板卡的測試背板、裝置及子系統(tǒng)、量子密鑰分發(fā)測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型提供了板卡的測試背板、裝置及子系統(tǒng)、量子密鑰分發(fā)測試系統(tǒng)，測試背板有多個板卡槽位，每個板卡槽位可以插入一個板卡，每個板卡槽位與測試背板上的背板接口相連，用于板卡與外部設(shè)備的信息交互，每個板卡槽位的板卡電源座與測試背板的電源座相連，可以為多個板卡同時供電，每個板卡使用測試背板上的背板接口與外部設(shè)備相連，實(shí)現(xiàn)了兩個或多個板卡各自單獨(dú)測試或者互聯(lián)測試。
【專利說明】板卡的測試背板、裝置及子系統(tǒng)、量子密鑰分發(fā)測試系統(tǒng)
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及量子通信【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及板卡的測試背板、裝置及子系統(tǒng)、量子密鑰分發(fā)測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著量子通信技術(shù)的飛速發(fā)展,量子密鑰分發(fā)(Quantum Key Distribution, QKD)逐漸成為一項成熟的應(yīng)用技術(shù)。這項技術(shù)基于量子的不可克隆原理和測不準(zhǔn)原理，其產(chǎn)生的密鑰具有理論上的絕對安全性，主要應(yīng)用于對保密等級要求較高的地方。在量子通信終端設(shè)備中搭建量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)，保證量子通信的安全性和穩(wěn)定性。
[0003]實(shí)現(xiàn)量子密鑰分發(fā)技術(shù)的量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)中，主要有四種電子學(xué)板卡:主控板，數(shù)據(jù)處理板，密鑰管理板和系統(tǒng)管理板。隨著QKD技術(shù)的發(fā)展，系統(tǒng)中板卡的密度和數(shù)量不斷增加，為了保證搭載量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)的量子通信終端的性能，需要對量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)中的各板卡進(jìn)行測試，在此基礎(chǔ)上還需要對各板卡所組成的密鑰分發(fā)系統(tǒng)進(jìn)行測試。特別地，量子密鑰分發(fā)對信號同步、信號反饋控制等有著較高要求，這些環(huán)節(jié)如果出現(xiàn)問題，將直接影響最終的量子密鑰的成碼率，因此對其中涉及到的一些關(guān)鍵信號，如光源驅(qū)動信號、時鐘信號、光學(xué)調(diào)制器控制信號等，需要進(jìn)行專門的測試，以便能及時發(fā)現(xiàn)問題。
[0004]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)的板卡測試示意圖，每一個板卡單獨(dú)與一個用于供電的線性電源相連，每個板卡根據(jù)其所需測試的內(nèi)容，通過自帶的接口或者接觸點(diǎn)與測試設(shè)備(如示波器、萬用表、頻譜儀或計算機(jī)等)相連接，對板卡的部分性能進(jìn)行測試。
[0005]隨著市場需求的不斷提高，為了提高量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)的可靠性，不僅需要對量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)中的各個板卡進(jìn)行單獨(dú)測試，對QKD過程中涉及到的一些關(guān)鍵信號進(jìn)行專門測試，還需要對兩個板卡或多個板卡之間的互聯(lián)信號進(jìn)行測試，在此基礎(chǔ)上還需要對量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)進(jìn)行測試，以便對系統(tǒng)中板卡的問題快速定位。目前，現(xiàn)有技術(shù)中沒有一種裝置可以實(shí)現(xiàn)QKD系統(tǒng)中兩個或者多個板卡測試的裝置。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0006]有鑒于此，本實(shí)用新型提供了板卡的測試背板、裝置及子系統(tǒng)、量子密鑰分發(fā)測試系統(tǒng)，可以實(shí)現(xiàn)兩個或者多個板卡測試。
[0007]—種板卡的測試背板，所述背板包括:
[0008]底板,用于固定背板接口和至少一個板卡槽位；
[0009]所述背板接口包括:
[0010]至少一個探測器計數(shù)信號輸入接口，用于接收探測器輸出的計數(shù)信號；
[0011]光學(xué)調(diào)制器控制信號輸出接口，用于向測試儀器輸出光學(xué)調(diào)制器控制信號；
[0012]至少一個時鐘輸出接口，用于輸出板卡的時鐘信號；
[0013]至少一個時鐘輸入接口，用于接收光電裝置發(fā)送的時鐘信號；
[0014]光電轉(zhuǎn)換接口，用于將輸入的光信號轉(zhuǎn)換成電信號輸出；[0015]電源座，用于提供電源；
[0016]第一高速光電接口，用于將板卡輸入的光源驅(qū)動信號輸出至光源板，并將板卡輸入的控制信號輸出至光學(xué)調(diào)制器，以及將所接收到的光電裝置提供的時鐘信號輸出至板卡，所述光源驅(qū)動信號用于驅(qū)動光源板上的激光器發(fā)光；
[0017]至少一個單端信號輸出接口，用于將板卡輸出的光源驅(qū)動信號轉(zhuǎn)換成單端信號輸出；
[0018]至少一個串口信號接口，用于將板卡的串口信號電平與測試電腦的串口信號電平進(jìn)行相互轉(zhuǎn)換；
[0019]至少一個探測器控制信號輸出接口，用于將探測器控制信號輸出至探測器或測試儀器；
[0020]至少一個網(wǎng)絡(luò)信號接口，用于實(shí)現(xiàn)板卡與其他設(shè)備間網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)的交互；
[0021]板卡槽位,用于插入板卡；
[0022]每個板卡槽位包括:
[0023]高速連接器，所述高速連接器與背板接口相連，用于實(shí)現(xiàn)背板接口與板卡之間的信息交互；
[0024]板卡電源座，所述板卡電源座與背板接口的電源座相連，用于向板卡供電。
[0025]可選的，所述每個板卡槽位還包括:
[0026]一對定位銷，所述一對定位銷位于板卡槽位兩端，用于給插入板卡槽位的板卡定位。
[0027]可選的，所述電源座包括:
[0028]電源處理電路，用于防止電源反相以及限制電流。
[0029]一種板卡的測試裝置，所述裝置包括:
[0030]本實(shí)用新型權(quán)利要求所述的測試背板和支撐部件；
[0031]所述支撐部件包括:
[0032]底座，所述底座一面的四角分別設(shè)置有一個支柱，用于支撐所述底座；
[0033]所述底座的另一面包括:
