本申請(qǐng)涉及以太網(wǎng)供電技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種受電設(shè)備和poe系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

poe(poweroverethernet)指的是在現(xiàn)有的以太網(wǎng)cat.5布線基礎(chǔ)架構(gòu)不作任何改動(dòng)的情況下，在為一些基于ip的終端(如ip電話機(jī)、無線局域網(wǎng)接入點(diǎn)ap、網(wǎng)絡(luò)攝像機(jī)等)傳輸數(shù)據(jù)信號(hào)的同時(shí)，還能為此類設(shè)備提供直流供電的技術(shù)。poe技術(shù)能在確?，F(xiàn)有結(jié)構(gòu)化布線安全的同時(shí)保證現(xiàn)有網(wǎng)絡(luò)的正常運(yùn)作，最大限度地降低成本。其中，利用poe技術(shù)的供電系統(tǒng)可以包括供電設(shè)備(powersourcerequirement，pse)和受電設(shè)備(powereddevice，pd)。pse設(shè)備是為以太網(wǎng)客戶端設(shè)備供電的設(shè)備，同時(shí)也是整個(gè)poe以太網(wǎng)供電過程的管理者，而pd設(shè)備是接受供電的pse負(fù)載，即poe系統(tǒng)的客戶端設(shè)備，如ip電話、網(wǎng)絡(luò)安全攝像機(jī)、ap及掌上電腦(pda)或移動(dòng)電話充電器等許多其他以太網(wǎng)設(shè)備。兩者建立有關(guān)受電端設(shè)備pd的連接情況、設(shè)備類型、功耗級(jí)別等方面的信息聯(lián)系，并pse以此為根據(jù)通過以太網(wǎng)向pd供電。

通常，一個(gè)供電設(shè)備可以為一個(gè)或多個(gè)受電設(shè)備供電，隨著技術(shù)發(fā)展，受電設(shè)備種類逐漸增加，一些受電設(shè)備對(duì)功率需求較大，一個(gè)供電設(shè)備提供的功率可能無法滿足該受電設(shè)備的需求，需要至少兩個(gè)供電設(shè)備連接該受電設(shè)備。當(dāng)前如何使至少兩個(gè)供電設(shè)備成功檢測(cè)到受電設(shè)備，成為本領(lǐng)域技術(shù)人員積極研究的課題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種受電設(shè)備和poe設(shè)備。能夠避免漏電流干擾，使供電設(shè)備能夠成功檢測(cè)到受電設(shè)備。

第一方面，提供了一種受電設(shè)備，包括通信接口、受電系統(tǒng)、開關(guān)系統(tǒng)和負(fù)載系統(tǒng)；其中，所述通信接口連接所述受電系統(tǒng)的一端，所述受電系統(tǒng)的另一端連接所述開關(guān)系統(tǒng)的一端，所述開關(guān)系統(tǒng)的另一端連接所述負(fù)載系統(tǒng)；所述通信接口用于通過網(wǎng)線與外部供電設(shè)備通信；所述受電系統(tǒng)用于在檢測(cè)階段通過所述通信接口接收對(duì)應(yīng)的外部供電設(shè)備的檢測(cè)電流，并在所述測(cè)試階段通過所述通信接口向所述對(duì)應(yīng)的外部供電設(shè)備反饋針對(duì)所述檢測(cè)電流的回路電流；所述開關(guān)系統(tǒng)用于在所述檢測(cè)階段保持開關(guān)狀態(tài)為斷開狀態(tài)；所述負(fù)載系統(tǒng)用于在所述檢測(cè)階段休眠。

結(jié)合第一方面，在一些可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述開關(guān)系統(tǒng)包括驅(qū)動(dòng)單元和開關(guān)單元，所述驅(qū)動(dòng)單元和所述開關(guān)單元連接；所述驅(qū)動(dòng)單元用于在所述檢測(cè)階段后的第一時(shí)間段的結(jié)束時(shí)間驅(qū)動(dòng)所述開關(guān)單元的開關(guān)狀態(tài)為閉合狀態(tài)；所述開關(guān)單元用于在所述檢測(cè)階段保持開關(guān)狀態(tài)為斷開狀態(tài)。

