一種通信數(shù)據(jù)包糾錯校驗方法與裝置制造方法
【專利摘要】一種通信數(shù)據(jù)包糾錯校驗方法與裝置，通信數(shù)據(jù)包包括初始數(shù)據(jù)包與糾錯數(shù)據(jù)包，其中初始數(shù)據(jù)包包括N個初始數(shù)據(jù)塊，且N個初始數(shù)據(jù)塊包括N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊與一個第一校驗數(shù)據(jù)塊，糾錯數(shù)據(jù)包包括與N個初始數(shù)據(jù)塊一一對應(yīng)的N個糾錯數(shù)據(jù)塊，接收端根據(jù)第一校驗數(shù)據(jù)塊對第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第一校驗操作，若第一校驗正確，則對第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行處理，否則，接收端根據(jù)糾錯數(shù)據(jù)包對初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行糾錯操作，獲得糾正數(shù)據(jù)包，所述糾正數(shù)據(jù)包包括N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊與一個第二校驗數(shù)據(jù)塊，接收端根據(jù)第二校驗數(shù)據(jù)塊對第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第二校驗操作，若第二校驗正確，則對第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行處理；否則接收端丟棄并請求重新發(fā)送所述通信數(shù)據(jù)包。
【專利說明】一種通信數(shù)據(jù)包糾錯校驗方法與裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及通信領(lǐng)域，尤其涉及一種通信數(shù)據(jù)包糾錯校驗方法與裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]在通信方法中，通常在每一個有效數(shù)據(jù)塊之后，附綴與其相對應(yīng)的糾錯數(shù)據(jù)塊，實(shí)現(xiàn)對當(dāng)前有效數(shù)據(jù)塊的校驗和糾錯，所述有效數(shù)據(jù)塊與相應(yīng)的糾錯數(shù)據(jù)塊共同構(gòu)成通信數(shù)據(jù)塊，一系列通信數(shù)據(jù)塊共同構(gòu)成通信數(shù)據(jù)包。然而上述通信數(shù)據(jù)包在數(shù)據(jù)傳輸過程中，若某一糾錯數(shù)據(jù)塊出現(xiàn)錯誤，則該糾錯數(shù)據(jù)塊會對與其對應(yīng)的有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行錯誤的糾正操作，導(dǎo)致原本正確的有效數(shù)據(jù)塊出錯，從而致使通信失敗。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]為了解決上述問題，本發(fā)明提出一種通信數(shù)據(jù)包糾錯校驗方法，包括以下步驟:
[0004]接收端接收所述通信數(shù)據(jù)包，其中所述通信數(shù)據(jù)包至少包括初始數(shù)據(jù)包和糾錯數(shù)據(jù)包，其中所述初始數(shù)據(jù)包包括N個初始數(shù)據(jù)塊，且所述N個初始數(shù)據(jù)塊包括N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊與一個第一校驗數(shù)據(jù)塊，所述糾錯數(shù)據(jù)包包括N個糾錯數(shù)據(jù)塊，所述N個糾錯數(shù)據(jù)塊與所述N個初始數(shù)據(jù)塊一一對應(yīng)，N > 2，所述接收端接收到所述通信數(shù)據(jù)包后，提取所述通信數(shù)據(jù)包中的所述第一校驗數(shù)據(jù)塊，并根據(jù)所述第一校驗數(shù)據(jù)塊對所述N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第一校驗操作，若所述第一校驗操作校驗正確，則對接收端所述N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行處理操作；若所述第一校驗操作校驗錯誤，則所述接收端提取所述通信數(shù)據(jù)包中的所述糾錯數(shù)據(jù)包，并根據(jù)所述糾錯數(shù)據(jù)包對所述初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行糾錯操作，獲得糾正數(shù)據(jù)包，所述糾正數(shù)據(jù)包包括N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊與一個第二校驗數(shù)據(jù)塊，所述接收端根據(jù)所述第二校驗數(shù)據(jù)塊對所述N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第二校驗操作，若所述第二校驗操作校驗正確，則接收端對所述N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行處理操作；若所述第二校驗操作校驗錯誤，則所述接收端丟棄`并請求重新發(fā)送所述通信數(shù)據(jù)包。
