專利名稱：一種增加撥號(hào)器測(cè)試功能的裝置及其控制方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是有關(guān)于一種增加撥號(hào)器測(cè)試功能的裝置及其控制方法，特別是有關(guān)于一種利用振蕩器輸入與輸出的相位關(guān)系決定系統(tǒng)各種測(cè)試模式的裝置及其控制方法。
一般集成電路于制造完成后都必須經(jīng)過測(cè)試以確定其功能正確無誤。由于集成電路的功能日趨繁雜，測(cè)試成本占整個(gè)生產(chǎn)成本的比例逐漸上升，而集成電路的管腳愈多則封裝成本愈高，因此如何在不增加集成電路的管腳前提下，方便快速地產(chǎn)生各種測(cè)試模式，即為制造者努力的目標(biāo)之一。
在熟知技術(shù)中，關(guān)于撥號(hào)器測(cè)試功能電路的技術(shù)，主要有二種(1)在集成電路中增加一測(cè)試專用管腳，此種測(cè)試方式最為簡易快速，但其缺點(diǎn)為管腳增加，使制造成本上升。
(2)利用鍵盤上某些按鍵的組合，經(jīng)過一段時(shí)間的確認(rèn)后進(jìn)入測(cè)試模式。此熟知方式雖可在不增加管腳的情況下進(jìn)行測(cè)試，但其缺點(diǎn)為使用者常在無意間進(jìn)入測(cè)試模式，造成操作上的不便；其次，由于鍵盤按鍵必須等待一段時(shí)間，待噪聲雜波消失后始能確認(rèn)被按下鍵的位置，如此將延長測(cè)試時(shí)間，無法符合快速簡易的要求。
有鑒于此，本發(fā)明的目的是為了解決上述問題而提供一種增加撥號(hào)器測(cè)試功能的控制方法，由于撥號(hào)器的原理是利用一振蕩器輸出/輸入裝置提供撥號(hào)器的系統(tǒng)時(shí)鐘脈沖，因此本方法是利用將設(shè)定信號(hào)輸入振蕩器的輸入端，并比較與振蕩器輸出的相位變化，進(jìn)而將前述相位關(guān)系輸入各測(cè)試裝置以產(chǎn)生各種測(cè)試模式及模擬聽筒掛上/取下的動(dòng)作。本發(fā)明增加撥號(hào)器測(cè)試功能的裝置包括一測(cè)試信號(hào)輸出裝置，系統(tǒng)欲進(jìn)入測(cè)試模式，須有效測(cè)試信號(hào)為邏輯1電位的輸出，始可執(zhí)行各種測(cè)試模式；一振蕩器輸出/輸入裝置，當(dāng)有效測(cè)試信號(hào)為邏輯1并反饋至振蕩器輸出/輸入裝置時(shí)，將具有特定關(guān)系的信號(hào)輸入振蕩器的輸入管腳，則振蕩器的輸入與輸出靠不同的相應(yīng)變化即可控制系統(tǒng)執(zhí)行各種測(cè)試模式或模擬聽筒掛上/取下的動(dòng)作；一聽筒掛上/取下模似電路，由電位為邏輯1的有效測(cè)試信號(hào)負(fù)責(zé)啟動(dòng)該電路，并利用振蕩器的輸入與輸出間的相位變化模擬聽筒掛上/取下的動(dòng)作；及一測(cè)試模式產(chǎn)生電路，亦由電位為邏輯1的有效測(cè)試信號(hào)所啟動(dòng)，并利用振蕩器的輸入與輸出間的相位變化進(jìn)行各種測(cè)試模式的動(dòng)作；及一抑制信號(hào)產(chǎn)生電路，由聽筒取下的信號(hào)啟動(dòng)，經(jīng)過數(shù)個(gè)振蕩器周期后，輸出抑制信號(hào)，進(jìn)而使系統(tǒng)不能進(jìn)入測(cè)試模式。
由上述控制方法，配合本發(fā)明裝置，本發(fā)明具有三項(xiàng)優(yōu)點(diǎn)(1)因是利用振蕩器輸入/輸出的相位關(guān)系使系統(tǒng)進(jìn)入各種測(cè)試模式，故可不局限在電話系統(tǒng)中使用。
(2)不須額外增加一測(cè)試專用管腳，可降低生產(chǎn)成本。