[0034]至少一個立式支架，所述立式支架、測試背板和底座三者之間兩兩垂直固定，用于支撐和固定所述測試背板；
[0035]至少一對導(dǎo)槽，所述導(dǎo)槽與所述測試背板所在平面垂直固定，所述導(dǎo)槽的個數(shù)是所述板卡槽位個數(shù)的二倍，用于引導(dǎo)板卡正確插入測試背板。
[0036]可選的，所述測試裝置還包括:
[0037]至少一個便攜把手。
[0038]可選的，所述測試裝置還包括:
[0039]至少一個散熱風(fēng)扇，所述散熱風(fēng)扇設(shè)置于底座中間鏤空處。
[0040]一種板卡測試子系統(tǒng)，所述子系統(tǒng)包括:
[0041]本實(shí)用新型權(quán)利要求所述的測試裝置、示波器、測試電腦和電源，所述測試裝置分別通過時鐘信號輸出接口以及單端信號輸出接口與示波器相連，所述測試裝置還分別與測試電腦和電源相連。
[0042]一種板卡測試子系統(tǒng)，所述子系統(tǒng)包括:[0043]本實(shí)用新型權(quán)利要求所述的第一測試裝置，所述第一測試裝置分別與第一光電裝置、第一測試電腦以及第一電源相連；
[0044]本實(shí)用新型權(quán)利要求所述的第二測試裝置，所述第二測試裝置分別與第二光電裝置、第二測試電腦以及第二電源相連；
[0045]所述第一光電裝置和第二光電裝置通過路徑光纖相連；
[0046]所述第一光電裝置包括:探測器、第一光源板、第一光學(xué)部件，所述第一光學(xué)部件中有光學(xué)調(diào)制器；
[0047]所述第二光電裝置包括:第二光源板、第二光學(xué)部件，所述第二光電裝置還包括第二高速光電接口；
[0048]所述第一測試裝置分別通過探測器控制信號輸出接口以及探測器計數(shù)信號輸入接口與探測器相連，通過時鐘信號輸入接口與第一光源板相連，通過光電轉(zhuǎn)換接口與第一光學(xué)部件相連；
[0049]所述第二測試裝置的第一高速光電接口與第二光電裝置的第二高速光電接口相連。
[0050]一種板卡互聯(lián)測試子系統(tǒng)，所述子系統(tǒng)包括:
[0051]本實(shí)用新型權(quán)利要求所述的測試裝置、測試電腦和電源，所述測試裝置分別與測試電腦和電源相連。
[0052]一種量子密鑰分發(fā)測試系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括:
[0053]發(fā)送方子系統(tǒng)，以及接收方子系統(tǒng)；
[0054]每個子系統(tǒng)包括:本實(shí)用新型權(quán)利要求所述的測試裝置、光電裝置、主控板、數(shù)據(jù)處理板、密鑰管理板和系統(tǒng)管理板，各個板卡插入測試裝置中的相應(yīng)板卡槽位；
[0055]每個子系統(tǒng)中的測試裝置上的第一高速光電接口與光電裝置上的第二高速光電接口相連；
[0056]所述接收方子系統(tǒng)中的測試裝置分別通過探測器控制信號輸出接口以及探測器計數(shù)信號輸入接口與光電裝置中的探測器相連；
[0057]所述發(fā)送方子系統(tǒng)中的測試裝置分別與測試電腦、電源和示波器相連，所述接收方子系統(tǒng)中的測試裝置分別與測試電腦、電源、示波器和萬用表相連；
[0058]所述發(fā)送方子系統(tǒng)中的光電裝置和所述接收方子系統(tǒng)中的光電裝置通過路徑光纖相連；
[0059]發(fā)送方子系統(tǒng)中的主控板與接收方子系統(tǒng)中的主控板通過網(wǎng)絡(luò)通道相連；
[0060]發(fā)送方子系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)處理板與接收方子系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)處理板通過網(wǎng)絡(luò)通道相連；
[0061]發(fā)送方子系統(tǒng)中的系統(tǒng)管理板與測試電腦通過測試裝置上的串口信號接口或網(wǎng)絡(luò)信號接口相連；
[0062]接收方子系統(tǒng)中的系統(tǒng)管理板與測試電腦通過測試裝置上的串口信號接口或網(wǎng)絡(luò)信號接口相連。
[0063]由上述內(nèi)容可知，本實(shí)用新型有如下有益效果:
[0064]本實(shí)用新型提供了板卡的測試背板、裝置及子系統(tǒng)、量子密鑰分發(fā)測試系統(tǒng)，測試背板有多個板卡槽位，每個板卡槽位可以插入一個板卡，每個板卡槽位與測試背板上的背板接口相連，用于板卡與外部設(shè)備的信息交互，每個板卡槽位的板卡電源座與測試背板的電源座相連，可以為多個板卡同時供電，每個板卡使用測試背板上的背板接口與外部設(shè)備相連，實(shí)現(xiàn)了兩個或多個板卡各自單獨(dú)測試或者互聯(lián)測試；
[0065]其次，測試背板上設(shè)計有專用測試接口，可將QKD過程中涉及到的一些關(guān)鍵信號(如光源驅(qū)動信號、時鐘信號、光學(xué)調(diào)制器控制信號等)單獨(dú)引入/引出測試背板，以便進(jìn)行專門的測試；這樣，對于QKD過程中比較關(guān)心的信號同步性、信號反饋控制等問題，可以進(jìn)行單獨(dú)、快速的測試和定位，以便及時發(fā)現(xiàn)問題并予以解決。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0066]為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0067]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)的板卡測試示意圖；
[0068]圖2為本實(shí)用新型一種板卡測試背板實(shí)施例一的后視圖；
[0069]圖3為本實(shí)用新型一種板卡測試背板實(shí)施例一的前視圖；
[0070]圖4為本實(shí)用新型一種板卡的測試裝置實(shí)施例二正視圖；
[0071]圖5為本實(shí)用新型一種板卡的測試裝置實(shí)施例二俯視圖；
[0072]圖6為本實(shí)用新型一種板卡的測試裝置實(shí)施例二左視圖；
[0073]圖7為本實(shí)用新型一種板卡測試子系統(tǒng)實(shí)施例三第一種結(jié)構(gòu)示意圖；
[0074]圖8為本實(shí)用新型一種板卡測試子系統(tǒng)實(shí)施例三第二種結(jié)構(gòu)示意圖；
[0075]圖9為本實(shí)用新型一種板卡互聯(lián)測試子系統(tǒng)實(shí)施例四結(jié)構(gòu)示意圖；
[0076]圖10為本實(shí)用新型一種量子密鑰分發(fā)測試系統(tǒng)實(shí)施例五結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0077]本實(shí)用新型公開了板卡的測試背板、裝置及子系統(tǒng)、量子密鑰分發(fā)測試系統(tǒng)，兩個或者多個板卡通過測試背板的背板接口與外部設(shè)備相連，實(shí)現(xiàn)了兩個或多個板卡同時進(jìn)行測試。
[0078]下面結(jié)合附圖對本實(shí)用新型實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說明。