[0005]此外，所述校驗數(shù)據(jù)塊為CRC循環(huán)冗余校驗數(shù)據(jù)塊、BBC異或校驗數(shù)據(jù)塊或LRC縱向冗余校驗數(shù)據(jù)塊。
[0006]此外，所述糾錯數(shù)據(jù)包為ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包、SEC/DED錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包或Chipkill錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包。
[0007]此外，所述糾錯數(shù)據(jù)塊為ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊、SEC/DED錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊或Chipkill錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊。
[0008]本發(fā)明還提出一種通信數(shù)據(jù)包糾錯校驗裝置，其特征在于，包括:
[0009]接收模塊，用于接收所述通信數(shù)據(jù)包，其中所述通信數(shù)據(jù)包至少包括初始數(shù)據(jù)包和糾錯數(shù)據(jù)包，其中所述初始數(shù)據(jù)包包括N個初始數(shù)據(jù)塊,且所述N個初始數(shù)據(jù)塊包括N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊與一個第一校驗數(shù)據(jù)塊，所述糾錯數(shù)據(jù)包包括N個糾錯數(shù)據(jù)塊，所述N個糾錯數(shù)據(jù)塊與所述N個初始數(shù)據(jù)塊一一對應(yīng)，N ^ 2 ;提取模塊，與所述接收模塊相連，用于所述接收模塊接收到所述通信數(shù)據(jù)包后，提取所述通信數(shù)據(jù)包中的所述第一校驗數(shù)據(jù)塊和所述第一有效數(shù)據(jù)塊，還用于當(dāng)校驗?zāi)K進(jìn)行第一校驗操作校驗錯誤時提取所述糾錯數(shù)據(jù)包，還用于當(dāng)糾錯模塊生成糾正數(shù)據(jù)包后提取所述糾正數(shù)據(jù)包中的第二校驗數(shù)據(jù)塊和第二有效數(shù)據(jù)塊；校驗?zāi)K，與所述提取模塊相連，用于根據(jù)所述第一校驗數(shù)據(jù)塊對所述N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第一校驗操作，還用于根據(jù)第二校驗數(shù)據(jù)塊對N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第二校驗操作；處理模塊，與所述校驗?zāi)K相連，用于當(dāng)所述校驗?zāi)K進(jìn)行第一校驗操作校驗正確時對所述N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行處理操作，還用于當(dāng)所述校驗?zāi)K進(jìn)行第二校驗操作校驗正確時對所述N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行處理操作，還用于當(dāng)所述校驗?zāi)K進(jìn)行第二校驗操作錯誤時，丟棄并請求重新發(fā)送所述通信數(shù)據(jù)包；糾錯模塊，與所述提取模塊和所述校驗?zāi)K相連，用于根據(jù)所述糾錯數(shù)據(jù)包對所述初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行糾錯操作，獲得糾正數(shù)據(jù)包，所述糾正數(shù)據(jù)包包括N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊與一個第二校驗數(shù)據(jù)塊。
[0010]此外，所述校驗數(shù)據(jù)塊為CRC循環(huán)冗余校驗數(shù)據(jù)塊、BBC異或校驗數(shù)據(jù)塊或LRC縱向冗余校驗數(shù)據(jù)塊。
[0011]此外，所述糾錯數(shù)據(jù)包為ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包、SEC/DED錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包或Chipkill錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包。
[0012]此外，所述糾錯數(shù)據(jù)塊為ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊、SEC/DED錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊或Chipkill錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊。
