專(zhuān)利名稱(chēng)：同異步串行接口硬件測(cè)試裝置及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通信技術(shù)，特別涉及通信領(lǐng)域中同異步串行接口的硬件電路檢測(cè)技術(shù)。
背景技術(shù)：
在數(shù)據(jù)通信設(shè)備、數(shù)據(jù)終端設(shè)備和其它數(shù)據(jù)處理設(shè)備中，配備有各種串行數(shù)據(jù)通信接口，如V35/VM模式的同異步串行接口是一個(gè)很常用、很普遍的數(shù)據(jù)通信接口。配備同異步串行接口的設(shè)備隨著市場(chǎng)的廣泛應(yīng)用，用戶應(yīng)用場(chǎng)景對(duì)接口穩(wěn)定性、可靠性的要求越來(lái)越高，例如連接數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)終端、ATM機(jī)等終端設(shè)備的同異步串行接口，其硬件質(zhì)量測(cè)試及產(chǎn)品生產(chǎn)檢測(cè)是很關(guān)鍵重要的環(huán)節(jié)。目前對(duì)同異步串行接口的一般硬件測(cè)試方法，一種是采用自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭與被測(cè)設(shè)備的同異步串行接口連接的的測(cè)試方法，即將同異步串行接口中各個(gè)信號(hào)通過(guò)外部自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭在同異步串行接口處形成環(huán)回，通過(guò)控制被測(cè)設(shè)備的同異步串行接口收發(fā)數(shù)據(jù)來(lái)檢測(cè)接口硬件信號(hào)的連通性。當(dāng)被測(cè)設(shè)備為 DTE設(shè)備時(shí)，其串行VM接口為25針，對(duì)于串行V35接口為34針，那么對(duì)應(yīng)連接的自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭則分別是25孔或34孔的，另外該測(cè)試接頭帶有將接口信號(hào)進(jìn)行環(huán)回的線路。當(dāng)被測(cè)設(shè)備為DCE設(shè)備時(shí)，所述自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭則是對(duì)應(yīng)的針頭，具體不再贅述。該測(cè)試方法中，如果串行接口模塊各信號(hào)線間存在粘連或故障，如XCLK、RCLK、TCLK信號(hào)線粘連在一起，都無(wú)法檢測(cè)出來(lái)，檢測(cè)的全面性和檢測(cè)結(jié)果的有效性較差，且在出現(xiàn)故障后問(wèn)題的定位困難。另一種方法通過(guò)兩個(gè)配備同異步串行接口的設(shè)備或接口卡，配對(duì)模擬轉(zhuǎn)發(fā)數(shù)據(jù)的方式對(duì)硬件信號(hào)的穩(wěn)定性、連通性進(jìn)行測(cè)試。該測(cè)試方法中，兩個(gè)同異步串行接口配對(duì)發(fā)送數(shù)據(jù)測(cè)試，對(duì)接口中各個(gè)信號(hào)檢測(cè)結(jié)果的判斷不為直觀，很難去判定信號(hào)的質(zhì)量及穩(wěn)定性， 且測(cè)試方法不夠靈活，測(cè)試成本較高，不適合應(yīng)用在產(chǎn)品批量生產(chǎn)階段的檢測(cè)?；谝陨犀F(xiàn)有測(cè)試方法測(cè)試直觀性較差、出現(xiàn)故障難以定位、檢測(cè)不夠全面等等局限性，導(dǎo)致同異步串行接口的穩(wěn)定性、可靠性很差，產(chǎn)品的質(zhì)量難以保證，直接影響到客戶使用，那么采用低成本、高效率、全面性、有效性、直觀性的檢測(cè)方法成為了一種迫切的需求。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的就是克服目前通信設(shè)備中同異步串行接口的硬件測(cè)試方式直觀性較差、出現(xiàn)故障難以定位及檢測(cè)不夠全面導(dǎo)致產(chǎn)品質(zhì)量難以保證的缺點(diǎn)，提供一種同異步串行接口硬件測(cè)試裝置及方法。