結(jié)合第一方面，在一些可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述驅(qū)動(dòng)單元包括第一電阻、第二電阻、電容、穩(wěn)壓二極管；其中，所述第一電阻的一端連接所述受電系統(tǒng)，所述第一電阻的另一端連接所述第二電阻的一端，所述第二電阻的另一端與所述開關(guān)單元連接，所述電容、所述穩(wěn)壓二極管與所述第二電阻并聯(lián)，所述穩(wěn)壓二極管的負(fù)極連接所述第二電阻的一端，所述穩(wěn)壓二極管的正極連接所述第二電阻的另一端。

結(jié)合第一方面，在一些可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述開關(guān)單元包括第一mos三極管；其中，所述第一mos三極管的g極連接所述第二電阻的另一端。

結(jié)合第一方面，在一些可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第一電阻的阻值和所述電容的電容值是根據(jù)所述第一時(shí)間段確定的，所述第一時(shí)間段的時(shí)長(zhǎng)不大于300ms。

結(jié)合第一方面，在一些可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第一電阻的阻值為300kω，所述電容的電容值為200μf。

結(jié)合第一方面，在一些可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第一電阻的阻值為150kω，所述電容的電容值為400μf。

結(jié)合第一方面，在一些可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述第一電阻的阻值為200kω，所述電容的電容值為300μf。

結(jié)合第一方面，在一些可能的實(shí)現(xiàn)方式中，所述受電系統(tǒng)的受電單元包括受電芯片、第二mos三極管、第一二極管、第二二極管、第三二極管和第三電阻；其中，所述第一二極管的正極連接所述受電系統(tǒng)的一端，所述第一二極管的負(fù)極連接所述mos三極管的s極，所述第二mos三級(jí)管的d極連接所述第三二極管的正極，所述第三二極管的負(fù)極連接所述開關(guān)系統(tǒng)，所述第二二極管的正極連接所述mos三極管的s極，所述第二二極管的負(fù)極連接所述第二mos三極管的d極，所述第二mos三極管的g級(jí)連接受電芯片的一個(gè)引腳，所述受電芯片的另一個(gè)引腳連接所述第三電阻的一端，所述第三電阻的另一端連接通信接口。

第二方面，提供了一種poe系統(tǒng)，包括：電源、至少兩個(gè)供電設(shè)備和受電設(shè)備；其中，所述電源分別于所述至少兩個(gè)供電設(shè)備連接，所述至少兩個(gè)供電設(shè)備連接所述受電設(shè)備；所述供電電源用于為所述至少兩個(gè)供電設(shè)備提供電源；所述至少兩個(gè)供電設(shè)備用于在測(cè)試階段向所述受電設(shè)備各自發(fā)送測(cè)試電流，并在所述測(cè)試階段各自接收所述受電設(shè)備反饋的回路電流；所述受電設(shè)備包括第一方面中的任意一種受電設(shè)備。

本申請(qǐng)實(shí)施例中，受電設(shè)備包括開關(guān)系統(tǒng)，控制開關(guān)系統(tǒng)在檢測(cè)階段保持開關(guān)狀態(tài)為斷開狀態(tài)，可以防止受電單元中產(chǎn)生的漏電流通過負(fù)載進(jìn)行相互干擾，進(jìn)而能夠使供電設(shè)備根據(jù)對(duì)應(yīng)受電單元反饋的回路電流成功檢測(cè)受電設(shè)備，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)握手成功。

附圖說明

為了更清楚地說明本申請(qǐng)實(shí)施例或背景技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)本申請(qǐng)實(shí)施例或背景技術(shù)中所需要使用的附圖進(jìn)行說明。

圖1是本申請(qǐng)實(shí)施例涉及的一種poe系統(tǒng)的電路結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本申請(qǐng)實(shí)施例涉及的另一種poe系統(tǒng)的電路結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種受電設(shè)備的功能框圖；