[0079]量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)的板卡，主要分為以下幾種類型:
[0080]第一種:主控板(Main Control, MC),主要作用如下:
[0081](I)向光電裝置發(fā)送時鐘信號、光源驅(qū)動信號、光學(xué)調(diào)制器控制信號和探測器控制號等；
[0082](2)接收探測器輸入信號和光電系統(tǒng)時鐘輸入信號等；
[0083](3)在執(zhí)行延時掃描、信號反饋和數(shù)據(jù)采集時作為主控制器；
[0084](4)配合對端板卡完成基矢比對。
[0085]第二種:數(shù)據(jù)處理板(Data Processing, DP),主要作用如下:
[0086]數(shù)據(jù)處理板與主控板相連，接收主控板發(fā)送的基矢比對后的數(shù)據(jù)，對所接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行糾錯、隱私放大等后期處理，為密鑰應(yīng)用提供密鑰數(shù)據(jù)。[0087]第三種:密鑰管理板(Key Management, KM),主要作用如下:
[0088]接收數(shù)據(jù)處理板發(fā)送的密鑰數(shù)據(jù)，管理應(yīng)用密鑰數(shù)據(jù)。
[0089]第四種:系統(tǒng)管理板(SystemMaintenance and Management, SMM),主要作用如下:
[0090](I)管理控制量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)中各個板卡的通電和斷電操作；
[0091](2)接收量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)中各個板卡上傳的狀態(tài)參數(shù)，并根據(jù)狀態(tài)參數(shù)進(jìn)行處理。
[0092]實(shí)施例一
[0093]圖2為本實(shí)用新型一種板卡測試背板實(shí)施例一的后視圖；圖3為本實(shí)用新型一種板卡測試背板實(shí)施例一的前視圖，所述測試背板包括:
[0094]底板201,用于固定背板接口和至少一個板卡槽位216。
[0095]底板201是一塊PCB板，主要用于固定測試背板的各種部件。
[0096]背板接口包括多種接口，用于將插入測試背板的板卡的信號和數(shù)據(jù)輸出，或者將所接收的外部設(shè)備發(fā)送的信號和數(shù)據(jù)傳輸至插入的板卡，從而實(shí)現(xiàn)板卡和外部設(shè)備之間的信息交互。
[0097]所述背板接口包括:
[0098]至少一個探測器計數(shù)信號輸入接口 202，用于接收探測器輸出的計數(shù)信號。
[0099]當(dāng)測試探測器輸出信號和光電裝置提供的時鐘信號之間的時間差時，探測器計數(shù)信號輸入接口 202與探測器的輸出端相連，主控板通過探測器計數(shù)信號輸入接口 202采集探測器的計數(shù)信號，主控板將所采集的計數(shù)信號同光電裝置提供的時鐘信號之間的時間差發(fā)送到測試電腦，供測試電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。
[0100]探測器計數(shù)信號輸入接口 202的個數(shù)可以根據(jù)實(shí)際需要具體設(shè)定，并不僅限于圖2中所示的4個。
[0101]光學(xué)調(diào)制器控制信號輸出接口 203,用于向測試儀器輸出光學(xué)調(diào)制器控制信號。
[0102]測試量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)時，將光學(xué)調(diào)制器控制信號輸出接口 203與測試儀器相連，將光學(xué)調(diào)制器控制信號輸出至測試儀器，以便觀察光學(xué)調(diào)制器控制信號的狀態(tài)，觀察信號反饋過程是否正常。
[0103]至少一個時鐘輸出接口 204，用于輸出板卡的時鐘信號。
[0104]當(dāng)測試主控板輸出的光源驅(qū)動信號相對于時鐘信號的抖動性時,主控板將時鐘信號通過測試背板上的時鐘輸出接口 204輸出至示波器，以便示波器測試光源驅(qū)動信號相對于時鐘信號的抖動性。
[0105]時鐘輸出接口 204的個數(shù)可以根據(jù)實(shí)際需要具體設(shè)定，并不僅限于圖2中所示的2個。
[0106]至少一個時鐘輸入接口 205,用于接收光電裝置發(fā)送的時鐘信號。
[0107]當(dāng)測試探測器輸出信號和光電裝置提供的電時鐘信號之間的時間差時，將測試背板上的時鐘輸入接口 205與光電裝置中的光源板相連，主控板通過時鐘輸入接口 205采集光源板中的電時鐘信號，主控板將所采集的電時鐘信號同探測器輸出信號之間的時間差發(fā)送到測試電腦，供測試電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。
[0108]時鐘輸入接口 205的個數(shù)可以根據(jù)實(shí)際需要具體設(shè)定，并不僅限于圖2中所示的2個。
[0109]光電轉(zhuǎn)換接口 206,用于將輸入的光信號轉(zhuǎn)換成電信號輸出。
[0110]當(dāng)測試探測器輸出信號和光電裝置提供的光時鐘信號之間的時間差時，將光電轉(zhuǎn)換接口 206與光電裝置的光時鐘信號輸出端相連，主控板通過光電轉(zhuǎn)換接口 206采集光電裝置的光時鐘信號轉(zhuǎn)換成的電信號，主控板將所采集的電信號同探測器輸出信號之間的時間差發(fā)送到測試電腦，供測試電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。
[0111]電源座207，用于提供電源。
[0112]電源座207與外部電源相連，為所有與其相連的器件提供電能。
[0113]可選的，所述電源座207包括:
[0114]電源處理電路，用于防止電源反相以及限制電流，防止電源反相或者電流過大時燒壞連接電路。
[0115]第一高速光電接口 208,用于將板卡輸入的光源驅(qū)動信號輸出至光源板,并將板卡輸入的控制信號輸出至光學(xué)調(diào)制器，以及將所接收到的光電裝置提供的時鐘信號輸出至板卡，所述光源驅(qū)動信號用于驅(qū)動光源板上的激光器發(fā)光。
[0116]當(dāng)測試量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)時，測試背板上的第一高速光電接口 208與光電裝置上的第二高速光電接口相連，將板卡輸入的光源驅(qū)動信號輸出至光電裝置中的光源板，并將板卡輸入的控制信號輸出至光學(xué)部件中的光學(xué)調(diào)制器，以及將所接收到的光電裝置提供的時鐘信號輸出至板卡，所述光源驅(qū)動信號用于驅(qū)動光源板上的激光器發(fā)光。
[0117]至少一個單端信號輸出接口 209，用于將板卡輸出的光源驅(qū)動信號轉(zhuǎn)換成單端信號輸出。