(3)可避免使用者誤入測(cè)試模式，且可縮短測(cè)試時(shí)間，增加測(cè)試功能。
為讓本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂，下文特舉一較佳實(shí)施例，并配合附圖，作詳細(xì)說明如下

圖1是顯示本發(fā)明的功能方塊圖；圖2為依照本發(fā)明一較佳實(shí)施例所實(shí)施的增加撥號(hào)器測(cè)試功能的裝置電路圖；及圖3是顯示本發(fā)明的脈沖時(shí)序圖。
現(xiàn)請(qǐng)參照?qǐng)D1，本發(fā)明的一種增加撥號(hào)器測(cè)試功能的裝置，其構(gòu)造如圖1的功能方塊圖所示，其包括一測(cè)試信號(hào)輸出裝置20，用以輸出測(cè)試信號(hào)TEST至各裝置及其它測(cè)試電路，并決定系統(tǒng)是否進(jìn)入測(cè)試模式；一振蕩器輸出/輸入裝置10，于正常操作時(shí)，由外加振蕩器與內(nèi)部反饋電路產(chǎn)生系統(tǒng)時(shí)鐘脈沖，而欲進(jìn)行測(cè)試時(shí)，則由外部將系統(tǒng)時(shí)鐘脈沖輸入振蕩器輸出端以形成振蕩器輸出OSCO并依靠將設(shè)定信號(hào)輸入振蕩器輸入端以形成振蕩器輸入OSCI，比較兩者的相位變化，并將前述的相位關(guān)系輸入其它測(cè)試裝置以產(chǎn)生各種測(cè)試模式及模擬聽筒掛上/取下的動(dòng)作；一聽筒掛上/取下模擬電路30，由來自測(cè)試信號(hào)輸出裝置20的測(cè)試信號(hào)TEST啟動(dòng)，并依靠振蕩器輸入OSC工與輸出OSCO間的相位關(guān)系決定聽筒掛上/取下的動(dòng)作；一測(cè)試模式產(chǎn)生電路40，由來自測(cè)試信號(hào)輸出裝置20的測(cè)試信號(hào)TEST啟動(dòng)，并依靠振蕩器輸入OSCI與輸出OSCO間的相位關(guān)系決定各種測(cè)試模式；及一抑制信號(hào)產(chǎn)生電路50，由聽筒取下信號(hào)PWDN啟動(dòng)，經(jīng)過8個(gè)振蕩器周期后，輸出邏輯1的抑制信號(hào)INHIBIT，進(jìn)而使系統(tǒng)不能進(jìn)入測(cè)試模式。
又一種增加撥號(hào)器測(cè)試功能的控制方法，其控制方法如圖1的功能方塊圖所示，是利用已有振蕩器的輸出/輸入裝置10，在不增加輸入管腳且不影響正常操作的情況下，依靠振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO的相位關(guān)系控制測(cè)試信號(hào)輸出裝置20，并配合與信號(hào)HK同步的聽筒取下信號(hào)PWDN，在抑制信號(hào)INHIBIT設(shè)定的振蕩器周期數(shù)內(nèi)使測(cè)試信號(hào)輸出裝置20產(chǎn)生有效測(cè)試信號(hào)TEST，該有效測(cè)試信號(hào)TEST配合振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO的相位變化控制聽筒掛上/取下模擬電路30和測(cè)試模式產(chǎn)生電路40。
現(xiàn)請(qǐng)參照?qǐng)D2所示本發(fā)明增加撥號(hào)器測(cè)試功能的裝置，其包括一測(cè)試信號(hào)輸出裝置20，其可在下列二狀況操作(1)系統(tǒng)正常操作，測(cè)試信號(hào)TEST保持為邏輯0輸出，各測(cè)試裝置均不動(dòng)作；(2)系統(tǒng)欲進(jìn)入測(cè)試模式，須先將聽筒取下，此時(shí)，抑制信號(hào)會(huì)保持電位為邏輯0達(dá)8個(gè)振蕩器周期，此為系統(tǒng)可用以進(jìn)入測(cè)試模式的時(shí)間，之后，抑制信號(hào)INHIBIT提升至邏輯1，系統(tǒng)即被抑制而不能進(jìn)入測(cè)試模式。