本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題，采用的技術(shù)方案是，同異步串行接口硬件測(cè)試裝置，其特征在于，包括第一同異步串行接口，第二同異步串行接口，自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭、信號(hào)檢測(cè)電路及狀態(tài)顯示模塊，所述第一同異步串行接口與被測(cè)設(shè)備的同異步串行接口連接，第二同異步串行接口分別與第一同異步串行接口、自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭連接，信號(hào)檢測(cè)電路分別與第一同異步串行接口以及狀態(tài)顯示模塊連接；所述第一同異步串行接口用于與被測(cè)設(shè)備的同異步串行接口連接，并將所有的串行接口信號(hào)引出給信號(hào)檢測(cè)電路和第二同異步串行接口；所述信號(hào)檢測(cè)電路用于檢測(cè)由第一同異步串行接口中引入的所有信號(hào)，判斷各信號(hào)的電平范圍，并通過(guò)檢測(cè)結(jié)果控制狀態(tài)顯示模塊；所述狀態(tài)顯示模塊用于根據(jù)信號(hào)檢測(cè)電路的檢測(cè)結(jié)果顯示檢測(cè)信號(hào)的相應(yīng)狀態(tài)；所述自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭用于將來(lái)自第二同異步串行接口中的所有信號(hào)環(huán)回。具體的，所述信號(hào)檢測(cè)電路包括差分信號(hào)檢測(cè)電路和單端信號(hào)檢測(cè)電路，所述差分信號(hào)檢測(cè)電路用于檢測(cè)判斷第一同異步串行接口中引出的所有差分信號(hào)，并將檢測(cè)結(jié)果通過(guò)狀態(tài)顯示模塊進(jìn)行顯示；所述單端信號(hào)檢測(cè)電路，用于檢測(cè)同異步串行接口中引出的所有單端信號(hào)，并將檢測(cè)結(jié)果通過(guò)狀態(tài)顯示模塊進(jìn)行顯示。進(jìn)一步的，所述單端信號(hào)檢測(cè)電路包括比較器U1、比較器U2、第一閾值電壓輸入端 、第二閾值電壓輸入端Ul及單端信號(hào)輸入端，所述比較器Ul的正相輸入端與第一閾值電壓輸入端Uh連接，負(fù)相輸入端與比較器U2的正相輸入端連接，并與單端信號(hào)輸入端連接，比較器U2的負(fù)相輸入端與第二閾值電壓輸入端Ul連接，比較器Ul的輸出端及比較器 U2的輸出端分別與狀態(tài)顯示模塊連接。再進(jìn)一步的，所述差分信號(hào)檢測(cè)電路包括放大器模塊、窗口比較器模塊及差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)器模塊；所述放大器模塊用于將輸入的差分信號(hào)進(jìn)行取其中間電壓值并放大后傳輸給差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)器模塊；所述比較器模塊用于將輸入的差分信號(hào)與設(shè)置的閾值電壓值進(jìn)行比較，并將比較結(jié)果傳輸給差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)器模塊；所述差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)器模塊用于根據(jù)輸入的比較結(jié)果和中間電壓值控制狀態(tài)顯示模塊進(jìn)行狀態(tài)顯示。具體的，所述放大器模塊包括差分信號(hào)對(duì)中間電壓值的輸入端、放大器U4,所述放大器U4將差分信號(hào)的電壓中間值進(jìn)行放大，輸出端通過(guò)兩個(gè)二極管D1、二極管D2的分壓后，形成兩個(gè)閾值電SUhi、1 ；所述窗口比較器模塊包括比較器U5、比較器U6、第一閾值電壓輸入端&、第二閾值電壓輸入端&及差分信號(hào)中間電壓值輸入端，所述比較器U5的正相輸入端與第一閾值電壓輸入端RH連接，負(fù)相輸入端與比較器TO的正相輸入端連接，并與差分信號(hào)中間電壓值輸入端連接，比較器U6的負(fù)相輸入端與第二閾值電壓輸入端Ul連接，比較器Ul的輸出端及比較器U2的輸出端連接到差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)器模塊的使能端連接；所述差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)器模塊包括原始差分信號(hào)對(duì)的輸入端、窗口比較器的輸出、放大器U4輸出端形成的兩個(gè)閾值電壓^pUutj具體的，所述同異步串行接口包括V35接口和VM接口。