[0118]當(dāng)測試光源驅(qū)動信號相對時鐘信號的抖動性時，由于主控板輸出的光源驅(qū)動信號不方便直接接入示波器，測試背板上的單端信號輸出接口 209，將主控板輸出的光源驅(qū)動信號轉(zhuǎn)換成單端信號并通過SMA接口輸出至示波器，以便示波器測試光源驅(qū)動信號相對于時鐘信號的抖動性。
[0119]單端信號輸出接口 209的個數(shù)可以根據(jù)實(shí)際需要具體設(shè)定，并不僅限于圖2中所示的10個。
[0120]至少一個串口信號接口 210，用于將板卡的串口信號電平和測試電腦的串口信號電平進(jìn)行相互轉(zhuǎn)換。
[0121]當(dāng)測試板卡輸出的串口信號時，由于板卡輸出的串口信號電平不能直接和測試電腦相連；同樣，當(dāng)測試板卡接收的串口信號時，測試電腦輸出的串口信號電平也不能直接和板卡相連，測試背板上的串口信號接口 210將板卡的串口信號電平和測試電腦的串口信號電平進(jìn)行相互轉(zhuǎn)換，以便板卡和測試電腦進(jìn)行信號交互。
[0122]測試時，將板卡與測試背板相連，將測試背板上的串口信號接口 210與測試電腦相連，板卡通過串口信號接口 210接收測試電腦下發(fā)的測試邏輯、控制命令等，并將測試結(jié)果通過串口信號接口 210返回給測試電腦。
[0123]串口信號接口 210的個數(shù)可以根據(jù)實(shí)際需要具體設(shè)定，并不僅限于圖2中所示的6個。
[0124]至少一個探測器控制信號輸出接口 211，用于將探測器控制信號輸出至探測器或測試儀器。[0125]當(dāng)測試量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)時，將探測器控制信號輸出接口 211與探測器控制端相連，如果延時掃描不通過，且探測器計數(shù)沒有變化，則將探測器控制信號輸出接口 211與示波器相連，觀察探測器控制信號在延時掃描過程中是否正常。
[0126]探測器控制信號輸出接口 211的個數(shù)可以根據(jù)實(shí)際需要具體設(shè)定，并不僅限于圖2中所示的4個。
[0127]至少一個網(wǎng)絡(luò)信號接口 212，用于實(shí)現(xiàn)板卡與其他設(shè)備間網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)的交互。
[0128]測試時，將板卡與測試背板相連，將測試背板上的網(wǎng)絡(luò)信號接口 212與測試電腦相連，板卡通過網(wǎng)絡(luò)信號接口 212接收測試電腦下發(fā)的測試邏輯、控制命令等，并將測試結(jié)果通過網(wǎng)絡(luò)信號接口 212返回給測試電腦。
[0129]網(wǎng)絡(luò)信號接口 212的個數(shù)可以根據(jù)實(shí)際需要具體設(shè)定，并不僅限于圖2中所示的4個。
[0130]板卡槽位216,用于插入板卡。
[0131]每個測試背板包括至少一個板卡槽位216，測試時，將板卡插入板卡槽位216。每個板卡插入的板卡槽位216可以不固定，隨意插入；也可以根據(jù)實(shí)際測試時的各個接口或部件之間的連接布線，固定不同的板卡與插入的板卡槽位216之間的插入關(guān)系，也就是說，將板卡插入規(guī)定的板卡槽位216，將板間數(shù)據(jù)傳輸較大的板卡進(jìn)行相互靠近設(shè)置，減少長距
離走線。
[0132]板卡槽位216個數(shù)可根據(jù)實(shí)際情況具體設(shè)定，不僅限于圖3中所示的5個。
[0133]每個板卡槽位216包括:高速連接器213和板卡電源座214。
[0134]高速連接器213，所述高速連接器與背板接口相連，用于實(shí)現(xiàn)背板接口與板卡之間的信息交互。
[0135]每個板卡槽位216上都有高速連接器213，高速連接器213與背板接口相連，當(dāng)板卡插入高速連接器213時，將板卡輸出的信號和數(shù)據(jù)通過測試背板上的背板接口輸出，或者將外部設(shè)備通過測試背板上的背板接口輸入的信號和數(shù)據(jù)傳輸至板卡。高速連接器213實(shí)現(xiàn)了板卡和測試背板的背板接口之間的信息交互。
[0136]板卡電源座214，所述板卡電源座與背板接口的電源座207相連，用于向板卡供電。
[0137]每個板卡槽位216上都設(shè)置有一個板卡電源座214,所述板卡電源座214向插入其所在的板卡槽位216的板卡供電。每個板卡電源座214都與電源座207相連，通過電源座207統(tǒng)一供電?？梢詫?shí)現(xiàn)多個板卡共用同一個供電電源。
[0138]可選的，每個板卡槽位216還包括:
[0139]—對定位銷215,所述一對定位銷215位于板卡槽位兩端如圖2和圖3所不,用于給插入板卡槽位216的板卡定位,引導(dǎo)板卡正確插入板卡槽位216,具有導(dǎo)向作用。
[0140]實(shí)際設(shè)計中，上述測試背板上各個接口的具體形式應(yīng)與其相連接的各個板卡、光電裝置、電源、測試電腦等的對外接口相匹配，圖2、圖3中所示各個接口的形式只是示意性的，其具體形式并不用于限制本實(shí)用新型。
[0141]由上述內(nèi)容可知，本實(shí)用新型有如下有益效果:
[0142]現(xiàn)有技術(shù)中，每個板卡測試時需要獨(dú)立的電源供電，也不能同時對兩個或多個板卡同時進(jìn)行測試。本實(shí)用新型中，測試背板有多個板卡槽位，每個板卡槽位可以插入一個板卡，每個板卡槽位與測試背板上的背板接口相連，用于板卡與外部設(shè)備的信息交互，每個板卡槽位的板卡電源座與測試背板的電源座相連，可以為多個板卡同時供電，每個板卡使用測試背板上的背板接口與外部設(shè)備相連，實(shí)現(xiàn)了兩個或多個板卡各自單獨(dú)測試或者互聯(lián)測試。
[0143]其次，測試背板上設(shè)計有專用測試接口，可將QKD過程中涉及到的一些關(guān)鍵信號(如光源驅(qū)動信號、時鐘信號、光學(xué)調(diào)制器控制信號等)單獨(dú)引入/引出測試背板，以便進(jìn)行專門的測試；這樣，對于QKD過程中比較關(guān)心的信號同步性、信號反饋控制等問題，可以進(jìn)行單獨(dú)、快速的測試和定位，以便及時發(fā)現(xiàn)問題并予以解決。
[0144]實(shí)施例二
[0145]圖4為本實(shí)用新型一種板卡的測試裝置實(shí)施例二正視圖，圖5為本實(shí)用新型一種板卡的測試裝置實(shí)施例二俯視圖，圖6為本實(shí)用新型一種板卡的測試裝置實(shí)施例二左視圖，所述裝置包括:
[0146]本實(shí)用新型實(shí)施例一所述的測試背板401以及支撐部件。
[0147]所述測試背板401包括板卡槽位216和背板接口 201-212，其中，板卡槽位216包括:高速連接器213、板卡電源座214和定位銷215。
[0148]所述支撐部件包括:
[0149]底座402，所述底座402 —面的四角分別設(shè)置有一個支柱403，用于支撐所述底座402。
[0150]所述底座402的另一面包括:
[0151]至少一個立式支架501，用于支撐和固定所述測試背板401。所述立式支架501、測試背板401和底座402三者之間兩兩垂直固定，測試背板401通過立式支架501固定在底座402上。立式支架501與測試背板401之間通過螺絲405固定，立式支架501與底座402之間也通過螺絲405固定。當(dāng)然，這里也可以采用其他固定方式，這里不再一一說明。