圖4是本申請(qǐng)實(shí)施例提供的另一種受電設(shè)備的功能框圖；

圖5是本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種poe系統(tǒng)的功能框圖；

圖6是本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種poe系統(tǒng)的電路結(jié)構(gòu)示意圖。

具體實(shí)施方式

本申請(qǐng)的實(shí)施方式部分使用的術(shù)語僅用于對(duì)本申請(qǐng)的具體實(shí)施例進(jìn)行解釋，而非旨在限定本申請(qǐng)。

為了更清楚了解本申請(qǐng)實(shí)施例，首先介紹本申請(qǐng)實(shí)施例涉及的相關(guān)應(yīng)用場(chǎng)景。

請(qǐng)參閱圖1，圖1示出了一種poe系統(tǒng)的電路結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示，該poe系統(tǒng)中包括一個(gè)供電設(shè)備(pse)100、一個(gè)受電設(shè)備(pd)110。供電設(shè)備100和受電設(shè)備110之間通過網(wǎng)線連接。當(dāng)供電設(shè)備100和受電設(shè)備110通過網(wǎng)線進(jìn)行物理連接后，首先供電設(shè)備100需要通過檢測(cè)電流或檢測(cè)電壓來檢測(cè)所連接的受電設(shè)備110是否為符合規(guī)定的受電設(shè)備，如果檢測(cè)成功，對(duì)受電設(shè)備110進(jìn)行分類，根據(jù)分類確定受電設(shè)備110所需功率，進(jìn)而對(duì)受電設(shè)備110上電。在上述過程中，供電設(shè)備100需要通過檢測(cè)電流或檢測(cè)電壓來檢測(cè)所連接的受電設(shè)備110是否為符合規(guī)定的受電設(shè)備的過程可以理解成檢測(cè)階段(detection)，該檢測(cè)階段通常耗時(shí)在500ms以內(nèi)；供電設(shè)備100對(duì)受電設(shè)備110進(jìn)行分類的過程可以理解成分類階段(classification)，該分類階段通常耗時(shí)在50ms左右。檢測(cè)過程在本申請(qǐng)實(shí)施例中也可以理解成握手階段。如果握手成功，供電設(shè)備才會(huì)執(zhí)行對(duì)受電設(shè)備進(jìn)行分類及供電等步驟。

以圖1中的電路結(jié)構(gòu)為例，說明供電設(shè)備100和受電設(shè)備110在檢測(cè)階段的交互過程。

首先供電設(shè)備100中的pse芯片通過引腳1輸出檢測(cè)電流，該檢測(cè)電流流經(jīng)二極管d2后，一部分經(jīng)過電阻r2，一部分經(jīng)過mos三極管q2到達(dá)pd芯片的引腳1，經(jīng)過電阻r2和通過pd芯片引腳2輸出的電流形成回路電流，該回路電流經(jīng)過mos三極管q1，通過pse芯片的引腳,2反饋給pse芯片，另一方面，還有一部分檢測(cè)電流經(jīng)過mos三極管q2形成漏電流，該漏電流經(jīng)過二極管d4，負(fù)載電路、二極管d5和三極管q1，通過pse芯片的引腳2回流至pse芯片，pse芯片通過檢測(cè)回路電流和漏電流的和，來確定是否連接到符合規(guī)定的受電設(shè)備。在此，如果供電設(shè)備100檢測(cè)成功，則表示供電設(shè)備100和受電設(shè)備110握手成功。

隨著受電設(shè)備的負(fù)載越來越大，受電設(shè)備對(duì)功率的需求也隨之增加。一個(gè)供電設(shè)備所提供的功率有可能無法滿足一個(gè)受電設(shè)備的需求功率，可以通過多個(gè)同源供電的供電設(shè)備對(duì)一個(gè)受電設(shè)備進(jìn)行供電，以滿足該受電設(shè)備的需求功率。現(xiàn)有技術(shù)中提供了一種圖2所示的poe系統(tǒng)，以兩個(gè)供電設(shè)備對(duì)一個(gè)受電設(shè)備進(jìn)行供電為例，說明多個(gè)供電設(shè)備對(duì)一個(gè)受電設(shè)備的供電過程。

