本發(fā)明涉及天線測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法及裝置。

背景技術(shù)：

天線陣列是多個(gè)通道的集合。相控陣天線作為一種常見(jiàn)的天線陣列，其內(nèi)部的每個(gè)通道均可單獨(dú)控制。同時(shí)相控陣天線由于其強(qiáng)大的波束電掃功能，靈活且可現(xiàn)場(chǎng)更新的波束賦形能力，正在各個(gè)領(lǐng)域開(kāi)始取代固定波束陣列天線。相控陣天線一般由幾十、幾百甚至更多的幅度、相位可控通道組成，系統(tǒng)復(fù)雜。相控陣天線由于不同通道之間的材料、器件、電路生產(chǎn)工藝等原因，射頻傳輸系數(shù)會(huì)存在差異。該差異會(huì)降低不同通道在遠(yuǎn)場(chǎng)的合成效率，惡化副瓣，降低天線性能。所以通道誤差校準(zhǔn)是相控陣天線調(diào)試階段的一項(xiàng)重要工作。

現(xiàn)有的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試一般采用口徑場(chǎng)校準(zhǔn)法，通過(guò)測(cè)試天線輻射的口徑場(chǎng)或測(cè)試近場(chǎng)后再反演到口徑場(chǎng)進(jìn)行校準(zhǔn)。采用口徑場(chǎng)校準(zhǔn)法測(cè)試時(shí)，探頭與天線距離在1個(gè)波長(zhǎng)以內(nèi)，利用伺服系統(tǒng)，驅(qū)動(dòng)探頭遍歷測(cè)試每個(gè)通道輻射數(shù)據(jù)，作為通道誤差原始數(shù)據(jù)，用于校準(zhǔn)。

但是，采用口徑場(chǎng)校準(zhǔn)法無(wú)法消除通道耦合的問(wèn)題，進(jìn)而造成校準(zhǔn)收斂困難，影響測(cè)試結(jié)果的參考價(jià)值。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

基于此，有必要針對(duì)現(xiàn)有的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法無(wú)法消除通道耦合，造成校準(zhǔn)收斂困難的問(wèn)題，提供一種相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法及裝置。

本發(fā)明所提供的技術(shù)方案如下：

一種相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法，包括步驟：

若探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，關(guān)閉除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道。

通過(guò)所述探頭獲取相控陣天線的測(cè)試數(shù)據(jù)。

一種相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試裝置，包括：

通道控制模塊，用于在探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，關(guān)閉除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道。

數(shù)據(jù)獲取模塊，用于通過(guò)所述探頭獲取相控陣天線的測(cè)試數(shù)據(jù)。

一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序程序時(shí)實(shí)現(xiàn)所述相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法的步驟。

一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)所述相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法的步驟。

本發(fā)明所提供的相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法及裝置，在對(duì)相控陣天線中的各個(gè)通道進(jìn)行測(cè)試時(shí)，通過(guò)對(duì)各個(gè)通道的控制，消除通道耦合的能量，提高對(duì)相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試精度和收斂速度。

附圖說(shuō)明

圖1為相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法流程圖；

圖2為通道控制示意圖；

圖3為一優(yōu)選實(shí)施例的相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法流程圖；

圖4為探頭運(yùn)行示意圖；

圖5為相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試裝置模塊結(jié)構(gòu)圖；

圖6為一優(yōu)選實(shí)施例的相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試裝置模塊結(jié)構(gòu)圖。

具體實(shí)施方式

為了更好地理解本發(fā)明的目的、技術(shù)方案以及技術(shù)效果，以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步的講解說(shuō)明。同時(shí)聲明，以下所描述的實(shí)施例僅用于解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。

在一實(shí)施例中，如圖1所示，為相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法流程圖，包括步驟：

s101，若探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，關(guān)閉除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道。

其中，所述相控陣天線包括一個(gè)或多個(gè)通道。所述探頭在各個(gè)通道的采樣點(diǎn)間運(yùn)行，在運(yùn)行至任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，優(yōu)選地，所述探頭停留在所述采樣點(diǎn)預(yù)設(shè)時(shí)間段。所述探頭在所述任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，關(guān)閉除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道。如圖2所示，為通道控制示意圖，在所述探頭運(yùn)行至通道b的采樣點(diǎn)b時(shí)，關(guān)閉除通道b以外的全部通道，即通道a與通道c。同理，若所述探頭運(yùn)行至通道a的采樣點(diǎn)a時(shí)，關(guān)閉除通道a以外的全部通道，即通道b與通道c。