[0152]可選的，本實(shí)用新型中立式支架501有兩個，承載測試背板401的受力，減小測試背板401的形變。當(dāng)然，立式支架501的個數(shù)還可以根據(jù)實(shí)際情況具體設(shè)定，并不僅限于2個。
[0153]至少一對導(dǎo)槽404，所述導(dǎo)槽404與所述測試背板401所在平面垂直固定,所述導(dǎo)槽404的個數(shù)是所述板卡槽位216個數(shù)的二倍，用于引導(dǎo)板卡正確插入測試背板401。
[0154]如圖5所示，導(dǎo)槽404成對設(shè)置，導(dǎo)槽404與測試背板401所在平面垂直，固定在底座402上。導(dǎo)槽404的個數(shù)是板卡槽位216個數(shù)的二倍。所述導(dǎo)槽404采用金屬材質(zhì)。
[0155]可選的，所述測試裝置還包括:
[0156]至少一個便攜把手502。
[0157]便攜把手502方便攜帶所述測試裝置。
[0158]可選的，所述測試裝置還包括:
[0159]至少一個散熱風(fēng)扇503，所述散熱風(fēng)扇設(shè)置于底座402中間鏤空處。
[0160]所述散熱風(fēng)扇503與電源座207相連，由電源座207給散熱風(fēng)扇503供電。散熱風(fēng)扇503用于對插入測試背板401的板卡進(jìn)行散熱,散熱風(fēng)扇503采用定向風(fēng)散熱方式,達(dá)到最佳散熱效果，保證整個測試裝置穩(wěn)定可靠。
[0161]由上述內(nèi)容可知，本實(shí)用新型還有如下有益效果:[0162]一方面，現(xiàn)有技術(shù)中，對量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)的測試局限于在板卡所安裝的機(jī)箱內(nèi)部進(jìn)行，受機(jī)箱的結(jié)構(gòu)和板卡之間相互疊加的影響，測試的空間局限性較大。本實(shí)用新型中，測試裝置使用導(dǎo)槽404和定位銷215，方便快速的插入和拔出板卡；板卡利用導(dǎo)槽404和高速連接器213作為支撐，無需添加額外支撐設(shè)備；每個板卡槽位216之間有一定的空間，插入的板卡互不遮擋，合理的利用了空間，提供了一個最大限度的可測試空間。
[0163]另一方面，現(xiàn)有技術(shù)中，機(jī)箱內(nèi)板卡之間的接口信號無法引出，無法對板卡之間的互聯(lián)信號進(jìn)行測試，不易定位接口問題。本實(shí)用新型中，所述測試裝置不僅支持對量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)中的單個板卡進(jìn)行測試，還可以實(shí)現(xiàn)對多個板卡一起測試以及板卡間的互聯(lián)測試，實(shí)現(xiàn)對接口問題的快速定位。
[0164]又一方面，現(xiàn)有技術(shù)中，機(jī)箱體積龐大，不易攜帶，影響板卡測試的效率。本實(shí)用新型中，測試裝置體積小，攜帶方便。
[0165]再一方面，測試裝置采用散熱風(fēng)扇503對板卡進(jìn)行定向風(fēng)散熱，保證整個測試裝置穩(wěn)定可靠。
[0166]實(shí)施例三
[0167]圖7為本實(shí)用新型一種板卡測試子系統(tǒng)實(shí)施例三第一種結(jié)構(gòu)示意圖，所述子系統(tǒng)包括:
[0168]本實(shí)用新型實(shí)施例二所述的測試裝置701、示波器702、測試電腦703和電源704，所述測試裝置701分別通過時鐘信號輸出接口以及單端信號輸出接口與示波器702相連，測試裝置701還分別與測試電腦703和電源704相連。
[0169]所述測試裝置701包括測試背板和支撐部件。
[0170]將需要測試的板卡插入測試裝置701，利用電源704給整個測試子系統(tǒng)供電，利用示波器702和測試電腦703對板卡進(jìn)行測試。每次測試可以只針對一個板卡進(jìn)行測試，也可以對多個板卡同時測試?？梢詼y試板卡輸入/輸出的串口信號，板卡輸出的光源驅(qū)動信號相對時鐘信號的抖動性。
[0171]圖8為本實(shí)用新型一種板卡測試子系統(tǒng)實(shí)施例三第二種結(jié)構(gòu)示意圖，所述子系統(tǒng)包括:
[0172]本實(shí)用新型實(shí)施例二所述的第一測試裝置801，所述第一測試裝置801分別與第一光電裝置802、第一測試電腦803以及第一電源804相連。
[0173]本實(shí)用新型實(shí)施例二所述的第二測試裝置808，所述第二測試裝置808分別與第二光電裝置809、第二測試電腦810以及第二電源811相連。
[0174]第一光電裝置802和第二光電裝置809通過路徑光纖相連。
[0175]所述第一光電裝置802包括:探測器805、第一光源板806、第一光學(xué)部件807,所述第一光學(xué)部件807中有光學(xué)調(diào)制器。
[0176]所述第二光電裝置809包括:第二光源板812、第二光學(xué)部件813，所述第二光電裝置809還包括第二高速光電接口。
[0177]第一測試裝置801分別通過探測器控制信號輸出接口以及探測器計數(shù)信號輸入接口與探測器805相連；第一測試裝置801通過時鐘信號輸入接口與第一光源板806相連；第一測試裝置801通過光電轉(zhuǎn)換接口與第一光學(xué)部件807相連。
[0178]第二測試裝置808的第一高速光電接口與第二光電裝置809的第二高速光電接口相連。
[0179]上述第二種子系統(tǒng)用于測試第一光電裝置802中探測器805輸出信號和第一光電裝置802提供的電時鐘信號之間的時間差以及探測器805輸出信號和第一光電裝置802提供的光時鐘信號之間的時間差。
[0180]下面結(jié)合具體的測試實(shí)例對上述測試子系統(tǒng)進(jìn)行詳細(xì)說明:
[0181]第一種測試實(shí)例:板卡的關(guān)鍵信號引出測試
[0182]先將待測板卡插入測試背板中的板卡槽位，利用導(dǎo)槽和定位銷的定位導(dǎo)向作用，使板卡與板卡槽位中的高速連接器和板卡電源座緊密接觸，高速連接器用于將各種數(shù)據(jù)和信號引入和引出待測試板卡。板卡電源座與測試背板上的電源座相連，測試背板上的電源座與外部電源相連，為待測板卡供電。散熱風(fēng)扇通電后自動開啟，為待測板卡散熱。下述測試實(shí)例采用實(shí)施例三所述的板卡測試子系統(tǒng)。
[0183](I)測試板卡的串口輸入/輸出信號
[0184]將測試背板上的串口信號接口與測試電腦相連，所述串口信號接口將待測板卡的串口信號電平與測試電腦的串口信號電平進(jìn)行相互轉(zhuǎn)換，測試方法包括:
[0185]1.1.1、初始化待測板卡。
[0186]1.1.2、從測試電腦加載測試串口信號的測試邏輯，并將所述測試邏輯發(fā)送到待測板卡。
[0187]1.1.3、接收所述測試電腦發(fā)送的處理數(shù)據(jù)，并將所述處理數(shù)據(jù)發(fā)送到待測板卡，以便待測板卡對處理數(shù)據(jù)進(jìn)行處理得到測試數(shù)據(jù)。
