本技術涉及射頻傳導，尤其涉及一種信號傳導干擾的檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質(zhì)。

背景技術：

1、傳導干擾普遍存在于電子設備中，干擾可以通過電源線、信號線、接地線等物理連接在電路之間傳遞，對電子設備的正常工作和性能造成不利影響，可能導致電子設備出現(xiàn)性能下降、通信故障甚至系統(tǒng)癱瘓的問題。

2、為了解決電子設備中的傳導干擾問題，首先需要對信號傳導干擾進行檢測，確定干擾路徑和干擾源。目前，對信號傳導干擾進行檢測的常用方法是手動焊接測試點，檢測出現(xiàn)靈敏度衰退的異常點，再逐步排除周圍的電路和元件，以確定干擾的具體路徑和來源。

3、但上述對信號傳導干擾進行檢測的方法不僅耗時，準確性也較低。

技術實現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本技術提供了一種信號傳導干擾的檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質(zhì)，以提高對信號傳導干擾進行檢測的效率和準確性。

2、為了實現(xiàn)上述目的，本技術實施例提供技術方案如下：

3、第一方面，本技術實施例提供一種信號傳導干擾的檢測方法，所述方法包括：

4、判斷電子設備是否受到傳導干擾；

5、若確定所述電子設備受到傳導干擾，則獲取所述電子設備的射頻通路中多條子射頻通路各自的接收端對應的接收信號參數(shù)；其中，所述射頻通路中設置有多個通路開關，所述多個通路開關用于控制形成所述多條子射頻通路；

6、根據(jù)所述子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的發(fā)射信號參數(shù)，在所述射頻通路中確定傳導干擾源的位置。

7、在一些實施例中，所述判斷電子設備是否受到傳導干擾，包括：

8、所述電子設備受到電磁干擾時，控制用于連接所述射頻通路中天線接收端的所述通路開關斷開，其它所述通路開關閉合，形成第一子射頻通路；

9、判斷所述第一子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)是否處于異常狀態(tài)；

10、若是，則確定所述電子設備受到傳導干擾。

11、在一些實施例中，所述獲取所述電子設備的射頻通路中多條子射頻通路各自的接收端對應的接收信號參數(shù)，包括：

12、以所述射頻通路中靠近天線接收端的通路開關為起始開關進行斷開處理，并獲取形成的相應子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)；

13、以距離所述天線接收端由近及遠的順序依次斷開所述多個通路開關，每斷開一個所述通路開關時，獲取相應子射頻通路接收端對應的接收信號參數(shù)。

14、在一些實施例中，所述根據(jù)所述子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的發(fā)射信號參數(shù)，在所述射頻通路中確定傳導干擾源的位置，包括：

15、通過比較各所述子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的發(fā)射信號參數(shù)，確定所述接收信號參數(shù)首次處于正常狀態(tài)時對應的第二子射頻通路；

16、將控制所述第二子射頻通路的通路開關作為第一異常位置點，將控制所述第二子射頻通路的通路開關之前的通路開關作為第二異常位置點，確定傳導干擾源處于所述第一異常位置點與所述第二異常位置點之間。

17、在一些實施例中，所述通過比較各所述子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的發(fā)射信號參數(shù)，確定所述接收信號參數(shù)首次處于正常狀態(tài)時對應的第二子射頻通路，包括：

18、采集所述子射頻通路的接收端對應的接收信號，對所述接收信號進行預處理，將預處理后的所述接收信號解析成對應的接收信號電平值；

19、通過將所述接收信號電平值與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的發(fā)射信號電平值比較，確定所述接收信號參數(shù)首次處于正常狀態(tài)時對應的第二子射頻通路。

20、在一些實施例中，所述通過比較各所述子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的發(fā)射信號參數(shù)，確定所述接收信號參數(shù)首次處于正常狀態(tài)時對應的第二子射頻通路，包括：

21、采集所述子射頻通路的接收端對應的接收信號，對所述接收信號進行預處理，將預處理后的所述接收信號解析成對應的特征參數(shù)，所述特征參數(shù)包括：頻率、幅度、相位中的至少一個；

22、通過將所述特征參數(shù)與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的特征參數(shù)比較，確定所述特征參數(shù)首次處于正常狀態(tài)時對應的第二子射頻通路。

23、在一些實施例中，所述方法還包括：

24、確定所述射頻通路中的目標通路段，以及確定所述目標通路段前端的第一通路開關，和所述目標通路段后端的第二通路開關；

25、比較所述第一通路開關控制的子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的發(fā)射信號參數(shù)，以及比較所述第二通路開關控制的子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的發(fā)射信號參數(shù)；

26、若所述第二通路開關控制的子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)處于異常狀態(tài)，且所述第一通路開關控制的子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)處于正常狀態(tài)，則確定所述目標通路段存在傳導干擾源。