本發(fā)明的另一個(gè)目的，提供一種同異步串行接口硬件測(cè)試方法，其特征在于，包括以下步驟a.將被測(cè)設(shè)備的同異步串行接口與硬件測(cè)試裝置的第一同異步串行接口連接，被測(cè)設(shè)備上電；b.測(cè)試控制臺(tái)向被測(cè)設(shè)備發(fā)送測(cè)試命令，被測(cè)設(shè)備發(fā)送測(cè)試報(bào)文到其同異步串行接口中；c.硬件測(cè)試裝置的第一同異步串行接口引出所有信號(hào)并傳輸給信號(hào)檢測(cè)電路，信號(hào)檢測(cè)電路檢測(cè)這些所有信號(hào)，判斷各信號(hào)的電平范圍，并通過(guò)檢測(cè)結(jié)果控制狀態(tài)顯示模塊進(jìn)行顯示；d.所述測(cè)試報(bào)文經(jīng)過(guò)硬件測(cè)試裝置環(huán)回后，返回到被測(cè)設(shè)備；e.被測(cè)設(shè)備將收到的經(jīng)過(guò)環(huán)回的測(cè)試報(bào)文與之前發(fā)送出去的測(cè)試報(bào)文進(jìn)行對(duì)比， 并將判斷結(jié)果反饋給測(cè)試控制臺(tái)。進(jìn)一步的，所述步驟c中，狀態(tài)顯示模塊采用指示燈進(jìn)行同異步串行接口信號(hào)狀態(tài)的顯示。進(jìn)一步的，所述步驟d中，所述測(cè)試報(bào)文經(jīng)過(guò)硬件測(cè)試裝置環(huán)回后是指，所述測(cè)試報(bào)文經(jīng)過(guò)硬件測(cè)試裝置的第一同異步串行接口發(fā)送到第二同異步串行接口，并經(jīng)過(guò)自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭環(huán)回。進(jìn)一步的，所述步驟e中，判斷測(cè)試報(bào)文在上述傳輸過(guò)程中有無(wú)傳輸錯(cuò)誤為判斷測(cè)試報(bào)文在上述傳輸過(guò)程中有無(wú)丟包及有無(wú)錯(cuò)誤報(bào)文。本發(fā)明的有益效果是，通過(guò)上述同異步串行接口硬件測(cè)試裝置及方法，通過(guò)狀態(tài)顯示模塊很直觀的反映每個(gè)信號(hào)的電平、質(zhì)量、穩(wěn)定性、幅度，且由于采用自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭，結(jié)合測(cè)試報(bào)文，大大提高了產(chǎn)品測(cè)試的可靠性與全面性。


圖1是本發(fā)明測(cè)試時(shí)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖。圖2是本發(fā)明同異步串行接口硬件測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)框圖。圖3是本發(fā)明實(shí)施例中同異步串行接口硬件測(cè)試裝置信號(hào)檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)框圖。圖4是本發(fā)明實(shí)施例中同異步串行接口硬件測(cè)試裝置中單端信號(hào)檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)圖。圖5是本發(fā)明實(shí)施例中同異步串行接口硬件測(cè)試裝置中差分信號(hào)檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)圖。圖6是本發(fā)明同異步串行接口硬件測(cè)試方法流程圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合實(shí)施例及附圖，詳細(xì)描述本發(fā)明的技術(shù)方案。本發(fā)明測(cè)試時(shí)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖參見(jiàn)圖1，本發(fā)明同異步串行接口硬件測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)框圖參見(jiàn)圖2。本發(fā)明的同異步串行接口硬件測(cè)試裝置包括第一同異步串行接口，第二同異步串行接口，自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭、信號(hào)檢測(cè)電路及狀態(tài)顯示模塊，所述第一同異步串行接口與被測(cè)設(shè)備的同異步串行接口連接，第二同異步串行接口分別與第