[0188]1.1.4、接收待測板卡發(fā)送的測試數(shù)據(jù)。
[0189]1.1.5、將所述測試數(shù)據(jù)發(fā)送到測試電腦，以便測試電腦接收到測試數(shù)據(jù)后進(jìn)行分析得到測試結(jié)果。
[0190](2)測試板卡輸出的光源驅(qū)動信號相對時鐘信號的抖動性
[0191]將測試背板上的單端信號輸出接口和時鐘信號輸出接口連接至示波器。
[0192]1.2.1、初始化待測板卡。
[0193]1.2.2、從測試電腦加載抖動性測試邏輯，將所述抖動性測試邏輯發(fā)送到待測板卡。
[0194]1.2.3、待測板卡根據(jù)抖動性測試邏輯發(fā)送光源驅(qū)動信號以及時鐘信號。
[0195]1.2.4、接收待測板卡發(fā)送的光源驅(qū)動信號以及時鐘信號。
[0196]1.2.5、將所述光源驅(qū)動信號以及所述時鐘信號輸出至示波器，以便示波器分析光源驅(qū)動信號相對于時鐘信號的抖動性。
[0197](3)測試探測器輸出信號和光電裝置提供的電時鐘信號之間的時間差
[0198]將測試背板上的探測器計數(shù)信號輸入接口與探測器輸出端相連，將探測器控制信號輸出接口與探測器控制端相連，將時鐘信號輸入接口與光電裝置上的光源板相連。
[0199]1.3.1、初始化待測板卡。
[0200]1.3.2、從測試電腦加載第一時間差測試邏輯，將所述第一時間差測試邏輯發(fā)送到待測板卡。
[0201]所述第一時間差測試邏輯用于測試探測器輸出信號和光電裝置提供的電時鐘信號之間的時間差。[0202]1.3.3、待測板卡采集探測器計數(shù)信號以及光電裝置的電時鐘信號。
[0203]待測板卡通過探測器計數(shù)信號輸入接口采集探測器輸出的計數(shù)信號，通過時鐘信號輸入接口采集電時鐘信號。
[0204]1.3.4、接收待測板卡所采集的探測器計數(shù)信號同電時鐘信號之間的時間差。
[0205]1.3.5、將所采集的探測器計數(shù)信號同電時鐘信號之間的時間差發(fā)送到測試電腦，以便測試電腦分析得到測試結(jié)果。
[0206](4)測試探測器輸出信號和光電裝置提供的光時鐘信號之間的時間差
[0207]將測試背板上的探測器計數(shù)信號輸入接口與探測器輸出端相連，將探測器控制信號輸出接口與探測器控制端相連，將光電轉(zhuǎn)換接口與光電裝置上的光學(xué)部件相連。
[0208]1.4.1、初始化待測板卡。
[0209]1.4.2、從測試電腦加載第二時間差測試邏輯，將所述第二時間差測試邏輯發(fā)送到待測板卡。
[0210]所述第二時間差測試邏輯用于測試探測器輸出信號和光電裝置提供的光時鐘信號之間的時間差。
[0211]1.4.3、待測板卡采集探測器計數(shù)信號以及光電裝置的光時鐘信號。
[0212]待測板卡通過探測器計數(shù)信號輸入接口采集探測器輸出的計數(shù)信號，通過光電轉(zhuǎn)換接口采集光時鐘信號。
[0213]1.4.4、接收待測板卡發(fā)送的探測器計數(shù)信號同光時鐘信號之間的時間差。
[0214]1.4.5、將所采集的探測器計數(shù)信號同光時鐘信號之間的時間差發(fā)送到測試電腦，以便測試電腦分析得到測試結(jié)果。
[0215]上述測試實(shí)例可以應(yīng)用于量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)的板卡，并不僅限于上述測試實(shí)例，其他測試實(shí)例類似，這里不再一一贅述。還可以對多塊板卡同時測試，將多塊板卡都插入板卡槽位中，使用同一個電源和測試電腦進(jìn)行測試，多塊板卡之間的測試相互之間沒有影響。
[0216]實(shí)施例四
[0217]圖9為本實(shí)用新型一種板卡互聯(lián)測試子系統(tǒng)實(shí)施例四結(jié)構(gòu)示意圖，所述子系統(tǒng)包括:
[0218]本實(shí)用新型實(shí)施例二所述的測試裝置901、測試電腦902和電源903，所述測試裝置901分別與測試電腦902和電源903相連。
[0219]所述測試裝置901包括測試背板和支撐部件。
[0220]板卡互聯(lián)測試子系統(tǒng)用于測試板卡之間信號的連通性。
[0221]下面結(jié)合具體的測試實(shí)例對上述板卡互聯(lián)測試子系統(tǒng)進(jìn)行詳細(xì)說明:
[0222]第二種測試實(shí)例:板卡的互聯(lián)測試
[0223]以測試主控板與數(shù)據(jù)處理板之間的串口連通性為例，將主控板、數(shù)據(jù)處理板和系統(tǒng)管理板插入板卡槽位，利用導(dǎo)槽和定位銷的定位導(dǎo)向作用，使主控板、數(shù)據(jù)處理板和系統(tǒng)管理板與各自插入的板卡槽位中的高速連接器和板卡電源座緊密接觸，高速連接器用于將各種數(shù)據(jù)和信號引入和引出待測試板卡。測試背板上的電源座與外部電源相連，每個板卡槽位上的板卡電源座與電源座相連,每個板卡槽位上的板卡電源座為插入此板卡槽位的板卡供電。散熱風(fēng)扇通電后自動開啟，為板卡散熱。本測試實(shí)例采用實(shí)施例四所述的板卡互聯(lián)測試子系統(tǒng)。[0224]系統(tǒng)管理板通過網(wǎng)絡(luò)信號接口與測試電腦相連。
[0225]2.1.1、初始化主控板、數(shù)據(jù)處理板和系統(tǒng)管理板。
[0226]2.1.2、從測試電腦加載互聯(lián)測試邏輯，并將所述互聯(lián)測試邏輯發(fā)送到系統(tǒng)管理板。
[0227]2.1.3、系統(tǒng)管理板向主控板發(fā)送測試指令，主控板發(fā)起其與數(shù)據(jù)處理板之間的串口測試，主控板向系統(tǒng)管理板返回測試數(shù)據(jù)。
[0228]2.1.4、接收系統(tǒng)管理板發(fā)送的測試數(shù)據(jù)。
[0229]2.1.5、將所述測試數(shù)據(jù)發(fā)送到測試電腦，以便測試電腦進(jìn)行分析得到測試結(jié)果。
[0230]具體應(yīng)用時，并不僅限于上述實(shí)例中的測試主控板與數(shù)據(jù)處理板之間的串口連通性，還可以進(jìn)行其他板卡間的互聯(lián)測試。
[0231]實(shí)施例五
[0232]圖10為本實(shí)用新型一種量子密鑰分發(fā)測試系統(tǒng)實(shí)施例五結(jié)構(gòu)示意圖，所述系統(tǒng)包括:
[0233]發(fā)送方子系統(tǒng)1001，以及接收方子系統(tǒng)1002。
[0234]每個子系統(tǒng)包括本實(shí)用新型實(shí)施例二所述的測試裝置、光電裝置、主控板、數(shù)據(jù)處理板、密鑰管理板和系統(tǒng)管理板，各個板卡插入測試裝置中的相應(yīng)板卡槽位。
[0235]每個子系統(tǒng)中的測試裝置上的第一高速光電接口與光電裝置上的第二高速光電接口相連。
[0236]每個子系統(tǒng)也可以同時既作為發(fā)送方子系統(tǒng)，也作為接收方子系統(tǒng)。
[0237]所述接收方子系統(tǒng)1002中的測試裝置分別通過探測器控制信號輸出接口以及探測器計數(shù)信號輸入接口與接收方光電裝置1004中的探測器相連。