圖2所示的poe系統(tǒng)包括了第一供電設(shè)備200，第二供電設(shè)備210和受電設(shè)備220。其中，第一供電設(shè)備200包括pse芯片pse1，第二供電設(shè)備210包括pse芯片pse2，第一供電設(shè)備200和第二供電設(shè)備210接入同一個(gè)電源。在這種情況下，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)pd提供的功率合并。受供設(shè)備220中包括兩個(gè)pd單元，每個(gè)pd單元包括一個(gè)pd芯片，分別為pd1和pd2，pd1和pd2的型號(hào)可以相同也可以不同。本申請(qǐng)實(shí)施例中，pse芯片可以理解為供電芯片，pd芯片可以理解為受電芯片。結(jié)合圖2所示的電路結(jié)構(gòu)，對(duì)第一供電設(shè)備200和第二供電設(shè)備210在檢測(cè)階段向pd輸入檢測(cè)電流或檢測(cè)電壓的過程進(jìn)行說明。

對(duì)于第一供電設(shè)備200，pse芯片pse1的引腳1輸出檢測(cè)電流i1，同時(shí)pse芯片pse2的引腳1輸出檢測(cè)電流i2，圖2所示的電路中，節(jié)點(diǎn)a僅是示意性的，本申請(qǐng)中，可以理解為pse芯片pse1的引腳1輸出的檢測(cè)電流i1經(jīng)過節(jié)點(diǎn)a流向二極管d3，pse2的引腳1輸出的檢測(cè)電流i2經(jīng)過節(jié)點(diǎn)a流向二極管d9。檢測(cè)電流i1經(jīng)過二極管d3后，檢測(cè)電流i1的一部分經(jīng)過電阻r3，檢測(cè)電流i1的一部分經(jīng)過mos三極管q3流入pd芯片pd1的引腳1，pd芯片pd1通過引腳2輸出的電流和經(jīng)過電阻r3的一部分電流合成回路電流i11，回路電流i11經(jīng)過mos三極管q1，通過pse芯片pse1的引腳2回流至第一供電設(shè)備200，檢測(cè)電流i1一部分經(jīng)過mos三極管q3形成漏電流i12，該漏電流i12經(jīng)過二極管d5，節(jié)點(diǎn)b及負(fù)載電路到達(dá)節(jié)點(diǎn)c，在此，漏電流i12會(huì)在節(jié)點(diǎn)c進(jìn)行分流，漏電流i12一部分經(jīng)由二極管d6和mos三極管q1,通過pse芯片pse1的引腳2回流至pse芯片pse1，即漏電流i12的一部分反饋給第一供電設(shè)備200；漏電流i12在節(jié)點(diǎn)c分流的另一部分經(jīng)由二極管d10和mos三極管q2，通過pse芯片pse2的引腳2回流至pse芯片，即漏電流i12的另一部分回流至第二供電設(shè)備210。

對(duì)于第二供電設(shè)備210，pse芯片pse2的引腳1輸出的檢測(cè)電流i2經(jīng)過二極管d9后，檢測(cè)電流i2的一部分經(jīng)過電阻r4，檢測(cè)電流i2的一部分經(jīng)過mos三極管q4流入pd芯片pd2的引腳1，pd芯片pd2通過引腳2輸出的電流和經(jīng)過電阻r3的一部分電流合成回路電流i21，回路電流i21經(jīng)過mos三極管q2，通過pse芯片pse2的引腳2回流至第二供電設(shè)備210，檢測(cè)電流i2一部分經(jīng)過mos三極管q4形成漏電流i22，該漏電流i22經(jīng)過二極管d7，節(jié)點(diǎn)b及負(fù)載電路到達(dá)節(jié)點(diǎn)c，在此，漏電流i22會(huì)在節(jié)點(diǎn)c進(jìn)行分流，漏電流i22一部分經(jīng)由二極管d6和mos三極管q1,通過pse芯片pse1的引腳2回流至pse芯片pse1，即漏電流i22的一部分反饋給第一供電設(shè)備200；漏電流i22在節(jié)點(diǎn)c分流的另一部分經(jīng)由二極管d10和mos三極管q2，通過pse芯片pse2的引腳2回流至pse芯片，即漏電流i22的另一部分回流至第二供電設(shè)備210。