27、第二方面，本技術實施例提供了一種信號傳導干擾的檢測裝置，包括：

28、干擾判斷模塊，用于判斷電子設備是否受到傳導干擾；

29、信號獲取模塊，用于若確定所述電子設備受到傳導干擾，則獲取所述電子設備的射頻通路中多條子射頻通路各自的接收端對應的接收信號參數(shù)；其中，所述射頻通路中設置有多個通路開關，所述多個通路開關用于控制形成所述多條子射頻通路；

30、信號處理模塊，用于根據(jù)所述子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的發(fā)射信號參數(shù)，在所述射頻通路中確定傳導干擾源的位置。

31、在一些實施例中，所述干擾判斷模塊具體用于：所述電子設備受到電磁干擾時，控制用于連接所述射頻通路中天線接收端的所述通路開關斷開，其它所述通路開關閉合，形成第一子射頻通路；

32、判斷所述第一子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)是否處于異常狀態(tài)；若是，則確定所述電子設備受到傳導干擾。

33、在一些實施例中，所述信號獲取模塊具體用于：以所述射頻通路中靠近天線接收端的通路開關為起始開關進行斷開處理，并獲取形成的相應子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)；

34、以距離所述天線接收端由近及遠的順序依次斷開所述多個通路開關，每斷開一個所述通路開關時，獲取相應子射頻通路接收端對應的接收信號參數(shù)。

35、在一些實施例中，所述信號處理模塊具體用于：通過比較各所述子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的發(fā)射信號參數(shù)，確定所述接收信號參數(shù)首次處于正常狀態(tài)時對應的第二子射頻通路；

36、將控制所述第二子射頻通路的通路開關作為第一異常位置點，將控制所述第二子射頻通路的通路開關之前的通路開關作為第二異常位置點，確定傳導干擾源處于所述第一異常位置點與所述第二異常位置點之間。

37、在一些實施例中，信號處理模塊，具體用于：采集所述子射頻通路的接收端對應的接收信號，對所述接收信號進行預處理，將預處理后的所述接收信號解析成對應的接收信號電平值；

38、通過將所述接收信號電平值與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的發(fā)射信號電平值比較，確定所述接收信號參數(shù)首次處于正常狀態(tài)時對應的第二子射頻通路。

39、在一些實施例中，所述信號處理模塊，具體用于：采集所述子射頻通路的接收端對應的接收信號，對所述接收信號進行預處理，將預處理后的所述接收信號解析成對應的特征參數(shù)，所述特征參數(shù)包括：頻率、幅度、相位中的至少一個；

40、通過將所述特征參數(shù)與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的特征參數(shù)比較，確定所述特征參數(shù)首次處于正常狀態(tài)時對應的第二子射頻通路。

41、在一些實施例中，所述信號處理模塊還用于：確定所述射頻通路中的目標通路段，以及確定所述目標通路段前端的第一通路開關，和所述目標通路段后端的第二通路開關；

42、比較所述第一通路開關控制的子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的發(fā)射信號參數(shù)，以及比較所述第二通路開關控制的子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的發(fā)射信號參數(shù)；

43、若所述第二通路開關控制的子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)處于異常狀態(tài)，且所述第一通路開關控制的子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)處于正常狀態(tài)，則確定所述目標通路段存在傳導干擾源。

44、第三方面，本技術實施例提供了一種電子設備，包括：存儲器和處理器，存儲器用于存儲計算機程序；處理器用于在調(diào)用計算機程序時執(zhí)行第一方面或第一方面任一種可選的實施方式所述的信號傳導干擾的檢測方法的步驟。

45、第四方面，本技術實施例提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機程序，計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)第一方面或第一方面任一種可選的實施方式所述的信號傳導干擾的檢測方法的步驟。

46、本技術實施例提供的信號傳導干擾的檢測方法、裝置、電子設備及存儲介質(zhì)，該方法包括：判斷電子設備是否受到傳導干擾；若確定所述電子設備受到傳導干擾，則獲取所述電子設備的射頻通路中多條子射頻通路各自的接收端對應的接收信號參數(shù)；其中，所述射頻通路中設置有多個通路開關，所述多個通路開關用于控制形成所述多條子射頻通路；根據(jù)所述子射頻通路的接收端對應的接收信號參數(shù)與所述射頻通路的信號發(fā)射端對應的發(fā)射信號參數(shù)，在所述射頻通路中確定傳導干擾源的位置。在本技術實施例中，射頻通路中設置有多個通路開關進行控制，無需進行手動設置監(jiān)測點，節(jié)省了檢測時間，提高了檢測效率。多個通路開關可控制形成多條子射頻通路，由此可實現(xiàn)對射頻通路進行分段測試的目的，提高了對傳導干擾源進行定位的準確性。