[0013]綜上所述，本發(fā)明將通信數(shù)據(jù)包分為初始數(shù)據(jù)包與糾錯數(shù)據(jù)包，其中初始數(shù)據(jù)包包括N-1個有效數(shù)據(jù)塊與一個校驗數(shù)據(jù)塊，校驗數(shù)據(jù)對有效數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗，若校驗正確，那么即使糾錯數(shù)據(jù)包在傳輸過程中出錯也不會影響通信數(shù)據(jù)包中有效數(shù)據(jù)的正確性；若校驗失敗，接收端通過調(diào)用糾錯數(shù)據(jù)包對初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行糾錯，獲得糾正數(shù)據(jù)包，從而獲得正確的有效數(shù)據(jù)。因此，在數(shù)據(jù)傳輸過程中，糾錯數(shù)據(jù)包的數(shù)據(jù)錯誤不會影響通信數(shù)據(jù)包中的有效數(shù)據(jù)。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0014]為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他附圖。
[0015]圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的通信數(shù)據(jù)包糾錯校驗方法流程圖；
[0016]圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的通信數(shù)據(jù)包數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)示意圖；
[0017]圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的通信數(shù)據(jù)包糾錯校驗裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0018]下面結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。
[0019]在本發(fā)明的描述中，需要理解的是，術(shù)語“中心”、“縱向”、“橫向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底”、“內(nèi)”、“外”等指示的方位或位置關(guān)系為基于附圖所示的方位或位置關(guān)系，僅是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此不能理解為對本發(fā)明的限制。此外，術(shù)語“第一”、“第二”僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性或數(shù)量或位置。
[0020]在本發(fā)明的描述中，需要說明的是，除非另有明確的規(guī)定和限定，術(shù)語“安裝”、“相連”、“連接”應(yīng)做廣義理解，例如，可以是固定連接，也可以是可拆卸連接，或一體地連接；可以是機(jī)械連接，也可以是電連接；可以是直接相連，也可以通過中間媒介間接相連，可以是兩個元件內(nèi)部的連通。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，可以具體情況理解上述術(shù)語在本發(fā)明中的具體含義。
[0021]本發(fā)明的核心是，通信數(shù)據(jù)包包括初始數(shù)據(jù)包與糾錯數(shù)據(jù)包，所述初始數(shù)據(jù)包包括N個初始數(shù)據(jù)塊,所述糾錯數(shù)據(jù)包包括N個糾錯數(shù)據(jù)塊,所述N個糾錯數(shù)據(jù)塊與所述N個初始數(shù)據(jù)塊一一對應(yīng)，接收端接收到通信數(shù)據(jù)包后，根據(jù)初始數(shù)據(jù)包中的第一校驗數(shù)據(jù)塊對初始數(shù)據(jù)包中的第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第一校驗操作，若校驗正確，則讀取并執(zhí)行第一有效數(shù)據(jù)，否則，接收端根據(jù)錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包對初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行糾錯操作，獲得糾正數(shù)據(jù)包，所述糾正數(shù)據(jù)包，接收端根據(jù)糾正數(shù)據(jù)包中的第二校驗數(shù)據(jù)對糾正數(shù)據(jù)包中的第二有效數(shù)據(jù)進(jìn)行第二校驗操作，若校驗正確，則讀取并執(zhí)行第二有效數(shù)據(jù)；否則，接收端丟棄并請求重新發(fā)送所述通信數(shù)據(jù)包。
[0022]下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明實(shí)施例作進(jìn)一步地詳細(xì)描述。
[0023]圖1是本發(fā)明實(shí)施例通信數(shù)據(jù)包糾錯校驗方法的流程圖，圖2是本發(fā)明實(shí)施例提供的通信數(shù)據(jù)包數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)示意圖，如圖1所示，該方法包括如下步驟:
[0024]SI，接收端接收通信數(shù)據(jù)包；