由圖2所示電路可知，第一供電設(shè)備200會(huì)接收到回路電流i11、一部分漏電流i12和一部分漏電流i22，第二供電設(shè)備210會(huì)接受到回路電流i21、一部分漏電流i12和一部分漏電流i22，由于漏電流相互之間產(chǎn)生干擾，導(dǎo)致第一供電設(shè)備200和/或第二供電設(shè)備210無法通過檢測(cè)接收到的回路電流和漏電流正確檢測(cè)出受電設(shè)備，有可能將連接的符合規(guī)定的受電設(shè)備檢測(cè)成不符合規(guī)定的受電設(shè)備，導(dǎo)致供電設(shè)備無法向受電設(shè)備正常上電。

針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)缺陷，下面介紹本申請(qǐng)實(shí)施例提供的技術(shù)方案。

請(qǐng)參閱圖3，圖3是本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種受電設(shè)備的功能框圖。如圖3所示，受電設(shè)備300包括通信接口310、受電系統(tǒng)320、開關(guān)系統(tǒng)330和負(fù)載系統(tǒng)340。受電系統(tǒng)320可以包括至少兩個(gè)受電單元，這至少兩個(gè)受電單元的輸出端連接，以實(shí)現(xiàn)功率合并。受電系統(tǒng)320所包括的受電單元的數(shù)量可基于為受電設(shè)備供電的供電設(shè)備所能提供的功率和受電設(shè)備的功率需求確定，也可以理解為，受電系統(tǒng)320所包括的受電單元的數(shù)量，是受電設(shè)備300能夠支持同時(shí)接入的供電設(shè)備的數(shù)量。其中，受電系統(tǒng)320的受電單元的結(jié)構(gòu)可以相同，也可以不同，系統(tǒng)中，每個(gè)供電設(shè)備可對(duì)應(yīng)受電系統(tǒng)中的一個(gè)受電單元，可以理解為每個(gè)供電設(shè)備對(duì)應(yīng)為一個(gè)受電單元供電。具體的，供電設(shè)備與受電系統(tǒng)320中的一個(gè)受電單元通過一個(gè)通信接口連接，在此需要說明的是，通信接口中包括的通信接口的數(shù)量可以與受電單元的數(shù)量相同，也可以大于受電單元的數(shù)量。本申請(qǐng)實(shí)施例中，以受電系統(tǒng)320包括兩個(gè)受電單元為例進(jìn)行說明，兩個(gè)受電單元分別為第一受電單元321和第二受電單元322。通信接口310中包括第一通信接口311和第二通信接口312，第一通信接口311連接第一受電單元321，第二通信接口312連接第二受電單元322。

其中，通信接口310連接受電系統(tǒng)320；受電系統(tǒng)連接開關(guān)系統(tǒng)330，開關(guān)系統(tǒng)330連接負(fù)載系統(tǒng)340。

通信接口310的物理實(shí)現(xiàn)可以是網(wǎng)線接口，或能夠支持網(wǎng)線接口的其他形式的接口。通信接口用于連接供電設(shè)備，實(shí)現(xiàn)供電設(shè)備與受電設(shè)備的通信。例如，通信接口能夠在檢測(cè)階段接收供電設(shè)備的檢測(cè)電流，并將該檢測(cè)電流傳輸至對(duì)應(yīng)的受電單元，或者，通信接口在檢測(cè)階段接收受電單元輸出的回路電流，并將該回路電流傳輸至對(duì)應(yīng)的供電設(shè)備。通信接口也可以接收供電設(shè)備的分類請(qǐng)求和上電指示等。

