測試以太網(wǎng)信號為1000M以太網(wǎng)信號時，所述射頻通路的衰減量在IdB至 28dB之間。
[0018] 優(yōu)選的，所述切換單元包括：
[0019] 一第一射頻開關(guān)，連接于所述第一轉(zhuǎn)換單元和所述射頻通路之間；
[0020] -第二射頻開關(guān)，連接于所述第二轉(zhuǎn)換單元和所述射頻通路之間。
[0021] 優(yōu)選的，所述第一射頻開關(guān)和所述第二射頻開關(guān)均采用單刀雙擲開關(guān)。
[0022] 優(yōu)選的，所述第一轉(zhuǎn)換單元包括：
[0023] 第一以太網(wǎng)接口電路，用以接收與以太網(wǎng)相關(guān)聯(lián)的差分信號；
[0024] 第一轉(zhuǎn)換器，連接于所述第一以太網(wǎng)接口電路和所述第一射頻開關(guān)之間，用以將 與以太網(wǎng)相關(guān)聯(lián)的差分信號轉(zhuǎn)換為所述單端信號；
[0025] 所述第一轉(zhuǎn)換器的數(shù)目與以太網(wǎng)相關(guān)聯(lián)的差分信號數(shù)目相匹配。
[0026] 優(yōu)選的，所述第一轉(zhuǎn)換器采用平衡至非平衡轉(zhuǎn)換器。
[0027] 優(yōu)選的，所述第二轉(zhuǎn)換單元包括：
[0028] 第二以太網(wǎng)接口電路，用以將與以太網(wǎng)相關(guān)聯(lián)的差分信號輸出；
[0029] 第二轉(zhuǎn)換器，連接于所述第二以太網(wǎng)接口電路和所述第二射頻開關(guān)之間，用以將 所述單端信號轉(zhuǎn)換為與以太網(wǎng)相關(guān)聯(lián)的差分信號；
[0030] 所述第二轉(zhuǎn)換器的數(shù)目與以太網(wǎng)相關(guān)聯(lián)的差分信號數(shù)目相匹配。
[0031] 優(yōu)選的，所述第二轉(zhuǎn)換器采用平衡至非平衡轉(zhuǎn)換器。
[0032] 上述技術(shù)方案的有益效果：
[0033] 本技術(shù)方案中，采用射頻通路可模擬測試時布線長度衰減變化下不同設(shè)備互聯(lián)時 的性能表現(xiàn)，并且可調(diào)節(jié)衰減變化，降低了網(wǎng)絡(luò)測試時布線長，并減少了布線的復(fù)雜度。
【附圖說明】
[0034] 圖1為本發(fā)明所述的以太網(wǎng)測試系統(tǒng)的一種實施例的整體框圖；
[0035] 圖2為本發(fā)明衰減通路的一種實施例的電路圖；
[0036] 圖3為本發(fā)明正常通路的一種實施例的電路圖。
【具體實施方式】
[0037] 下面將結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完 整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于 本發(fā)明中的實施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動的前提下所獲得的所有其 他實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。
[0038] 需要說明的是，在不沖突的情況下，本發(fā)明中的實施例及實施例中的特征可以相 互組合。
[0039] 下面結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明作進一步說明，但不作為本發(fā)明的限定。
[0040] 如圖1所示，一種以太網(wǎng)測試系統(tǒng)，應(yīng)用于網(wǎng)絡(luò)測試中，包括：
[0041] 第一轉(zhuǎn)換單元A，連接以太網(wǎng)接口，用以將與待測試的以太網(wǎng)相關(guān)聯(lián)的差分信號轉(zhuǎn) 換為單端信號；
[0042] 第二轉(zhuǎn)換單元B，連接設(shè)備終端或測試設(shè)備，用以將單端還原為所述差分信號；
[0043] 射頻通路，連接于第一轉(zhuǎn)換單元A和第二轉(zhuǎn)換單元B之間，射頻通路包括衰減通路 和正常通路，衰減通路用以根據(jù)預(yù)設(shè)條件調(diào)節(jié)單端信號的衰減量，正常通路用以正常傳輸 單端信號；
[0044] 切換單元，分別連接第一轉(zhuǎn)換單元A、第二轉(zhuǎn)換單元B和射頻通路，切換單元可操 作的切換將第一轉(zhuǎn)換單元A和第二轉(zhuǎn)換單元B連接于衰減通路，或?qū)⒌谝晦D(zhuǎn)換單元A和第 二轉(zhuǎn)換單元B連接于正常通路；