[0025]上述接收端可以為通信服務(wù)器或主機(jī)或客戶端，如圖2所示，所述通信數(shù)據(jù)包至少包括初始數(shù)據(jù)包和糾錯數(shù)據(jù)包，其中所述初始數(shù)據(jù)包包括N個初始數(shù)據(jù)塊,且所述N個初始數(shù)據(jù)塊包括N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊與一個第一校驗數(shù)據(jù)塊，所述糾錯數(shù)據(jù)包包括N個糾錯數(shù)據(jù)塊，所述N個糾錯數(shù)據(jù)塊與所述N個初始數(shù)據(jù)塊一一對應(yīng)，NS 2。所述第一校驗數(shù)據(jù)塊與N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊對應(yīng)，用于校驗所述第一有效數(shù)據(jù)是否正確，所述糾錯數(shù)據(jù)包與所述初始數(shù)據(jù)包對應(yīng)，用于糾正校驗出錯的初始數(shù)據(jù)包。其中，所述校驗數(shù)據(jù)塊為CRC循環(huán)冗余校驗數(shù)據(jù)塊、BBC異或校驗數(shù)據(jù)塊或LRC縱向冗余校驗數(shù)據(jù)塊；所述糾錯數(shù)據(jù)包為ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包、SEC/DED錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包或Chipkill錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包，所述糾錯數(shù)據(jù)塊為ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊、SEC/DED錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊或Chipki 11錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊。所述糾錯數(shù)據(jù)包可包括一種類型的糾錯數(shù)據(jù)塊，例如，所有糾錯數(shù)據(jù)包包括的糾錯數(shù)據(jù)塊均為ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊；糾錯數(shù)據(jù)包還可包括不同類型的糾錯數(shù)據(jù)塊，例如，可以同時包括ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊、SEC/DED錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊或Chipkill錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊中的兩種或三種。
[0026]S2，接收端根據(jù)第一校驗數(shù)據(jù)塊對第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第一校驗操作；
[0027]所述接收端提取初始數(shù)據(jù)包中的第一校驗數(shù)據(jù)塊，并根據(jù)所述第一校驗數(shù)據(jù)塊對所述N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第一校驗操作，所述第一校驗操作包括:接收端根據(jù)CRC循環(huán)冗余校驗數(shù)據(jù)塊對第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行循環(huán)冗余校驗操作，根據(jù)BBC異或校驗數(shù)據(jù)塊對第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行異或校驗操作或根據(jù)LRC縱向冗余校驗數(shù)據(jù)塊對第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行縱向冗余校驗操作。
[0028]S3，若所述第一校驗操作校驗正確，則接收端對所述N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行處理操作；
[0029]S4，若所述第一校驗操作校驗錯誤，則所述接收端執(zhí)行糾錯操作；
[0030]所述接收端提取所述通信數(shù)據(jù)包中的所述糾錯數(shù)據(jù)包，并根據(jù)所述糾錯數(shù)據(jù)包對所述初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行糾錯操作，由圖2所示，所述糾錯數(shù)據(jù)包由N個糾錯數(shù)據(jù)塊組成，所述N個糾錯數(shù)據(jù)塊與N個初始數(shù)據(jù)塊一一對應(yīng)，若所述第一校驗操作校驗結(jié)果為錯誤，則接收端根據(jù)每個糾錯數(shù)據(jù)塊對與其對應(yīng)的初始數(shù)據(jù)塊一一進(jìn)行糾錯操作，所述糾錯操作包括:接收端根據(jù)ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包對所述初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行ECC錯誤檢查糾正操作、根據(jù)SEC/DED錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包對所述初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行SEC/DED錯誤檢查糾正操作或根據(jù)Chipkill錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包對所述初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行Chipkill錯誤檢查糾正操作。
[0031]S5，接收端對初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行糾錯操作獲得糾正數(shù)據(jù)包，