受電系統(tǒng)320的受電單元用于在檢測(cè)階段通過通信接口310接收所對(duì)應(yīng)的供電設(shè)備的檢測(cè)電流，并能夠基于該檢測(cè)電流生成回路電流和漏電流，其中，回路電流能夠通過受電單元和通信接口傳輸至對(duì)應(yīng)的供電設(shè)備。由于開關(guān)系統(tǒng)330在檢測(cè)階段處于斷開狀態(tài)，即受電系統(tǒng)320和負(fù)載系統(tǒng)340之間出現(xiàn)斷路，防止了漏電流通過負(fù)載系統(tǒng)，以造成多個(gè)受電單元之間的漏電流的互相干擾。

負(fù)載系統(tǒng)340由于在檢測(cè)階段沒有電源輸入，因此負(fù)載系統(tǒng)340在檢測(cè)階段不進(jìn)行工作，處于休眠階段。當(dāng)受電設(shè)備和供電設(shè)備握手成功，供電設(shè)備能夠成功為受電設(shè)備上電時(shí)，開關(guān)系統(tǒng)330的開關(guān)狀態(tài)處于閉合狀態(tài)，負(fù)載系統(tǒng)340能夠根據(jù)受電單元提供的電能進(jìn)行功率消耗。其中，負(fù)載系統(tǒng)340可以包括功率轉(zhuǎn)換單元，能夠?qū)⑹茈妴卧峁┑目偣β驶谪?fù)載的不同，為不同負(fù)載分配部分功率。這里，功率轉(zhuǎn)換單元可以是隔離功率轉(zhuǎn)換單元，也可以是非隔離功率轉(zhuǎn)換單元。

本申請(qǐng)實(shí)施例中，受電設(shè)備包括開關(guān)系統(tǒng)，控制開關(guān)系統(tǒng)在檢測(cè)階段保持開關(guān)狀態(tài)為斷開狀態(tài)，可以防止受電單元中產(chǎn)生的漏電流通過負(fù)載進(jìn)行相互干擾，進(jìn)而能夠使供電設(shè)備根據(jù)對(duì)應(yīng)受電單元反饋的回路電流成功檢測(cè)受電設(shè)備，進(jìn)而實(shí)現(xiàn)握手成功。

請(qǐng)參閱圖4，圖4是本申請(qǐng)實(shí)施例提供的另一種受電設(shè)備的功能框圖。受電設(shè)備400包括通信接口410、受電系統(tǒng)420、開關(guān)系統(tǒng)430和負(fù)載系統(tǒng)440。