6一同異步串行接口、自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭連接，信號(hào)檢測(cè)電路分別與第一同異步串行接口連接，狀態(tài)顯示模塊連接；所述第一同異步串行接口用于與被測(cè)設(shè)備的同異步串行接口連接，并將所有的串行接口信號(hào)引出給信號(hào)檢測(cè)電路和第二同異步串行接口 ；所述信號(hào)檢測(cè)電路用于檢測(cè)由同異步串行接口中引入的所有信號(hào)，判斷各信號(hào)的電平范圍，并通過(guò)檢測(cè)結(jié)果控制狀態(tài)顯示模塊；所述狀態(tài)顯示模塊用于根據(jù)信號(hào)檢測(cè)電路的檢測(cè)結(jié)果顯示檢測(cè)信號(hào)的相應(yīng)狀態(tài)；所述自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭用于將來(lái)自第二同異步串行接口中的所有信號(hào)環(huán)回。本發(fā)明同異步串行接口硬件測(cè)試方法中，首先將被測(cè)設(shè)備的同異步串行接口與本發(fā)明同異步串行接口硬件測(cè)試裝置的第一同異步串行接口連接，被測(cè)設(shè)備上電，由測(cè)試控制臺(tái)控制被測(cè)設(shè)備發(fā)送測(cè)試報(bào)文，被測(cè)設(shè)備的處理器構(gòu)建測(cè)試報(bào)文發(fā)送到其同異步串行接口中，然后同異步串行接口硬件測(cè)試裝置的第一同異步串行接口引出所有信號(hào)并傳輸給信號(hào)檢測(cè)電路，信號(hào)檢測(cè)電路檢測(cè)這些所有信號(hào)，判斷各信號(hào)的電平范圍，并通過(guò)判斷結(jié)果控制狀態(tài)顯示模塊進(jìn)行顯示，同時(shí)由于被測(cè)設(shè)備的處理器構(gòu)建的測(cè)試報(bào)文通過(guò)同異步串行接口硬件測(cè)試裝置的第一同異步串行接口發(fā)送到第二同異步串行接口，并經(jīng)過(guò)自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭環(huán)回后，回到被測(cè)試設(shè)備，被測(cè)設(shè)備的處理器將其與之前構(gòu)建發(fā)送出去的測(cè)試報(bào)文進(jìn)行對(duì)比，判斷測(cè)試報(bào)文在上述傳輸過(guò)程中有無(wú)傳輸錯(cuò)誤，并將判斷結(jié)果反饋給測(cè)試控制臺(tái)。實(shí)施例如圖3為本發(fā)明實(shí)施例中同異步串行接口硬件測(cè)試裝置信號(hào)檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)框圖。，其同異步串行接口硬件測(cè)試裝置中的信號(hào)檢測(cè)電路包括包括差分信號(hào)檢測(cè)電路和單端信號(hào)檢測(cè)電路，所述差分信號(hào)檢測(cè)電路用于檢測(cè)判斷第一同異步串行接口中引出的所有差分信號(hào)，并通過(guò)檢測(cè)結(jié)果控制狀態(tài)顯示模塊；所述單端信號(hào)檢測(cè)電路用于檢測(cè)判斷同異步串行接口中引出的所有單端信號(hào)，并通過(guò)檢測(cè)結(jié)果控制狀態(tài)顯示模塊。同異步串行接口硬件測(cè)試裝置的單端信號(hào)檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)框圖參見(jiàn)圖4，其差分信號(hào)檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)框圖參見(jiàn)圖5。本實(shí)施例的同異步串行接口硬件測(cè)試裝置中，信號(hào)檢測(cè)電路用于檢測(cè)由同異步串行接口中引入的所有信號(hào)，判斷各信號(hào)的電平范圍，并通過(guò)狀態(tài)顯示模塊顯示檢測(cè)結(jié)果；狀態(tài)顯示模塊用于根據(jù)信號(hào)檢測(cè)電路的控制顯示信號(hào)的相應(yīng)狀態(tài)，其可以采用指示燈，如LED指示燈；信號(hào)環(huán)回堵頭用于將同異步串行接口中的所有信號(hào)環(huán)回。信號(hào)檢測(cè)電路由差分信號(hào)檢測(cè)電路和單端信號(hào)檢測(cè)電路組成，差分信號(hào)檢測(cè)電路用于檢測(cè)判斷同異步串行接口中(如V35模式)的差分信號(hào)，并通過(guò)判斷結(jié)果控制狀態(tài)顯示模塊，單端信號(hào)檢測(cè)電路用于檢測(cè)判斷同異步串行接口中引出的單端信號(hào)，并通過(guò)判斷結(jié)果控制狀態(tài)顯示模塊。