當(dāng)聽筒又取下后，信號(hào)HK將與聽筒取下信號(hào)PWDN同步由邏輯1變成邏輯0，此時(shí)輸入系統(tǒng)的振蕩器輸入OSCI保持在高電位，并于振蕩器輸出OSCO的第二個(gè)脈沖正沿激發(fā)時(shí)確認(rèn)系統(tǒng)進(jìn)入測(cè)試模式，并使測(cè)試信號(hào)TEST由邏輯0變?yōu)橛行щ娢贿壿?，并反饋回測(cè)試信號(hào)輸出裝置20及振蕩器輸出/輸入裝置10，同時(shí)測(cè)試信號(hào)TEST亦被傳送至其它測(cè)試裝置；而上述動(dòng)作是通過門電路的傳輸組合，經(jīng)觸發(fā)器D1與D2的作用而由觸發(fā)器D2的輸出Q傳送測(cè)試信號(hào)TEST至各裝置。
一振蕩器輸出/輸入裝置10，其可在下列二狀況操作(1)系統(tǒng)正常操作，反饋的測(cè)試信號(hào)TEST為邏輯0，且振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO的相位相反，并經(jīng)內(nèi)部振蕩器線路的反饋產(chǎn)生振蕩，其作用為提供系統(tǒng)時(shí)鐘脈沖；(2)系統(tǒng)欲進(jìn)入測(cè)試模式時(shí)，由外部將系統(tǒng)時(shí)鐘脈沖輸入振蕩器輸出OSCO，并將振蕩器輸入OSCI保持邏輯1直至測(cè)試信號(hào)TEST亦變?yōu)檫壿?，之后，兩者即可依相位的變化控制各測(cè)試裝置使系統(tǒng)模擬聽筒掛上/取下的動(dòng)作或進(jìn)入各種測(cè)試模式。
一聽筒掛上/取下模擬電路30，是由測(cè)試信號(hào)TEST的邏輯1電位啟動(dòng)，通過門電路的傳輸組合，振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO同時(shí)被輸入聽筒掛上/取下模擬電路30以比較其相應(yīng)關(guān)系，并利用觸發(fā)器T1的正相輸出EMUOFF與聽筒取下信號(hào)PWDN共同決定聽筒掛上/取下的模擬動(dòng)作POD。
一測(cè)試模式產(chǎn)生電路40，亦由測(cè)試信號(hào)TRST的邏輯1電位啟動(dòng)，通過門電路的傳輸組合，振蕩器輸入OSCI與振蕩器輸出OSCO的反相輸出OSCO同時(shí)被輸入測(cè)試模式產(chǎn)生電路40以比較其相位關(guān)系，并利用觸發(fā)器D3的輸出Q與反相輸出QB，配合觸發(fā)器D4的輸出Q與反相輸出QB共同決定系統(tǒng)的3種測(cè)試模式如TEST1、TEST2和TEST3。
一抑制信號(hào)產(chǎn)生電路50，是由4個(gè)觸發(fā)器T2、T3、T4及D5串聯(lián)而成，其靠一聽筒取下信號(hào)PWDN啟動(dòng)，振蕩器輸出OSCO則作為觸發(fā)器T2的時(shí)鐘脈沖輸入，用以使觸發(fā)器D5經(jīng)過8個(gè)振蕩器周期后，輸出一邏輯1的抑制信號(hào)INHIBIT，進(jìn)而將該邏輯1的抑制信號(hào)INHIBIT傳送至測(cè)試信號(hào)輸出裝置20，進(jìn)而使系統(tǒng)不能進(jìn)入測(cè)試模式。