[0032]接收端根據(jù)所述N個糾錯數(shù)據(jù)塊依次對所述N個初始數(shù)據(jù)塊進(jìn)行糾錯操作，得到N個糾正數(shù)據(jù)塊，所述糾錯操作包括:接收端讀取第i初始數(shù)據(jù)塊與第i糾錯數(shù)據(jù)塊，利用糾錯算法根據(jù)所述第i初始數(shù)據(jù)塊與所述第i糾錯數(shù)據(jù)塊生成第i糾正數(shù)據(jù)塊并進(jìn)行保存，O< i ( N，所述N個糾正數(shù)據(jù)塊包括N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊與一個第二校驗數(shù)據(jù)塊，所述N個糾正數(shù)據(jù)塊共同組成所述糾正數(shù)據(jù)包；
[0033]S6，接收端根據(jù)第二校驗數(shù)據(jù)塊對第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第二校驗操作；
[0034]所述接收端提取糾正數(shù)據(jù)包中的第二校驗數(shù)據(jù)塊，并根據(jù)所述第二校驗數(shù)據(jù)塊對所述N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第二校驗操作，所述第二校驗操作包括:接收端根據(jù)CRC循環(huán)冗余校驗數(shù)據(jù)塊對第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行循環(huán)冗余校驗操作，根據(jù)BBC異或校驗數(shù)據(jù)塊對第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行異或校驗操作或根據(jù)LRC縱向冗余校驗數(shù)據(jù)塊對第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行縱向冗余校驗操作。
[0035]S7，若所述第二校驗操作校驗正確，則接收端對所述N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行處理操作；
[0036]S8，若所述第二校驗操作校驗錯誤，則接收端丟棄并請求重新發(fā)送所述通信數(shù)據(jù)包，
[0037]接收端獲得第二校驗操作結(jié)果為錯誤后，丟棄當(dāng)前通信數(shù)據(jù)包，并發(fā)送當(dāng)前通信數(shù)據(jù)包請求信息；
[0038]上述過程中，將通信數(shù)據(jù)包分為初始數(shù)據(jù)包與糾錯數(shù)據(jù)包，其中初始數(shù)據(jù)包包括N-1個有效數(shù)據(jù)塊與一個校驗數(shù)據(jù)塊，校驗數(shù)據(jù)對有效數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗，若校驗正確，那么即使糾錯數(shù)據(jù)包在傳輸過程中出錯也不會影響通信數(shù)據(jù)包中有效數(shù)據(jù)的正確性；若校驗失敗，接收端通過調(diào)用糾錯數(shù)據(jù)包對初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行糾錯，獲得糾正數(shù)據(jù)包，從而獲得正確的有效數(shù)據(jù)。因此，在數(shù)據(jù)傳輸過程中，糾錯數(shù)據(jù)包的數(shù)據(jù)錯誤不會影響通信數(shù)據(jù)包中的有效數(shù)據(jù)。
[0039]圖3是本發(fā)明實(shí)施例提供的通信數(shù)據(jù)包糾錯校驗裝置結(jié)構(gòu)示意圖，如圖3所示，裝置包括:
[0040]接收模塊，用于接收所述通信數(shù)據(jù)包，其中所述通信數(shù)據(jù)包至少包括初始數(shù)據(jù)包和糾錯數(shù)據(jù)包，其中所述初始數(shù)據(jù)包包括N個初始數(shù)據(jù)塊,且所述N個初始數(shù)據(jù)塊包括N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊與一個第一校驗數(shù)據(jù)塊，所述糾錯數(shù)據(jù)包包括N個糾錯數(shù)據(jù)塊，所述N個糾錯數(shù)據(jù)塊與所述N個初始數(shù)據(jù)塊一一對應(yīng)，N ^ 2，所述第一校驗數(shù)據(jù)塊與N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊對應(yīng)，用于校驗所述第一有效數(shù)據(jù)是否正確，所述糾錯數(shù)據(jù)包與所述初始數(shù)據(jù)包對應(yīng)，用于糾正校驗出錯的初始數(shù)據(jù)包。其中，所述校驗數(shù)據(jù)塊為CRC循環(huán)冗余校驗數(shù)據(jù)塊、BBC異或校驗數(shù)據(jù)塊或LRC縱向冗余校驗數(shù)據(jù)塊；所述糾錯數(shù)據(jù)包為ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包、SEC/DED錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包或Chipkill錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包，所述糾錯數(shù)據(jù)塊為ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊、SEC/DED錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊或Chipkill錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊。所述糾錯數(shù)據(jù)包也可以同時包括ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊、SEC/DED錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊或Chipkill錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊中的兩種或三種。