其中，單端信號(hào)檢測(cè)電路設(shè)置為帶有兩個(gè)閾值電壓的窗口比較器， 該窗口比較器由比較器Ul的正相輸入端與第一閾值電壓輸入端Uh連接，負(fù)相輸入端與比較器U2的正相輸入端連接，并與單端信號(hào)輸入端連接，比較器U2的負(fù)相輸入端與第二閾值電壓輸入端Ul連接，比較器Ul的輸出端及比較器U2的輸出端分別與狀態(tài)顯示模塊連接組成；差分信號(hào)檢測(cè)電路包括放大模塊、比較模塊及差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)模塊，放大模塊用于將輸入的差分信號(hào)取其中間電壓值進(jìn)行放大傳輸給差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)模塊，比較模塊用于將輸入的差分信號(hào)與設(shè)置的閾值電壓進(jìn)行比較，并將比較結(jié)果傳輸給差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)模塊，差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)模塊用于根據(jù)輸入的比較結(jié)果和中間電壓值控制狀態(tài)顯示模塊進(jìn)行狀態(tài)顯示，其具體結(jié)構(gòu)可以為窗口比較器通過(guò)判斷差分信號(hào)的中間電壓值是否在設(shè)定的兩個(gè)電壓閥值&、Rl之間，從而給差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)模塊的使能端出輸入一個(gè)電平，該電平狀態(tài)控制差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)模塊的使能，差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)模塊輸出一個(gè)狀態(tài)給狀態(tài)顯示模塊；原始差分信號(hào)對(duì)分別與放大器輸出端形成的兩個(gè)閥值電壓Um、Uli通過(guò)差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)模塊進(jìn)行比較，比較后分別輸出到狀態(tài)顯示模塊，通過(guò)狀態(tài)顯示模塊的狀態(tài)判斷差分信號(hào)的電壓范圍、信號(hào)質(zhì)量、穩(wěn)定性。本發(fā)明實(shí)施例的同異步串行接口硬件測(cè)試方法，具體步驟如下a.將被測(cè)設(shè)備的同異步串行接口與硬件測(cè)試裝置的第一同異步串行接口連接，被測(cè)設(shè)備上電；b.測(cè)試控制臺(tái)向被測(cè)設(shè)備發(fā)送測(cè)試命令，被測(cè)設(shè)備發(fā)送測(cè)試報(bào)文到其同異步串行接口中；c.硬件測(cè)試裝置的第一同異步串行接口弓丨出所有信號(hào)并傳輸給信號(hào)檢測(cè)電路，信號(hào)檢測(cè)電路檢測(cè)這些所有信號(hào)，判斷各信號(hào)的電平范圍，并通過(guò)檢測(cè)結(jié)果控制狀態(tài)顯示模塊進(jìn)行顯示。本步驟中狀態(tài)顯示模塊采用指示燈進(jìn)行同異步串行接口信號(hào)狀態(tài)的顯示。d.所述測(cè)試報(bào)文經(jīng)過(guò)硬件測(cè)試裝置環(huán)回后，返回到被測(cè)設(shè)備。本步驟中，所述測(cè)試報(bào)文經(jīng)過(guò)硬件測(cè)試裝置環(huán)回后是指，所述測(cè)試報(bào)文經(jīng)過(guò)硬件測(cè)試裝置的第一同異步串行接口發(fā)送到第二同異步串行接口，并經(jīng)過(guò)自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭環(huán)回。e.被測(cè)設(shè)備將收到的經(jīng)過(guò)環(huán)回的測(cè)試報(bào)文與之前發(fā)送出去的測(cè)試報(bào)文進(jìn)行對(duì)比， 并將判斷結(jié)果反饋給測(cè)試控制臺(tái)。本步驟中，判斷測(cè)試報(bào)文在上述傳輸過(guò)程中有無(wú)傳輸錯(cuò)誤為判斷測(cè)試報(bào)文在上述傳輸過(guò)程中有無(wú)丟包及有無(wú)錯(cuò)誤報(bào)文。本發(fā)明中的同異步串行接口可以是V35接口或VM接口。