[0238]所述發(fā)送方子系統(tǒng)1001中的測試裝置分別與測試電腦、電源和示波器相連；所述接收方子系統(tǒng)1002中的測試裝置分別與測試電腦、電源、示波器和萬用表相連。
[0239]所述發(fā)送方子系統(tǒng)1001中的發(fā)送方光電裝置1003和所述接收方子系統(tǒng)1002中的接收方光電裝置1004通過路徑光纖相連。
[0240]發(fā)送方子系統(tǒng)1001中的主控板與接收方子系統(tǒng)1002中的主控板通過網(wǎng)絡(luò)通道相連。
[0241]通過網(wǎng)絡(luò)通道實(shí)現(xiàn)發(fā)送方子系統(tǒng)1001中的主控板與接收方子系統(tǒng)1002中的主控板之間的數(shù)據(jù)交互。
[0242]發(fā)送方子系統(tǒng)1001中的數(shù)據(jù)處理板與接收方子系統(tǒng)1002中的數(shù)據(jù)處理板通過網(wǎng)絡(luò)通道相連。
[0243]通過網(wǎng)絡(luò)通道實(shí)現(xiàn)發(fā)送方子系統(tǒng)1001中的數(shù)據(jù)處理板與接收方子系統(tǒng)1002中的數(shù)據(jù)處理板之間的數(shù)據(jù)交互。
[0244]發(fā)送方子系統(tǒng)1001中的系統(tǒng)管理板與測試電腦通過測試裝置上的串口信號接口或網(wǎng)絡(luò)信號接口相連。
[0245]接收方子系統(tǒng)1002中的系統(tǒng)管理板與測試電腦通過測試裝置上的串口信號接口或網(wǎng)絡(luò)信號接口相連。
[0246]串口信號接口或網(wǎng)絡(luò)信號接口實(shí)現(xiàn)了系統(tǒng)管理板與測試電腦之間的狀態(tài)數(shù)據(jù)和控制命令的交互。[0247]量子密鑰分發(fā)測試系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)對量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)進(jìn)行系統(tǒng)測試，分析定位系統(tǒng)中的異常。
[0248]下面結(jié)合具體的測試實(shí)例對上述量子密鑰分發(fā)測試系統(tǒng)進(jìn)行詳細(xì)說明:
[0249]第三種測試實(shí)例:量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)測試
[0250]本測試實(shí)例采用本實(shí)用新型實(shí)施例五所提供的量子密鑰分發(fā)測試系統(tǒng)。將收發(fā)方子系統(tǒng)中的主控板、數(shù)據(jù)處理板、系統(tǒng)管理板以及密鑰管理板插入各子系統(tǒng)中的測試裝置中的板卡槽位。利用導(dǎo)槽和定位銷的定位導(dǎo)向作用，使主控板、數(shù)據(jù)處理板、系統(tǒng)管理板以及密鑰管理板與各自插入的板卡槽位中的高速連接器和板卡電源座緊密接觸，高速連接器用于將各種數(shù)據(jù)和信號引入和引出待測試板卡。測試背板上的電源座與外部電源相連，每個板卡槽位上的板卡電源座與電源座相連，每個板卡槽位上的板卡電源座為插入此板卡槽位的板卡供電，則各子系統(tǒng)中的主控板、數(shù)據(jù)處理板、系統(tǒng)管理板以及密鑰管理板使用共同的電源供電。每個子系統(tǒng)的測試裝置中的散熱風(fēng)扇為板卡進(jìn)行散熱，保證子系統(tǒng)的穩(wěn)定性。
[0251]所述發(fā)送方子系統(tǒng)中的發(fā)送方光電裝置和所述接收方子系統(tǒng)中的接收方光電裝置通過路徑光纖相連；發(fā)送方子系統(tǒng)中的主控板與接收方子系統(tǒng)的主控板通過網(wǎng)絡(luò)通道相連；發(fā)送方子系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)處理板與接收方子系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理板通過網(wǎng)絡(luò)通道相連；發(fā)送方子系統(tǒng)中的系統(tǒng)管理板與測試電腦通過串口信號接口或網(wǎng)絡(luò)信號接口相連；接收方子系統(tǒng)中的系統(tǒng)管理板與測試電腦通過串口信號接口或網(wǎng)絡(luò)信號接口相連；每個子系統(tǒng)中的測試背板上的第一高速光電接口與光電裝置上的第二高速光電接口相連；接收方子系統(tǒng)中的測試裝置分別通過探測器控制信號輸出接口以及探測器計數(shù)信號輸入接口與接收方光電裝置中的探測器相連。
[0252]3.1.1、發(fā)送方子系統(tǒng)和接收方子系統(tǒng)分別初始化各自系統(tǒng)中的主控板、數(shù)據(jù)處理板、系統(tǒng)管理板和密鑰管理板。
[0253]3.1.2、發(fā)送方子系統(tǒng)和接收方子系統(tǒng)分別從各自的測試電腦加載量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)測試邏輯，并將所述量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)測試邏輯分別發(fā)送到各自系統(tǒng)中的主控板、數(shù)據(jù)處理板、系統(tǒng)管理板和密鑰管理板。
[0254]3.1.3、發(fā)送方測試電腦下發(fā)測試指令，發(fā)送方子系統(tǒng)和接收方子系統(tǒng)根據(jù)量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)測試邏輯進(jìn)行測試。
[0255]3.1.4、接收各子系統(tǒng)量子密鑰分發(fā)的測試數(shù)據(jù)。
[0256]3.1.5、將各子系統(tǒng)量子密鑰分發(fā)的測試數(shù)據(jù)發(fā)送到各子系統(tǒng)的測試電腦，以便測試電腦分析測試數(shù)據(jù)得到測試結(jié)果。
[0257]通過測試電腦上的調(diào)試軟件可以查看各子系統(tǒng)運(yùn)行狀態(tài)及異常信息情況。例如，運(yùn)行過程出現(xiàn)異常時可能有以下幾種情況:
[0258]如果光信號沒有發(fā)出來，將單端信號輸出接口連接至示波器，觀察光源驅(qū)動信號是否正常；
[0259]如果延時掃描不通過，且探測器計數(shù)無變化，那么將探測器控制信號輸出接口連接至示波器，觀察探測器控制信號延時掃描過程是否正常；
[0260]如果信號反饋不通過，且探測器計數(shù)變化范圍不大，將光學(xué)調(diào)制器控制信號輸出接口連接至萬用表，觀察信號反饋過程是否正常；
[0261]如果數(shù)據(jù)采集沒有信號，將探測器輸出端連接至示波器，觀察探測器輸出是否正堂
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[0262]觀察上述關(guān)鍵信號是否正常，基本可以分析定位出量子密鑰分發(fā)系統(tǒng)中的異常點(diǎn)所在。當(dāng)然，異常情況并不僅限于上述幾種情況，還有其他的異常情況出現(xiàn)，這里不再一一贅述。