本申請(qǐng)實(shí)施例中，開關(guān)系統(tǒng)430可以包括驅(qū)動(dòng)單元431和開關(guān)單元432。其中，驅(qū)動(dòng)單元431能夠驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元432進(jìn)行斷開或閉合。驅(qū)動(dòng)單元431可以由rc濾波器實(shí)現(xiàn)，或者，其他時(shí)鐘振蕩器，如晶體振蕩器實(shí)現(xiàn)。開關(guān)單元432可以由三極管，如mos三極管或者繼電器或者開關(guān)芯片等實(shí)現(xiàn)。在此，對(duì)驅(qū)動(dòng)單元431和開關(guān)單元432的具體實(shí)現(xiàn)不做具體限定。驅(qū)動(dòng)單元431能夠在檢測(cè)階段，如0至500ms內(nèi)控制開關(guān)單元的開關(guān)狀態(tài)為斷開狀態(tài)。驅(qū)動(dòng)單元431還能夠控制開關(guān)單元432在上電后的操作階段處于閉合狀態(tài)，以實(shí)現(xiàn)受電系統(tǒng)420為負(fù)載系統(tǒng)440提供功率。例如，供電設(shè)備在對(duì)受電設(shè)備上電后，受電設(shè)備在操作階段時(shí)，在300ms的時(shí)間段內(nèi)檢測(cè)是否有負(fù)載，如果沒有負(fù)載，供電設(shè)備會(huì)斷電。驅(qū)動(dòng)單元431可以控制開關(guān)單元432在時(shí)長(zhǎng)為300ms的時(shí)間段內(nèi)處于閉合狀態(tài)，例如，驅(qū)動(dòng)單元431驅(qū)動(dòng)開關(guān)單元進(jìn)行閉合的時(shí)間可以是第100ms、第200ms或第300ms，在此，本申請(qǐng)實(shí)施例不做具體限定。驅(qū)動(dòng)單元431確定驅(qū)動(dòng)閉合的時(shí)間可以基于供電設(shè)備與受電設(shè)備的協(xié)議確定，或者，基于供電設(shè)備的類型確定，或者為受電設(shè)備自配置的閉合時(shí)間。驅(qū)動(dòng)單元431可以通過硬件參數(shù)的確定來實(shí)現(xiàn)確定驅(qū)動(dòng)閉合時(shí)間，例如，當(dāng)驅(qū)動(dòng)單元431為rc濾波器時(shí)，可以考慮rc濾波器中電阻阻值為300kω，電容的電容值為200μf；或者，電阻的阻值為150kω，電容的電容值為400μf；或者，電阻的阻值為200kω，電容的電容值為300μf來實(shí)現(xiàn)確定驅(qū)動(dòng)閉合時(shí)間為300ms。當(dāng)然，可以通過確定其他硬件參數(shù)，以滿足確定閉合時(shí)間為100ms、200ms等。受電設(shè)備400的其他系統(tǒng)或組件的描述可以參見圖3所示的受電設(shè)備300中的具體描述，這里不再贅述。

請(qǐng)參閱圖5，圖5示出了一種poe系統(tǒng)，該poe系統(tǒng)500中包括電源510、第一供電設(shè)備520、第二供電設(shè)備530以及受電設(shè)備540。其中，受電設(shè)備540包括通信接口410、受電系統(tǒng)420、開關(guān)系統(tǒng)430和負(fù)載系統(tǒng)440。開關(guān)系統(tǒng)430包括驅(qū)動(dòng)單元431和開關(guān)單元432。

本申請(qǐng)實(shí)施例中，電源510為第一供電設(shè)備520和第二供電設(shè)備530供電，第一供電設(shè)備520和第二供電設(shè)備530并聯(lián)。第一供電設(shè)備520與受電設(shè)備540的第一通信接口411連接，第二供電設(shè)備530與受電設(shè)備540的第二通信接口412連接。本系統(tǒng)中，可以理解為第一供電設(shè)備520對(duì)應(yīng)第一受電單元421，第二供電設(shè)備530對(duì)應(yīng)第二受電單元422。也就是說，可以理解為第一供電設(shè)備520在檢測(cè)階段通過第一通信接口411為第一受電單元421傳輸檢測(cè)電流，第一供電設(shè)備520在操作階段通過第一通信接口411為第一受電單元421供電；同樣的，第二供電設(shè)備530在檢測(cè)階段通過第二通信接口412為第二受電單元422傳輸檢測(cè)電流，第二供電設(shè)備530在操作階段通過第二通信接口412為第二受電單元422供電。受電設(shè)備540中功能模塊的描述可參見上述實(shí)施例，在此不再贅述。

基于圖5所示的poe系統(tǒng)的功能框圖，下面介紹一種poe系統(tǒng)的電路實(shí)現(xiàn)方式。需要說明的是，本實(shí)施例僅是示例性的，對(duì)于poe系統(tǒng)或受電設(shè)備，基于上述功能框圖還能夠存在其他電路實(shí)現(xiàn)方式。