[0041]提取模塊，與所述接收模塊相連，用于所述接收模塊接收到所述通信數(shù)據(jù)包后，提取所述通信數(shù)據(jù)包中的所述第一校驗數(shù)據(jù)塊和所述第一有效數(shù)據(jù)塊，還用于當(dāng)校驗?zāi)K進(jìn)行第一校驗操作校驗錯誤時提取所述糾錯數(shù)據(jù)包，還用于當(dāng)糾錯模塊生成糾正數(shù)據(jù)包后提取所述糾正數(shù)據(jù)包中的第二校驗數(shù)據(jù)塊和第二有效數(shù)據(jù)塊；
[0042]校驗?zāi)K，與所述提取模塊相連，用于根據(jù)所述第一校驗數(shù)據(jù)塊對所述N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第一校驗操作，所述第一校驗操作包括:接收端根據(jù)CRC循環(huán)冗余校驗數(shù)據(jù)塊對第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行循環(huán)冗余校驗操作，根據(jù)BBC異或校驗數(shù)據(jù)塊對第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行異或校驗操作或根據(jù)LRC縱向冗余校驗數(shù)據(jù)塊對第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行縱向冗余校驗操作；還用于根據(jù)第二校驗數(shù)據(jù)塊對N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第二校驗操作，所述第二校驗操作包括:接收端根據(jù)CRC循環(huán)冗余校驗數(shù)據(jù)塊對第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行循環(huán)冗余校驗操作，根據(jù)BBC異或校驗數(shù)據(jù)塊對第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行異或校驗操作或根據(jù)LRC縱向冗余校驗數(shù)據(jù)塊對第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行縱向冗余校驗操作；
[0043]處理模塊，與所述校驗?zāi)K相連，用于當(dāng)所述校驗?zāi)K進(jìn)行第一校驗操作校驗正確時對所述N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行處理操作，還用于當(dāng)所述校驗?zāi)K進(jìn)行第二校驗操作校驗正確時對所述N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行處理操作，所述處理操作包括:對第一有效數(shù)據(jù)塊或第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行存儲、讀取或執(zhí)行操作；還用于當(dāng)所述校驗?zāi)K進(jìn)行第二校驗操作錯誤時，丟棄并請求重新發(fā)送所述通信數(shù)據(jù)包；
[0044]糾錯模塊，與所述提取模塊和所述校驗?zāi)K相連，用于根據(jù)所述糾錯數(shù)據(jù)包對所述初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行糾錯操作，得到N個糾正數(shù)據(jù)塊，所述糾錯操作包括:接收端讀取第i初始數(shù)據(jù)塊與第i糾錯數(shù)據(jù)塊，利用糾錯算法根據(jù)所述第i初始數(shù)據(jù)塊與所述第i糾錯數(shù)據(jù)塊生成第i糾正數(shù)據(jù)塊并進(jìn)行保存，O < i < N，所述N個糾正數(shù)據(jù)塊包括N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊與一個第二校驗數(shù)據(jù)塊，所述N個糾正數(shù)據(jù)塊共同組成所述糾正數(shù)據(jù)包。
[0045]上述裝置中，校驗?zāi)K根據(jù)校驗數(shù)據(jù)對有效數(shù)據(jù)進(jìn)行校驗，若校驗正確，那么即使糾錯數(shù)據(jù)包在傳輸過程中出錯也不會影響通信數(shù)據(jù)包中有效數(shù)據(jù)的正確性；若校驗失敗，糾錯模塊根據(jù)糾錯數(shù)據(jù)包對初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行糾錯，獲得糾正數(shù)據(jù)包，從而獲得正確的有效數(shù)據(jù)。因此，在數(shù)據(jù)傳輸過程中，糾錯數(shù)據(jù)包的數(shù)據(jù)錯誤不會影響通信數(shù)據(jù)包中的有效數(shù)據(jù)。
[0046]流程圖中或在此以其他方式描述的任何過程或方法描述可以被理解為，表示包括一個或更多個用于實(shí)現(xiàn)特定邏輯功能或過程的步驟的可執(zhí)行指令的代碼的模塊、片段或部分，并且本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方式的范圍包括另外的實(shí)現(xiàn)，其中可以不按所示出或討論的順序，包括根據(jù)所涉及的功能按基本同時的方式或按相反的順序，來執(zhí)行功能，這應(yīng)被本發(fā)明的實(shí)施例所屬【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員所理解。
