專利名稱：一種基于i2c總線的移動(dòng)終端測試盒的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及移動(dòng)終端測試領(lǐng)域，尤其涉及的是一種基于I2C總線的移動(dòng)終端 測試盒。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有用于批量生產(chǎn)移動(dòng)終端的生產(chǎn)線上的移動(dòng)終端測試盒，隨著移動(dòng)通信終端市 場的競爭性的增強(qiáng)，多樣性要求的增加，成本控制需求的增大，原有的移動(dòng)終端測試盒已經(jīng) 無法滿足現(xiàn)有需求。另一方面，隨著PC技術(shù)、操作系統(tǒng)的發(fā)展和電子輸入輸出控制系統(tǒng)技術(shù)的進(jìn)步 (以USB代替PCI)，通用的基于I2C總線的測試設(shè)備已成為一種趨勢。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，旨在解決現(xiàn)有 的移動(dòng)終端測試盒成本高，且采購周期長，不便于生產(chǎn)線的維護(hù)的問題。本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下一種基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其包括USB 總線轉(zhuǎn)換芯片、I2C總線并行I/O 口擴(kuò)展芯片和緩沖器，所述USB總線轉(zhuǎn)換芯片一端連接上 位機(jī)，另一端連接I2C總線并行I/O 口擴(kuò)展芯片，所述I2C總線并行I/O 口擴(kuò)展芯片通過I/ 0 口連接緩沖器，所述緩沖區(qū)連接被測的移動(dòng)終端，所述USB總線轉(zhuǎn)換芯片與上位機(jī)之間通 過USB接口通信，所述USB總線轉(zhuǎn)換芯片與I2C總線并行I/O 口擴(kuò)展芯片通過I2C總線通
fn °所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其中，所述移動(dòng)終端測試盒還包括光耦 隔離器，所述緩沖器的輸出端口連接光耦隔離器的陰極。所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其中，所述移動(dòng)終端測試盒還包括切換 開關(guān)，所述切換開關(guān)一端連接綜合測試儀，另一端連接被測移動(dòng)終端。所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其中，所述移動(dòng)終端測試盒中還設(shè)置有 一 UART通信模塊，所述UART通信模塊連接上位機(jī)與所述緩沖器。所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其中，所述I2C總線并行I/O 口擴(kuò)展芯片 為并行I/O 口擴(kuò)展芯片。所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其中，所述光耦隔離器的集極為輸出端 口，且每個(gè)輸出端口上都設(shè)有上拉電阻。所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其中，所述I2C總線8位并行I/O 口擴(kuò)展 芯片設(shè)置有12個(gè)。所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其中，所述移動(dòng)終端測試盒模擬出96個(gè)所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其中，所述緩沖器為8線緩沖器。所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其中，所述移動(dòng)終端測試盒中還設(shè)置有多功能繼電器，所述多功能繼電器分別設(shè)置在所述USB總線轉(zhuǎn)換芯片和UART通信模塊與上 位機(jī)的連接通道上。本實(shí)用新型的有益效果本實(shí)用新型提出通過采用專用的USB總線轉(zhuǎn)接芯片 USB212C實(shí)現(xiàn)上位機(jī)和下位機(jī)控制器之間的直接數(shù)據(jù)傳輸，在同步串口方式下提供SCL線 和SDA線，另外，采用主芯片PCF8574將SCL和SDA轉(zhuǎn)換成8位I/O 口信號(hào)；通過一次性采 用多塊該芯片，設(shè)計(jì)出通用的自動(dòng)化移動(dòng)終端測試站。本實(shí)用新型可全面覆蓋MTK和QCT 平臺(tái)所有產(chǎn)品的測試工作，降低了生產(chǎn)成本，有效簡化現(xiàn)場的維護(hù)，大幅增加生產(chǎn)效率。