請(qǐng)參閱圖6，圖6是本申請(qǐng)實(shí)施例提供的一種poe系統(tǒng)的電路結(jié)構(gòu)示意圖。如圖6所示，電源提供正極電壓(v+)和負(fù)極電壓(v-)。電源510分別連接第一供電設(shè)備520和第二供電設(shè)備530。第一供電設(shè)備520在檢測(cè)階段通過供電芯片pse1的引腳1向受電設(shè)備540發(fā)送檢測(cè)電流i1，檢測(cè)電流i1通過受電設(shè)備540的第一通信接口411流入第一受電單元421，檢測(cè)電流i1經(jīng)過二極管d3后，檢測(cè)電流i1的一部分經(jīng)過電阻r3，檢測(cè)電流i1的一部分經(jīng)過mos三極管q3，并通過受電芯片pd1的引腳1流入受電芯片pd1。受電芯片pd1的引腳2輸出的電流和經(jīng)過電阻r3的一部分電流合成回路電流i11，回流電路i11經(jīng)過mos三極管q1，通過供電芯片pse1的引腳2回流至第一供電設(shè)備520。而由于在檢測(cè)階段開關(guān)電路為斷開狀態(tài)，檢測(cè)電流i1經(jīng)過mos三極管q3產(chǎn)生的漏電流i12無法通過負(fù)載電路形成至第二供電設(shè)備530的回路，因此，第一受電單元421產(chǎn)生的漏電流不會(huì)回流至第二供電設(shè)備530，不會(huì)對(duì)第二供電設(shè)備的檢測(cè)造成干擾。同樣的，第二供電設(shè)備530在檢測(cè)階段通過供電芯片pse2的引腳1向受電設(shè)備540發(fā)送檢測(cè)電流i2，檢測(cè)電流i2通過受電設(shè)備540的第二通信接口412流入第二受電單元422，檢測(cè)電流i2經(jīng)過二極管d9后，檢測(cè)電流i2的一部分經(jīng)過電阻r4，檢測(cè)電流i2的一部分經(jīng)過mos三極管q4，并通過受電芯片pd2的引腳1流入受電芯片pd2。受電芯片pd2的引腳2輸出的電流和經(jīng)過電阻r3的一部分電流合成回路電流i21，回流電路i21經(jīng)過mos三極管q2，通過供電芯片pse2的引腳2回流至第二供電設(shè)備530。而由于在檢測(cè)階段開關(guān)電路為斷開狀態(tài)，檢測(cè)電流i2經(jīng)過mos三極管q3產(chǎn)生的漏電流i22無法通過負(fù)載電路形成至第一供電設(shè)備520的回路，因此，第二受電單元422產(chǎn)生的漏電流不會(huì)回流至第一供電設(shè)備520，不會(huì)對(duì)第一供電設(shè)備的檢測(cè)造成干擾。

進(jìn)一步的，當(dāng)?shù)谝还╇娫O(shè)備520和第二供電設(shè)備530分別和受電設(shè)備540握手成功并分類成功后，受電設(shè)備540進(jìn)入操作階段，此時(shí)，驅(qū)動(dòng)單元431在一個(gè)時(shí)間段內(nèi)驅(qū)動(dòng)開關(guān)電路閉合，以將受電系統(tǒng)的功率提供給負(fù)載電路。在此加設(shè)時(shí)間段的時(shí)長(zhǎng)為300ms，可以通過設(shè)置r5和c2的參數(shù)，來確定驅(qū)動(dòng)單元431能夠在300ms內(nèi)驅(qū)動(dòng)開關(guān)電路閉合。例如，r5阻值為300kω，c2的電容值為200μf；或者，r5的阻值為150kω，c2的電容值為400μf；或者，r5的阻值為200kω，c2的電容值為300μf等。

本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分流程，該流程可以由計(jì)算機(jī)程序來指令相關(guān)的硬件完成，該程序可存儲(chǔ)于計(jì)算機(jī)可讀取存儲(chǔ)介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時(shí)，可包括如上述各方法實(shí)施例的流程。而前述的存儲(chǔ)介質(zhì)包括：rom或隨機(jī)存儲(chǔ)記憶體ram、磁碟或者光盤等各種可存儲(chǔ)程序代碼的介質(zhì)。