現(xiàn)請(qǐng)參照?qǐng)D3，本發(fā)明增加撥號(hào)器測(cè)試功能的控制方法，可利用脈沖時(shí)序圖顯示其步驟如下a.正常操作下，測(cè)試信號(hào)TEST為邏輯0，振蕩器輸入OSCI與輸出OSCO相位相反，并經(jīng)內(nèi)部的反饋產(chǎn)生振蕩，此時(shí)整個(gè)測(cè)試電路并不動(dòng)作。(該步驟未顯示于圖中)b.當(dāng)系統(tǒng)要進(jìn)入測(cè)試模式時(shí)，首先將聽筒取下，即信號(hào)HK由邏輯1變成邏輯0，促使聽筒取下信號(hào)PWDN亦由邏輯1變成邏輯0，另從振蕩器輸出端OSCO中輸入系統(tǒng)時(shí)鐘脈沖，此時(shí)抑制信號(hào)INHIBIT會(huì)保持邏輯0達(dá)8個(gè)振蕩器周期，系統(tǒng)因而可以進(jìn)入測(cè)試模式。(直至抑制信號(hào)INHIBIT變?yōu)檫壿?后，系統(tǒng)即無法進(jìn)入測(cè)試模式)c.此時(shí)將振蕩器輸入OSCI保持在邏輯1電位，則在振蕩器輸出OSCO的第二個(gè)脈沖正沿觸發(fā)時(shí)，觸發(fā)器D2的輸出會(huì)使測(cè)試信號(hào)TEST變?yōu)檫壿?，其后振蕩器輸入OSCI與輸出OSCO保持高阻抗?fàn)顟B(tài)，系統(tǒng)即進(jìn)入測(cè)試模式。
d.當(dāng)振蕩器輸出OSCO為邏輯0時(shí)，在振蕩器輸入OSCI處輸入一個(gè)脈沖，此時(shí)觸發(fā)器T1的正相輸出EMUOFF即由邏輯0變?yōu)檫壿?，系統(tǒng)即模擬聽筒掛上的動(dòng)作。
e.當(dāng)振蕩器輸出OSCO為邏輯1時(shí)，在振蕩器輸入OSCI處輸入一個(gè)脈沖，此時(shí)觸發(fā)器D4的輸出使第一測(cè)試模式TEST1由邏輯0變成邏輯1，系統(tǒng)即執(zhí)行第一測(cè)試模式的功能。
f.重復(fù)e的步驟，此時(shí)觸發(fā)器D3的反相輸出使第二測(cè)試模式TEST2由邏輯0變成邏輯1，系統(tǒng)即執(zhí)行第二測(cè)試模式的功能，而原第一測(cè)試模式TEST1再由邏輯1變成邏輯0，系統(tǒng)自動(dòng)取消其測(cè)試功能，至于其它測(cè)試模式的選擇，則亦依上述動(dòng)作類推。
g.重復(fù)d步驟，觸發(fā)器T1的正相輸出EMUOFF再由邏輯1變?yōu)檫壿?，系統(tǒng)即模擬聽筒取下的動(dòng)作。
綜合上述，由于本發(fā)明是利用在振蕩器輸入/輸出的管腳中輸入有相位關(guān)系的信號(hào)，如此在正常操作下，使用者不會(huì)進(jìn)入測(cè)試模式，并且不需額外增加一測(cè)試管腳也能縮短進(jìn)入各種測(cè)試模式的時(shí)間，此外于測(cè)試模式中，亦可產(chǎn)生其它諸如聽筒掛上/取下模擬動(dòng)作的信號(hào)，故其應(yīng)用更為廣泛，實(shí)用性也較高。
雖然本發(fā)明以較佳實(shí)施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟悉此項(xiàng)技術(shù)者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作些許改進(jìn)，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍當(dāng)視后附的權(quán)利要求所規(guī)定為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種增加撥號(hào)器測(cè)試功能的裝置，其包括一測(cè)試信號(hào)輸出裝置，用以輸出測(cè)試信號(hào)至各裝置及其它測(cè)試電路，并決定系統(tǒng)是否進(jìn)入測(cè)試模式；一振蕩器輸出/輸入裝置，當(dāng)系統(tǒng)維持正常操作，振蕩器輸出/輸入裝置的功能是提供系統(tǒng)時(shí)鐘脈沖，若系統(tǒng)欲進(jìn)入測(cè)試模式，則由外部將系統(tǒng)時(shí)鐘脈沖輸入振蕩器輸出管腳，并