圖1為本實(shí)用新型提供的測試站的系統(tǒng)架構(gòu)圖。圖2為USB總線轉(zhuǎn)接芯片USB212C的功能電路圖。圖3是一個(gè)PCF8574T芯片模擬一個(gè)8位并行I/O 口的局部電路原理圖。圖4為本實(shí)用新型提供測試系統(tǒng)的1托2的工作方式系統(tǒng)框圖。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚、明確，以下參照附圖并舉實(shí)施 例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)一步詳細(xì)說明。參見圖1，本實(shí)用新型提供的移動(dòng)終端測試盒2包括:USB總線轉(zhuǎn)換芯片21、一個(gè) 或多個(gè)I2C總線并行I/O 口擴(kuò)展芯片22以及與I2C總線并行I/O 口擴(kuò)展芯片數(shù)量對(duì)應(yīng)的緩 沖器23，所述USB總線轉(zhuǎn)換芯片21 —端連接上位機(jī)1，另一端連接一個(gè)或多個(gè)I2C總線并 行I/O 口擴(kuò)展芯片22，所述I2C總線并行I/O 口擴(kuò)展芯片22通過I/O 口連接緩沖器23，所 述緩沖器23連接被測的移動(dòng)終端3。所述USB總線轉(zhuǎn)換芯片21與上位機(jī)1之間通過USB 接口通信，所述USB總線轉(zhuǎn)換芯片21與一個(gè)或多個(gè)I2C總線并行I/O 口擴(kuò)展芯片22通過 I2C總線通信。所述測試系統(tǒng)用于完成PT (Para System Test，板級(jí)測試)、BT (Bluetooth Test, 藍(lán)牙測試)和FT (Final Test，最終檢驗(yàn))測試。本實(shí)用新型的一種較佳實(shí)施例為采用專用的USB總線轉(zhuǎn)接芯片USB212C實(shí)現(xiàn)上位 機(jī)和下位機(jī)控制器之間的數(shù)據(jù)傳輸，在同步串口方式下提供時(shí)鐘信號(hào)線(SCL線)和數(shù)據(jù)線 (SDA線)。采用該芯片的好處是不再需要DSP、MCU等處理器的監(jiān)控；在同步串口方式下提 供SCL線和SDA線，PC上位機(jī)可以很方便的對(duì)具有I2C接口、TWI接口(Two—wire Serial Interface，兩線系列接口)或SMBUS接口(System Management Bus，系統(tǒng)管理總線接口) 的移動(dòng)終端進(jìn)行讀寫。如圖2所示為USB總線轉(zhuǎn)接芯片USB212C的功能電路圖，所述USB總線轉(zhuǎn)接芯片 USB212C通過連接器Pl連接到上位機(jī)1。所述USB總線轉(zhuǎn)接芯片USB212C具有以下特點(diǎn) 1、全速USB接口，兼容USB2. 0。2、成本低，直接轉(zhuǎn)換原I2C接口的外圍設(shè)備。3、采用FIexWireTM技術(shù)，通過軟件能實(shí)現(xiàn)靈活多樣的2線到5線的同步串口。4、作為Host/Master主機(jī)端，支持2線和4線等常用的同步串行接口。5、2 線制 I2C/IIC/TWI/SMBUS 接口，支持 20KHz/ IOOKHz/ 400KHz/ 750KHz。[0029]另外，本實(shí)用新型的一種較佳實(shí)施例采用PCF8574作為I2C總線并行I/O 口擴(kuò)展 芯片22，將SCL線和SDA線轉(zhuǎn)換成8位I/O信號(hào)。本實(shí)施例采用的一個(gè)PCF8574系列的芯 片可以模擬8個(gè)I/O 口，USB總線轉(zhuǎn)接芯片USB212C可連接16個(gè)PCF8574系列的芯片，因 此可模擬16*8=1觀個(gè)I/O 口去控制終端。