在本具體實(shí)施例中，所述探頭選用相控陣天線伺服系統(tǒng)的近場(chǎng)探頭。通道天線伺服系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)近場(chǎng)探頭的運(yùn)行至任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)。其中，可以根據(jù)不同近場(chǎng)探頭的類型，改變所述采樣點(diǎn)的位置，即所述探頭對(duì)相控陣天線進(jìn)行測(cè)試數(shù)據(jù)采樣的位置。在本具體實(shí)施例中，所述各通道的采樣點(diǎn)為各通道的相位中心。

s102，通過(guò)所述探頭獲取相控陣天線的測(cè)試數(shù)據(jù)。

在所述探頭運(yùn)行至所述任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，控制探頭在采樣點(diǎn)的位置獲取測(cè)試數(shù)據(jù)。在本具體實(shí)施例中，通過(guò)所述探頭獲取發(fā)射數(shù)據(jù)，根據(jù)所述發(fā)射數(shù)據(jù)獲取測(cè)試數(shù)據(jù)。其中，所述發(fā)射數(shù)據(jù)為所述任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)的輻射數(shù)據(jù)，即通過(guò)所述探頭在所述任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)獲取所在位置的輻射數(shù)據(jù)。

本實(shí)施例所提供的相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法，在所述探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，關(guān)閉除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道，通過(guò)所述探頭在所述任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)獲取測(cè)試數(shù)據(jù)。通過(guò)關(guān)閉所述任意一個(gè)通道以外的全部通道，防止除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道與所述任意一個(gè)通道產(chǎn)生通道耦合，基于此消除通道耦合的能量，提高對(duì)相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試精度和收斂速度。

優(yōu)選地，如圖3所示，為一優(yōu)選實(shí)施例的相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法流程圖，還包括步驟：

s103，若所述探頭未運(yùn)行至所述相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，開(kāi)通所述相控陣天線的全部通道。

通過(guò)檢測(cè)所述探頭的位置，若所述探頭未處于所述相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，開(kāi)通所述相控陣天線的全部通道。如圖4所示，為探頭運(yùn)行示意圖，在所述探頭未運(yùn)行至所述相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，即探頭未處于采樣點(diǎn)a、采樣點(diǎn)b或采樣點(diǎn)c時(shí)，開(kāi)通全部通道，即開(kāi)通通道a、通道b與通道c。通過(guò)所述相控陣天線的開(kāi)通全部通道，保持通道的溫度特性不變，使所述探頭在所述采樣點(diǎn)上獲取測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)相控陣天線的測(cè)試環(huán)境接近正常工作環(huán)境，以提高測(cè)試結(jié)果的參考價(jià)值。

優(yōu)選地，如圖3所示，為一優(yōu)選實(shí)施例的相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法流程圖，在所述探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí),還包括步驟:

s104，將除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道的接收狀態(tài)調(diào)整為匹配狀態(tài)。

在所述探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，將除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道的接收狀態(tài)調(diào)整為匹配狀態(tài)。使所述任意一個(gè)通道的輻射邊界條件接近相控陣天線在正常工作條件，以提高測(cè)試結(jié)果的參考價(jià)值。

優(yōu)選地，如圖3所示，為一優(yōu)選實(shí)施例的相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法流程圖，還包括步驟：

s105，驅(qū)動(dòng)所述探頭運(yùn)行至所述相控陣天線的各個(gè)通道的采樣點(diǎn)。

通過(guò)驅(qū)動(dòng)所述探頭運(yùn)行至所述相控陣天線的各個(gè)通道的采樣點(diǎn)，以獲取相控陣天線中全部通道的測(cè)試數(shù)據(jù)，以完成對(duì)所述相控陣天線的全面測(cè)試。

在一實(shí)施例中，如圖5所示，為相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試裝置模塊結(jié)構(gòu)圖，包括：

通道控制模塊201，用于在探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，關(guān)閉除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道；