將設(shè)定信號(hào)輸入振蕩器輸入管腳，比較兩者的相位變化，并將前述的相位關(guān)系分別傳送至測(cè)試信號(hào)輸出裝置及其它測(cè)試電路，用以使測(cè)試信號(hào)輸出裝置輸出有效的測(cè)試信號(hào)，并使系統(tǒng)執(zhí)行各種測(cè)試模式及模擬聽筒掛上/取下的動(dòng)作；一聽筒掛上/取下模擬電路，其中該電路由測(cè)試信號(hào)啟動(dòng)，并依靠振蕩器的輸入與輸出的相位關(guān)系決定聽筒掛上/取下的模擬動(dòng)作；一測(cè)試模式產(chǎn)生電路，其中該電路由測(cè)試信號(hào)啟動(dòng)，并依靠振蕩器的輸入與輸出的相位關(guān)系決定各種測(cè)試模式；及一抑制信號(hào)產(chǎn)生電路，其由聽筒取下信號(hào)啟動(dòng)，該電路用以決定系統(tǒng)進(jìn)入測(cè)試模式的時(shí)間長短。
2.如權(quán)利要求1所述的增加撥號(hào)器測(cè)試功能的裝置，其中測(cè)試信號(hào)輸出裝置包括多個(gè)邏輯門，用以處理輸入信號(hào)的組合(1)抑制信號(hào)，決定系統(tǒng)可進(jìn)入測(cè)試模式的振蕩器周期數(shù)；(2)振蕩器輸入，作為觸發(fā)器的輸入信號(hào)；(3)振蕩器輸出，作為觸發(fā)器的時(shí)鐘脈沖；(4)反饋的測(cè)試信號(hào)，使系統(tǒng)確定是否持續(xù)執(zhí)行測(cè)試模式；及多個(gè)反相器，其連結(jié)有多個(gè)邏輯門，并藉此將輸入的信號(hào)組合以控制多個(gè)觸發(fā)器，而測(cè)試信號(hào)則由最后一級(jí)觸發(fā)器的輸出產(chǎn)生。
3.如權(quán)利要求1所述的增加撥號(hào)器測(cè)試功能的裝置，其中聽筒掛上/取下模擬電路包括多個(gè)邏輯門，用以處理振蕩器輸入與輸出間的相位關(guān)系；及一觸發(fā)器，其連結(jié)多個(gè)邏輯門且由測(cè)試信號(hào)啟動(dòng)，配合上述的相位關(guān)系決定觸發(fā)器的輸出，此輸出同時(shí)與聽筒取下信號(hào)比較以決定聽筒掛上/取下的模擬動(dòng)作。
4.如權(quán)利要求1所述的增加撥號(hào)器測(cè)試功能的裝置，其中測(cè)試模式產(chǎn)生電路包括多個(gè)邏輯門，用以處理振蕩器輸入與輸出間的相位關(guān)系；及多個(gè)觸發(fā)器，其連結(jié)多個(gè)邏輯門且由測(cè)試信號(hào)啟動(dòng)，配合上述的相位關(guān)系決定多個(gè)觸發(fā)器的各輸出端的輸出，并由各輸出的組合決定各種測(cè)試模式。
5.如權(quán)利要求1所述的增加撥號(hào)器測(cè)試功能的裝置，其中，抑制信號(hào)產(chǎn)生電路由多個(gè)觸發(fā)器串聯(lián)而成，振蕩器輸出則為抑制信號(hào)產(chǎn)生電路的時(shí)鐘脈沖輸入，用以使觸發(fā)器能在多個(gè)振蕩器周期后，輸出一抑制信號(hào)至測(cè)試信號(hào)輸出裝置，進(jìn)而使系統(tǒng)不能進(jìn)入測(cè)試模式。
6.一種增加撥號(hào)器測(cè)試功能的控制方法，是利用一已有的振蕩器輸出/輸入裝置，來產(chǎn)生各種測(cè)試模式及聽筒掛上/取下的模擬動(dòng)作，其包括如下步驟(1)在聽筒取下后，從振蕩器輸出端輸入系統(tǒng)時(shí)鐘脈沖，并將振蕩器輸入端接至第一電位，經(jīng)過數(shù)個(gè)振蕩器周期后，系統(tǒng)即確認(rèn)進(jìn)入測(cè)試模式；(2)進(jìn)入測(cè)試模式后，在振蕩器輸出端為第二電位時(shí)，從振蕩器輸入端輸入一脈沖，使系統(tǒng)模擬聽筒掛上/取下動(dòng)作；(3)進(jìn)入測(cè)試模式后，在振蕩器輸出端為第一電位時(shí)，從振蕩器輸入端輸入一脈沖，系統(tǒng)即執(zhí)行設(shè)定的測(cè)試模式。