權(quán)利要求
1.同異步串行接口硬件測(cè)試裝置，用于連接被測(cè)試設(shè)備的V35/V24同異步串行接口， 其特征在于，所述裝置包括第一同異步串行接口，第二同異步串行接口，自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭、信號(hào)檢測(cè)電路及狀態(tài)顯示模塊，所述第一同異步串行接口與被測(cè)設(shè)備的同異步串行接口連接，第二同異步串行接口分別與第一同異步串行接口、自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭連接，信號(hào)檢測(cè)電路分別與第一同異步串行接口以及狀態(tài)顯示模塊連接；所述第一同異步串行接口用于與被測(cè)設(shè)備的同異步串行接口連接，并將所有的串行接口信號(hào)引出給信號(hào)檢測(cè)電路和第二同異步串行接口；所述信號(hào)檢測(cè)電路用于檢測(cè)由第一同異步串行接口中引入的所有信號(hào)，判斷各信號(hào)的電平范圍，并通過(guò)檢測(cè)結(jié)果控制狀態(tài)顯示模塊；所述狀態(tài)顯示模塊用于根據(jù)信號(hào)檢測(cè)電路的檢測(cè)結(jié)果顯示檢測(cè)信號(hào)的相應(yīng)狀態(tài)；所述自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭用于將來(lái)自第二同異步串行接口中的所有信號(hào)環(huán)回。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述信號(hào)檢測(cè)電路包括差分信號(hào)檢測(cè)電路和單端信號(hào)檢測(cè)電路，所述差分信號(hào)檢測(cè)電路用于檢測(cè)判斷第一同異步串行接口中引出的所有差分信號(hào)，并將檢測(cè)結(jié)果通過(guò)狀態(tài)顯示模塊進(jìn)行顯示；所述單端信號(hào)檢測(cè)電路，用于檢測(cè)同異步串行接口中引出的所有單端信號(hào)，并將檢測(cè)結(jié)果通過(guò)狀態(tài)顯示模塊進(jìn)行顯示。
3.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述單端信號(hào)檢測(cè)電路包括比較器 (Ul)、比較器(U2)、第一閾值電壓輸入端(Uh)、第二閾值電壓輸入端( )及單端信號(hào)輸入端，所述比較器(Ul)的正相輸入端與第一閾值電壓輸入端(Uh)連接，負(fù)相輸入端與比較器 (U2)的正相輸入端連接，并與單端信號(hào)輸入端連接，比較器(U2)的負(fù)相輸入端與第二閾值電壓輸入端( )連接，比較器(Ul)的輸出端及比較器(U2)的輸出端分別與狀態(tài)顯示模塊連接。
4.如權(quán)利要求1或2或3所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述差分信號(hào)檢測(cè)電路包括放大器模塊、窗口比較器模塊及差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)器模塊；所述放大器模塊用于將輸入的差分信號(hào)進(jìn)行取其中間電壓值并放大后傳輸給差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)器模塊；所述比較器模塊用于將輸入的差分信號(hào)與設(shè)置的閾值電壓值進(jìn)行比較，并將比較結(jié)果傳輸給差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)器模塊；所述差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)器模塊用于根據(jù)輸入的比較結(jié)果和中間電壓值控制狀態(tài)顯示模塊進(jìn)行狀態(tài)顯示。