[0263]以上所述僅為本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本實(shí)用新型，凡在本實(shí)用新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種板卡的測試背板，其特征在于，所述背板包括: 底板，用于固定背板接口和至少一個板卡槽位； 所述背板接口包括: 至少一個探測器計數(shù)信號輸入接口，用于接收探測器輸出的計數(shù)信號； 光學(xué)調(diào)制器控制信號輸出接口，用于向測試儀器輸出光學(xué)調(diào)制器控制信號； 至少一個時鐘輸出接口，用于輸出板卡的時鐘信號； 至少一個時鐘輸入接口，用于接收光電裝置發(fā)送的時鐘信號； 光電轉(zhuǎn)換接口，用于將輸入的光信號轉(zhuǎn)換成電信號輸出； 電源座，用于提供電源； 第一高速光電接口，用于將板卡輸入的光源驅(qū)動信號輸出至光源板，并將板卡輸入的控制信號輸出至光學(xué)調(diào)制器，以及將所接收到的光電裝置提供的時鐘信號輸出至板卡，所述光源驅(qū)動信號用于驅(qū)動光源板上的激光器發(fā)光； 至少一個單端信號輸出接口，用于將板卡輸出的光源驅(qū)動信號轉(zhuǎn)換成單端信號輸出；至少一個串口信號接口，用于將板卡的串口信號電平與測試電腦的串口信號電平進(jìn)行相互轉(zhuǎn)換； 至少一個探測器控制信號輸出接口，用于將探測器控制信號輸出至探測器或測試儀器； 至少一個網(wǎng)絡(luò)信號接口，用于實(shí)現(xiàn)板卡與其他設(shè)備間網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)的交互； 板卡槽位，用于插入板卡； 每個板卡槽位包括: 高速連接器，所述高速連接器與背板接口相連，用于實(shí)現(xiàn)背板接口與板卡之間的信息交互； 板卡電源座，所述板卡電源座與背板接口的電源座相連，用于向板卡供電。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的背板，其特征在于，所述每個板卡槽位還包括: 一對定位銷，所述一對定位銷位于板卡槽位兩端，用于給插入板卡槽位的板卡定位。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的背板，其特征在于，所述電源座包括: 電源處理電路，用于防止電源反相以及限制電流。
4.一種板卡的測試裝置，其特征在于，所述裝置包括: 權(quán)利要求1-3任意一項所述的測試背板和支撐部件； 所述支撐部件包括: 底座，所述底座一面的四角分別設(shè)置有一個支柱，用于支撐所述底座； 所述底座的另一面包括: 至少一個立式支架，所述立式支架、測試背板和底座三者之間兩兩垂直固定，用于支撐和固定所述測試背板； 至少一對導(dǎo)槽，所述導(dǎo)槽與所述測試背板所在平面垂直固定，所述導(dǎo)槽的個數(shù)是所述板卡槽位個數(shù)的二倍，用于引導(dǎo)板卡正確插入測試背板。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括: 至少一個便攜把手。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括:至少一個散熱風(fēng)扇，所述散熱風(fēng)扇設(shè)置于底座中間鏤空處。
7.一種板卡測試子系統(tǒng)，其特征在于，所述子系統(tǒng)包括: 權(quán)利要求4-6任意一項所述的測試裝置、示波器、測試電腦和電源，所述測試裝置分別通過時鐘信號輸出接口以及單端信號輸出接口與示波器相連，所述測試裝置還分別與測試電腦和電源相連。
8.一種板卡測試子系統(tǒng)，其特征在于，所述子系統(tǒng)包括: 權(quán)利要求4-6任意一項所述的測試裝置作為第一測試裝置，所述第一測試裝置分別與第一光電裝置、第一測試電腦以及第一電源相連； 權(quán)利要求4-6任意一項所述的測試裝置作為第二測試裝置，所述第二測試裝置分別與第二光電裝置、第二測試電腦以及第二電源相連； 所述第一測試裝置中的第一光電裝置和第二測試裝置中的第二光電裝置通過路徑光纖相連； 所述第一光電裝置包括:探測器、第一光源板、第一光學(xué)部件，所述第一光學(xué)部件中有光學(xué)調(diào)制器； 所述第二光電裝置包括:第二光源板、第二光學(xué)部件，所述第二光電裝置還包括第二高速光電接口； 所述第一測試裝置分別通過探測器控制信號輸出接口以及探測器計數(shù)信號輸入接口與探測器相連，通過時鐘信號輸入接口與第一光源板相連，通過光電轉(zhuǎn)換接口與第一光學(xué)部件相連； 所述第二測試裝置的第一高速光電接口與第二光電裝置的第二高速光電接口相連。
9.一種板卡測試子系統(tǒng)，其特征在于，所述子系統(tǒng)包括: 權(quán)利要求4-6任意一項所述的測試裝置、測試電腦和電源，所述測試裝置分別與測試電腦和電源相連。
10.一種量子密鑰分發(fā)測試系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括: 發(fā)送方子系統(tǒng)，以及接收方子系統(tǒng)； 每個子系統(tǒng)包括:權(quán)利要求4-6任意一項所述的測試裝置、光電裝置、主控板、數(shù)據(jù)處理板、密鑰管理板和系 統(tǒng)管理板，各個板卡插入測試裝置中的相應(yīng)板卡槽位； 每個子系統(tǒng)中的測試裝置上的第一高速光電接口與光電裝置上的第二高速光電接口相連； 所述接收方子系統(tǒng)中的測試裝置分別通過探測器控制信號輸出接口以及探測器計數(shù)信號輸入接口與光電裝置中的探測器相連； 所述發(fā)送方子系統(tǒng)中的測試裝置分別與測試電腦、電源和示波器相連，所述接收方子系統(tǒng)中的測試裝置分別與測試電腦、電源、示波器和萬用表相連； 所述發(fā)送方子系統(tǒng)中的光電裝置和所述接收方子系統(tǒng)中的光電裝置通過路徑光纖相連； 發(fā)送方子系統(tǒng)中的主控板與接收方子系統(tǒng)中的主控板通過網(wǎng)絡(luò)通道相連； 發(fā)送方子系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)處理板與接收方子系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)處理板通過網(wǎng)絡(luò)通道相連；發(fā)送方子系統(tǒng)中的系統(tǒng)管理板與測試電腦通過測試裝置上的串口信號接口或網(wǎng)絡(luò)信號接口相連；接收方子系 統(tǒng)中的系統(tǒng)管理板與測試電腦通過測試裝置上的串口信號接口或網(wǎng)絡(luò)信號接口相連。
【文檔編號】H04L9/08GK203708262SQ201320614144
【公開日】2014年7月9日 申請日期:2013年9月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年9月30日
【發(fā)明者】蔣連軍, 代云啟, 張志剛, 唐世彪, 周雷, 武宏宇, 趙勇 申請人:安徽量子通信技術(shù)有限公司, 山東量子科學(xué)技術(shù)研究院有限公司