7.如權(quán)利要求6所述的增加撥號(hào)器測(cè)試功能的控制方法，其中第一電位是指高電位，而第二電位是指低電位。
8.一種增加撥號(hào)器測(cè)試功能的控制方法，包括如下步驟(1)正常操作下，測(cè)試信號(hào)為邏輯0，振蕩器輸入與輸出相位相反，并經(jīng)內(nèi)部的反饋產(chǎn)生振蕩，此時(shí)整個(gè)測(cè)試電路并不動(dòng)作。(2)當(dāng)系統(tǒng)要進(jìn)入測(cè)試模式時(shí)，首先將聽筒取下，即信號(hào)由邏輯1變成邏輯0，并從振蕩器輸出端中輸入系統(tǒng)時(shí)鐘脈沖，此時(shí)抑制信號(hào)會(huì)保持邏輯0達(dá)8個(gè)振蕩器周期，使系統(tǒng)可以進(jìn)入各種測(cè)試模式。(直至抑制信號(hào)變?yōu)檫壿?，系統(tǒng)即無法進(jìn)入測(cè)試模式)(3)此時(shí)將振蕩器輸入保持在邏輯1電位，則在振蕩器輸出的第二個(gè)脈沖正沿觸發(fā)時(shí)，測(cè)試信號(hào)輸出裝置的觸發(fā)器的輸出會(huì)使測(cè)試信號(hào)變?yōu)檫壿?，其后振蕩器的輸入與輸出保持高阻抗?fàn)顟B(tài)，系統(tǒng)即進(jìn)入測(cè)試模式。(4)當(dāng)振蕩器輸出為邏輯0時(shí)，在振蕩器輸入端輸入一個(gè)脈沖，此時(shí)聽筒掛上/取下模擬電路的觸發(fā)器的反相輸出隨之由邏輯0變?yōu)檫壿?，系統(tǒng)即模擬聽筒掛上的動(dòng)作。(5)當(dāng)振蕩器輸出為邏輯1時(shí)，在振蕩器輸入端輸入一個(gè)脈沖，此時(shí)測(cè)試模式產(chǎn)生電路的觸發(fā)器的輸出使第一測(cè)試模式由邏輯0變成邏輯1，系統(tǒng)即執(zhí)行第一測(cè)試模式的功能。(6)重復(fù)(5)的步驟，此時(shí)測(cè)試模式產(chǎn)生電路的觸發(fā)器的反相輸出使第二測(cè)試模式由邏輯0變成邏輯1，系統(tǒng)即執(zhí)行第二測(cè)試模式的功能，而原第一測(cè)試模式再由邏輯1變成邏輯0，系統(tǒng)因而自動(dòng)取消第一測(cè)試模式的測(cè)試功能，至于其它測(cè)試模式的選擇，則亦依上述動(dòng)作類推。(7)重復(fù)步驟(4)，此時(shí)聽筒掛上/取下模擬電路的觸發(fā)器的反相輸出再由邏輯1變?yōu)檫壿?，系統(tǒng)即模擬聽筒取下的動(dòng)作。
全文摘要
一種增加撥號(hào)器測(cè)試功能的裝置，包括測(cè)試信號(hào)輸出和振蕩器輸出/輸入裝置；聽筒掛上/取下模擬、測(cè)試模式產(chǎn)生及抑制信號(hào)產(chǎn)生電路。一種增加撥號(hào)器測(cè)試功能的控制方法為在聽筒取下后，將系統(tǒng)時(shí)鐘脈沖輸入振蕩器輸出端并將振蕩器輸入端接至高電位，經(jīng)過數(shù)個(gè)振蕩器周期后進(jìn)入測(cè)試模式；振蕩器輸出低電位時(shí)，從振蕩器輸入端輸入一脈沖，系統(tǒng)模擬聽筒掛上/取下；振蕩器輸出高電位時(shí)，從振蕩器輸入端輸入一脈沖，系統(tǒng)進(jìn)行下一測(cè)試模式。
文檔編號(hào)H04M1/26GK1125372SQ9411353
公開日1996年6月26日 申請(qǐng)日期1994年12月27日 優(yōu)先權(quán)日1994年12月27日
發(fā)明者吳其昌, 劉祖俊 申請(qǐng)人:聯(lián)華電子股份有限公司