5.如權(quán)利要求4所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述放大器模塊包括差分信號(hào)對(duì)中間電壓值的輸入端、放大器(U4)，所述放大器(U4)將差分信號(hào)的電壓中間值進(jìn)行放大，輸出端通過(guò)兩個(gè)二極管(Dl)、二極管(D2)的分壓后，形成兩個(gè)閾值電壓(^)、( )；所述窗口比較器模塊包括比較器⑴5)、比較器⑴6)、第一閾值電壓輸入端(Rh)、第二閾值電壓輸入端(RJ及差分信號(hào)中間電壓值輸入端，所述比較器(冊(cè))的正相輸入端與第一閾值電壓輸入端(Rh)連接，負(fù)相輸入端與比較器(U6)的正相輸入端連接，并與差分信號(hào)中間電壓值輸入端連接，比較器(U6)的負(fù)相輸入端與第二閾值電壓輸入端( )連接，比較器 (Ul)的輸出端及比較器(似)的輸出端連接到差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)器模塊的使能端連接；所述差分信號(hào)驅(qū)動(dòng)器模塊包括原始差分信號(hào)對(duì)的輸入端、窗口比較器的輸出、放大器 (U4)輸出端形成的兩個(gè)閾值電壓(UhiJu)。
6.如權(quán)利要求5所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述同異步串行接口包括V35接口和 V24 接口。
7.同異步串行接口硬件測(cè)試方法，其特征在于，，包括以下步驟a.將被測(cè)設(shè)備的同異步串行接口與硬件測(cè)試裝置的第一同異步串行接口連接，被測(cè)設(shè)備上電；b.測(cè)試控制臺(tái)向被測(cè)設(shè)備發(fā)送測(cè)試命令，被測(cè)設(shè)備發(fā)送測(cè)試報(bào)文到其同異步串行接口中；c.硬件測(cè)試裝置的第一同異步串行接口引出所有信號(hào)并傳輸給信號(hào)檢測(cè)電路，信號(hào)檢測(cè)電路檢測(cè)這些所有信號(hào)，判斷各信號(hào)的電平范圍，并通過(guò)檢測(cè)結(jié)果控制狀態(tài)顯示模塊進(jìn)行顯不；d.所述測(cè)試報(bào)文經(jīng)過(guò)硬件測(cè)試裝置環(huán)回后，返回到被測(cè)設(shè)備；e.被測(cè)設(shè)備將收到的經(jīng)過(guò)環(huán)回的測(cè)試報(bào)文與之前發(fā)送出去的測(cè)試報(bào)文進(jìn)行對(duì)比，并將判斷結(jié)果反饋給測(cè)試控制臺(tái)。
8.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟c中，狀態(tài)顯示模塊采用指示燈進(jìn)行同異步串行接口信號(hào)狀態(tài)的顯示。
9.如權(quán)利要求7所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟d中，所述測(cè)試報(bào)文經(jīng)過(guò)硬件測(cè)試裝置環(huán)回后是指，所述測(cè)試報(bào)文經(jīng)過(guò)硬件測(cè)試裝置的第一同異步串行接口發(fā)送到第二同異步串行接口，并經(jīng)過(guò)自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭環(huán)回。
10.根據(jù)權(quán)利要求7-9任一項(xiàng)所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述步驟e中，判斷測(cè)試報(bào)文在上述傳輸過(guò)程中有無(wú)傳輸錯(cuò)誤為判斷測(cè)試報(bào)文在上述傳輸過(guò)程中有無(wú)丟包及有無(wú)錯(cuò)誤報(bào)文。
全文摘要
本發(fā)明涉及通信技術(shù)。本發(fā)明解決了現(xiàn)有通信設(shè)備中同異步串行接口的硬件測(cè)試方式直觀性較差、出現(xiàn)故障難以定位及檢測(cè)不夠全面導(dǎo)致產(chǎn)品質(zhì)量難以保證的問(wèn)題，提供了一種同異步串行接口硬件測(cè)試裝置及方法，其技術(shù)方案可概括為同異步串行接口硬件測(cè)試裝置由第一同異步串行接口與被測(cè)設(shè)備的同異步串行接口連接，第二同異步串行接口分別與第一同異步串行接口、自帶環(huán)回的同異步串行接口測(cè)試接頭連接，信號(hào)檢測(cè)電路分別與第一同異步串行接口以及狀態(tài)顯示模塊連接組成。本發(fā)明的有益效果是很直觀的反映每個(gè)信號(hào)的電平、質(zhì)量、穩(wěn)定性、幅度，適用于同異步串行接口硬件測(cè)試。
文檔編號(hào)H04L12/26GK102355380SQ201110235778
公開(kāi)日2012年2月15日 申請(qǐng)日期2011年8月17日 優(yōu)先權(quán)日2011年8月17日
發(fā)明者伍良勝, 李國(guó)峰 申請(qǐng)人:邁普通信技術(shù)股份有限公司