[0045] 第一轉(zhuǎn)換單元A、第二轉(zhuǎn)換單元B及射頻通路的數(shù)目與以太網(wǎng)相關(guān)聯(lián)的差分信號 數(shù)目相匹配。
[0046] 在本實施例中，采用射頻通路可模擬驗證網(wǎng)絡(luò)布線長度以及衰減變化下不同設(shè)備 互聯(lián)時的性能表現(xiàn)，并且可調(diào)節(jié)衰減變化，降低了網(wǎng)絡(luò)測試時布線長，并減少了布線的復(fù)雜 度。僅需要少量的短網(wǎng)線、射頻線（RF Cable)即可完成以太網(wǎng)性能測量，為網(wǎng)絡(luò)布線和以 太網(wǎng)性能優(yōu)化設(shè)計提供必要的參考依據(jù)。
[0047] 在優(yōu)選的實施例中，衰減通路包括一數(shù)字衰減器。
[0048] 在本實施例中，所有的數(shù)字衰減器需要同步設(shè)置，即相同的工作頻率下需要保持 各路射頻通路的數(shù)字衰減器的衰減量一致。在測試時為了避免衰減量過大導(dǎo)致出現(xiàn)測試 異常，可將各數(shù)字衰減器的初始衰減值設(shè)置為ldB，然后逐漸增加衰減量。通過數(shù)字衰減器 調(diào)節(jié)射頻通路上的衰減損耗，不同頻率下網(wǎng)線的衰減特性是不同的，通常頻率越高，衰減越 大。
[0049] 在優(yōu)選的實施例中，正常通路包括一射頻線。
[0050] 在優(yōu)選的實施例中，預(yù)設(shè)條件為：
[0051] 當(dāng)待測試以太網(wǎng)信號為IOM以太網(wǎng)信號時，射頻通路的衰減量在IdB至5dB之間；
[0052] 當(dāng)待測試以太網(wǎng)信號為100M以太網(wǎng)信號時，射頻通路的衰減量在IdB至25dB之 間；
[0053] 當(dāng)待測試以太網(wǎng)信號為1000M以太網(wǎng)信號時，射頻通路的衰減量在IdB至28dB之 間。
[0054] 在本實施例中，不同類型網(wǎng)線衰減量如下表：
[0056] 目前普遍采用的以太網(wǎng)電纜是5類線（CAT5)、超5類線（CAT5e)。常用的5類 線工作頻率與衰減量對應(yīng)關(guān)系遵從上表中的衰減量計算公式，定義衰減量為s (單位： dB/lOOm)，工作頻率為 f (單位：MHz)，那么：s〈l. 9267*sqrt(f)+0. 075*(f)。
[0057] 本實施例中采用的網(wǎng)線主要是5類線（CAT5)和超5類線（CAT5e)，數(shù)字衰減模塊 可根據(jù)不同類型網(wǎng)線調(diào)節(jié)衰減量，具體調(diào)節(jié)過程如下：
[0058] 以太網(wǎng)信號為IOM以太網(wǎng)信號時：按照IOMHz頻率計算，最大衰減量 s〈l. 9267*sqrt (10)+0. 075*10 = 6. 84dB，考慮到數(shù)字衰減模塊精度以及射頻通路的損耗 等，可調(diào)衰減量控制在5dB以內(nèi)；
[0059] 以太網(wǎng)信號為100M以太網(wǎng)信號時：按照IOOMHz頻率計算，最大衰減量 s〈l. 9267*sqrt (100)+0. 075*100 = 26. 767dB，考慮到數(shù)字衰減模塊精度以及射頻通路的 損耗等，可調(diào)衰減量控制在25dB以內(nèi)；
[0060] 以太網(wǎng)信號為1000M以太網(wǎng)信號時：按照125MHz頻率計算，最大衰減量 s〈l. 9267*sqrt (125)+0. 075*125 = 30. 915dB，考慮到數(shù)字衰減模塊精度以及射頻通路的 損耗等，可調(diào)衰減量控制在28dB以內(nèi)。
[0061] 在優(yōu)選的實施例中，切換單元包括：
[0062] -第一射頻開關(guān)，連接于第一轉(zhuǎn)換單元A和射頻通路之間；
[0063] -第二射頻開關(guān)，連接于第二轉(zhuǎn)換單元B和射頻通路之間。
[0064] 進一步地，第一射頻開關(guān)和第二射頻開關(guān)均可采用單刀雙擲開關(guān)。
[0065] 如圖2所示，當(dāng)所有單刀雙擲開關(guān)Kmn(m = 1，2,3,4 ;n = 1，2)的端子1被選通 后，形成射頻通路，數(shù)字衰減器（ATTl~ATT4)對相應(yīng)的單端信號進行衰減。
[0066] 如圖3所示，當(dāng)所有射頻開關(guān)Kmn (m= 1，2, 3,4;n = 1，2