[0047]應(yīng)當(dāng)理解，本發(fā)明的各部分可以用硬件、軟件、固件或它們的組合來實(shí)現(xiàn)。在上述實(shí)施方式中，多個步驟或方法可以用存儲在存儲器中且由合適的指令執(zhí)行系統(tǒng)執(zhí)行的軟件或固件來實(shí)現(xiàn)。例如，如果用硬件來實(shí)現(xiàn)，和在另一實(shí)施方式中一樣，可用本領(lǐng)域公知的下列技術(shù)中的任一項或他們的組合來實(shí)現(xiàn):具有用于對數(shù)據(jù)信號實(shí)現(xiàn)邏輯功能的邏輯門電路的離散邏輯電路，具有合適的組合邏輯門電路的專用集成電路，可編程門陣列(PGA)，現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)等。
[0048]本【技術(shù)領(lǐng)域】的普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法攜帶的全部或部分步驟是可以通過程序來指令相關(guān)的硬件完成，所述的程序可以存儲于一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)中，該程序在執(zhí)行時，包括方法實(shí)施例的步驟之一或其組合。
[0049]此外，在本發(fā)明各個實(shí)施例中的各功能單元可以集成在一個處理模塊中，也可以是各個單元單獨(dú)物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個模塊中。上述集成的模塊既可以采用硬件的形式實(shí)現(xiàn)，也可以采用軟件功能模塊的形式實(shí)現(xiàn)。所述集成的模塊如果以軟件功能模塊的形式實(shí)現(xiàn)并作為獨(dú)立的產(chǎn)品銷售或使用時，也可以存儲在一個計算機(jī)可讀取存儲介質(zhì)中。
[0050]上述提到的存儲介質(zhì)可以是只讀存儲器，磁盤或光盤等。
[0051]在本說明書的描述中，參考術(shù)語“一個實(shí)施例”、“一些實(shí)施例”、“示例”、“具體示例”、或“一些示例”等的描述意指結(jié)合該實(shí)施例或示例描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)包含于本發(fā)明的至少一個實(shí)施例或示例中。在本說明書中，對上述術(shù)語的示意性表述不一定指的是相同的實(shí)施例或示例。而且，描述的具體特征、結(jié)構(gòu)、材料或者特點(diǎn)可以在任何的一個或多個實(shí)施例或示例中以合適的方式結(jié)合。
[0052]盡管上面已經(jīng)示出和描述了本發(fā)明的實(shí)施例，可以理解的是，上述實(shí)施例是示例性的，不能理解為對本發(fā)明的限制，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的原理和宗旨的情況下在本發(fā)明的范圍內(nèi)可以對上述實(shí)施例進(jìn)行變化、修改、替換和變型。本發(fā)明的范圍由所附權(quán)利要求及其等同限定。
【權(quán)利要求】
1.一種通信數(shù)據(jù)包糾錯校驗方法，其特征在于，包括以下步驟: 接收端接收所述通信數(shù)據(jù)包，其中所述通信數(shù)據(jù)包至少包括初始數(shù)據(jù)包和糾錯數(shù)據(jù)包，其中所述初始數(shù)據(jù)包包括N個初始數(shù)據(jù)塊,且所述N個初始數(shù)據(jù)塊包括N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊與一個第一校驗數(shù)據(jù)塊，所述糾錯數(shù)據(jù)包包括N個糾錯數(shù)據(jù)塊，所述N個糾錯數(shù)據(jù)塊與所述N個初始數(shù)據(jù)塊一一對應(yīng)，2, 所述接收端接收到所述通信數(shù)據(jù)包后，提取所述通信數(shù)據(jù)包中的所述第一校驗數(shù)據(jù)塊，并根據(jù)所述第一校驗數(shù)據(jù)塊對所述N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第一校驗操作，若所述第一校驗操作校驗正確，則接收端對所述N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行處理操作；若所述第一校驗操作校驗錯誤，則所述接收端提取所述通信數(shù)據(jù)包中的所述糾錯數(shù)據(jù)包，并根據(jù)所述糾錯數(shù)據(jù)包對所述初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行糾錯操作，獲得糾正數(shù)據(jù)包，所述糾正數(shù)據(jù)包包括N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊與一個第二校驗數(shù)據(jù)塊； 所述接收端根據(jù)所述第二校驗數(shù)據(jù)塊對所述N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第二校驗操作，若所述第二校驗操作校驗正確，則接收端對所述N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行處理操作；若所述第二校驗操作校驗錯誤，則所述接收端丟棄并請求重新發(fā)送所述通信數(shù)據(jù)包。