數(shù)據(jù)獲取模塊202，用于通過(guò)所述探頭獲取相控陣天線的測(cè)試數(shù)據(jù)。

本實(shí)施例所提供的相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試裝置，在所述探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，關(guān)閉除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道，通過(guò)所述探頭在所述任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)獲取測(cè)試數(shù)據(jù)。通過(guò)關(guān)閉所述任意一個(gè)通道以外的全部通道，防止除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道與所述任意一個(gè)通道產(chǎn)生通道耦合，基于此消除通道耦合的能量，提高對(duì)相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試精度和收斂速度。

優(yōu)選地，如圖6所示，為一優(yōu)選實(shí)施例的相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試裝置模塊結(jié)構(gòu)，所述相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試裝置還包括：

通道開(kāi)通模塊203，用于在所述探頭未運(yùn)行至所述相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，開(kāi)通所述相控陣天線的全部通道。

通過(guò)開(kāi)通所述相控陣天線的全部通道，保持通道的溫度特性不變，使所述探頭在所述采樣點(diǎn)上獲取測(cè)試數(shù)據(jù)時(shí)相控陣天線的測(cè)試環(huán)境接近正常工作環(huán)境，以提高測(cè)試結(jié)果的參考價(jià)值。

優(yōu)選地，如圖6所示，為一優(yōu)選實(shí)施例的相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試裝置模塊結(jié)構(gòu)，所述相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試裝置還包括：

通道調(diào)整模塊204，用于在所述探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，將除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道的接收狀態(tài)調(diào)整為匹配狀態(tài)。

通過(guò)將除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道的接收狀態(tài)調(diào)整為匹配狀態(tài)，使所述任意一個(gè)通道的輻射邊界條件接近相控陣天線的正常工作條件，以提高測(cè)試結(jié)果的參考價(jià)值。

優(yōu)選地，如圖6所示，為一優(yōu)選實(shí)施例的相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試裝置模塊結(jié)構(gòu)，所述相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試裝置還包括：

探頭驅(qū)動(dòng)模塊205，用于驅(qū)動(dòng)所述探頭運(yùn)行至所述相控陣天線的各個(gè)通道的采樣點(diǎn)。

通過(guò)驅(qū)動(dòng)所述探頭運(yùn)行至所述相控陣天線的各個(gè)通道的采樣點(diǎn)，以獲取相控陣天線中全部通道的測(cè)試數(shù)據(jù)，以完成對(duì)所述相控陣天線的全面測(cè)試。

在一實(shí)施例中，提供了一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序程序時(shí)被配置為：

若探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，關(guān)閉除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道。

通過(guò)所述探頭獲取相控陣天線的測(cè)試數(shù)據(jù)。

本實(shí)施例所提供的計(jì)算機(jī)設(shè)備，在所述探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，關(guān)閉除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道，通過(guò)所述探頭在所述任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)獲取測(cè)試數(shù)據(jù)。通過(guò)關(guān)閉所述任意一個(gè)通道以外的全部通道，防止除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道與所述任意一個(gè)通道產(chǎn)生通道耦合，基于此消除通道耦合的能量，提高對(duì)相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試精度和收斂速度。

在一實(shí)施例中，提供了一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)所述相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試方法的步驟。

本實(shí)施例所提供的計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，在所述探頭運(yùn)行至相控陣天線中任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)時(shí)，關(guān)閉除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道，通過(guò)所述探頭在所述任意一個(gè)通道的采樣點(diǎn)獲取測(cè)試數(shù)據(jù)。通過(guò)關(guān)閉所述任意一個(gè)通道以外的全部通道，防止除所述任意一個(gè)通道以外的全部通道與所述任意一個(gè)通道產(chǎn)生通道耦合，基于此消除通道耦合的能量，提高對(duì)相控陣天線的近場(chǎng)校準(zhǔn)測(cè)試精度和收斂速度。

以上所述實(shí)施例的各技術(shù)特征可以進(jìn)行任意的組合，為使描述簡(jiǎn)潔，未對(duì)上述實(shí)施例中的各個(gè)技術(shù)特征所有可能的組合都進(jìn)行描述，然而，只要這些技術(shù)特征的組合不存在矛盾，都應(yīng)當(dāng)認(rèn)為是本說(shuō)明書記載的范圍。

以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此，本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。