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述校驗數(shù)據(jù)塊為CRC循環(huán)冗余校驗數(shù)據(jù)塊、BBC異或校驗數(shù)據(jù)塊或LRC縱向冗余校驗數(shù)據(jù)塊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述糾錯數(shù)據(jù)包為ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包、SEC/DED錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包或Chipkill錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或3所 述的方法，其特征在于，所述糾錯數(shù)據(jù)塊為ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊、SEC/DED錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊或Chipkill錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊。
5.一種通信數(shù)據(jù)包糾錯校驗裝置，其特征在于，包括: 接收模塊，用于接收所述通信數(shù)據(jù)包，其中所述通信數(shù)據(jù)包至少包括初始數(shù)據(jù)包和糾錯數(shù)據(jù)包，其中所述初始數(shù)據(jù)包包括N個初始數(shù)據(jù)塊,且所述N個初始數(shù)據(jù)塊包括N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊與一個第一校驗數(shù)據(jù)塊，所述糾錯數(shù)據(jù)包包括N個糾錯數(shù)據(jù)塊，所述N個糾錯數(shù)據(jù)塊與所述N個初始數(shù)據(jù)塊一一對應(yīng)，N^2； 提取模塊，與所述接收模塊相連，用于所述接收模塊接收到所述通信數(shù)據(jù)包后，提取所述通信數(shù)據(jù)包中的所述第一校驗數(shù)據(jù)塊和所述第一有效數(shù)據(jù)塊，還用于當(dāng)校驗?zāi)K進(jìn)行第一校驗操作校驗錯誤時提取所述糾錯數(shù)據(jù)包，還用于當(dāng)糾錯模塊生成糾正數(shù)據(jù)包后提取所述糾正數(shù)據(jù)包中的第二校驗數(shù)據(jù)塊和第二有效數(shù)據(jù)塊； 校驗?zāi)K，與所述提取模塊相連，用于根據(jù)所述第一校驗數(shù)據(jù)塊對所述N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第一校驗操作，還用于根據(jù)第二校驗數(shù)據(jù)塊對N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行第二校驗操作； 處理模塊，與所述校驗?zāi)K相連，用于當(dāng)所述校驗?zāi)K進(jìn)行第一校驗操作校驗正確時對所述N-1個第一有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行處理操作，還用于當(dāng)所述校驗?zāi)K進(jìn)行第二校驗操作校驗正確時對所述N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊進(jìn)行處理操作，還用于當(dāng)所述校驗?zāi)K進(jìn)行第二校驗操作錯誤時，丟棄并請求重新發(fā)送所述通信數(shù)據(jù)包； 糾錯模塊，與所述提取模塊和所述校驗?zāi)K相連，用于根據(jù)所述糾錯數(shù)據(jù)包對所述初始數(shù)據(jù)包進(jìn)行糾錯操作，獲得糾正數(shù)據(jù)包，所述糾正數(shù)據(jù)包包括N-1個第二有效數(shù)據(jù)塊與一個第二校驗數(shù)據(jù)塊。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述校驗數(shù)據(jù)塊為CRC循環(huán)冗余校驗數(shù)據(jù)塊、BBC異或校驗數(shù)據(jù)塊或LRC縱向冗余校驗數(shù)據(jù)塊。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述糾錯數(shù)據(jù)包為ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包、SEC/DED錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包或Chipkill錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)包。
8.根據(jù)權(quán)利要求5或7所述的方法，其特征在于，所述糾錯數(shù)據(jù)塊為ECC錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊、SEC/DED錯誤檢查糾 正數(shù)據(jù)塊或Chipkill錯誤檢查糾正數(shù)據(jù)塊。
【文檔編號】H04L1/00GK103763067SQ201410041241
【公開日】2014年4月30日 申請日期:2014年1月28日 優(yōu)先權(quán)日:2014年1月28日
【發(fā)明者】李東聲 申請人:天地融科技股份有限公司