而本實(shí)用新型中只采用了其中的12個(gè)接口即設(shè) 置有12個(gè)I2C總線并行I/O 口擴(kuò)展芯片PCF8574，其中1個(gè)接口有8位(0-7)。每個(gè)接口 整體可以設(shè)計(jì)每個(gè)I/O 口的輸出和輸入狀態(tài)，這樣就可以模擬出12*8=96個(gè)I/O 口去控制 夾具的狀態(tài)(實(shí)現(xiàn)手機(jī)測試)。參見圖3是一個(gè)接口的局部電路原理圖，PCF8574T是一個(gè)專門的I2C總線8位 并行I/O 口擴(kuò)展芯片，74HC240為8線緩沖器，主要改善三態(tài)存儲(chǔ)地址驅(qū)動(dòng)器，時(shí)鐘驅(qū)動(dòng)器 和總線方向收發(fā)器性能。TLP521-4是一個(gè)4路光耦隔離器，起到輸入輸出端的隔離作用。 TLP521-4芯片也可用其他同類產(chǎn)品替代，只要具有隔離輸入輸出作用即可。所述PCF8574T芯片的8路輸出端口 P0、PI、P2、P3、P4、P5、P6、P7分別對(duì)應(yīng)連接 緩沖器的8路輸入端口 1A1、1A2、1A3、1A4、2A1、2A2、2A3、2A4，所述緩沖器的8路輸出IYU 1￥2、1￥3、1￥4、2￥1、2￥2、2￥3、2料分別連接在兩個(gè)4路光耦隔離器11^521-4的各陰極上，所 述光耦隔離器TLP521-4的集極為輸出端口，兩個(gè)光耦隔離器一共有8路輸出端口分別為 Buf prot0_0、Buf prot 0_l、Buf prot 0_2、Buf prot 0_3、Buf prot 0_4、Buf prot 0_5、 Buf prot 0_6、Buf prot 0_7。每個(gè)輸出端口上都設(shè)有上拉電阻RP。在使用雙通道對(duì)兩臺(tái)移動(dòng)終端(例如手機(jī))同時(shí)進(jìn)行測試時(shí)，由上位機(jī)PC讓手機(jī)進(jìn) 入測試模式，該部分程序可對(duì)兩臺(tái)手機(jī)同步進(jìn)行，但對(duì)基帶和射頻在使用綜合測試儀測試 時(shí)程序是不能同步進(jìn)行；為了提高測試效率，在本實(shí)用新型的一種較佳實(shí)施例中將前部分 同步進(jìn)行，后部分利用一個(gè)切換開關(guān)(SPDT SWITCH)實(shí)現(xiàn)程序的相互切換。使用雙通道時(shí)的具體電路框圖如圖4所示，上位機(jī)1通過基于I2C總線的移動(dòng)終 端測試盒2 (I2C Test Box)同時(shí)連接有兩個(gè)移動(dòng)終端即被測移動(dòng)終端3，所述移動(dòng)終端測 試盒2內(nèi)設(shè)置有連接市電的電源模塊對(duì)，用于給緩沖器23、I2C總線并行1/0 口擴(kuò)展芯片 22和USB總線轉(zhuǎn)接芯片21提供電源。所述移動(dòng)終端測試盒2中還設(shè)置有一切換開關(guān)26， 所述切換開關(guān)26 —端連接綜合測試儀觀，另一端連接移動(dòng)終端A和移動(dòng)終端B。所述切換 開關(guān)沈?yàn)橐粏蔚峨p擲開關(guān)。所述移動(dòng)終端A和移動(dòng)終端B的電源通過外接的程控電源27 提供。所述移動(dòng)終端測試盒2中還設(shè)置有一 UART通信模塊25，所述上位機(jī)1通過所述UART 通信模塊25連接緩沖器23。當(dāng)移動(dòng)終端A在利用綜合測試儀觀測試時(shí)，移動(dòng)終端B則通過公共程序使其進(jìn)入 指定的測試工程模式或基帶測試。該測試系統(tǒng)采用1托2的工作方式，效率可提升25%以 上。圖中的PCF8574芯片可以采用任何一種具有I2C總線功能的芯片，另外UART信號(hào) 也可利用USB信號(hào)轉(zhuǎn)換而來。本實(shí)用新型在該測試系統(tǒng)中擴(kuò)展了 UART通信方式，保持USB和UART兩種通信 方式共存，在測試夾具中，利用多功能繼電器完成兩種通信模式的切換。由于原來的設(shè) 備只支持USB低速和全速通信，同時(shí)USB通信對(duì)線長，線材要求較高，尤其對(duì)3G產(chǎn)品更 為明顯，本實(shí)用新型通過增加UART通信模塊使得所述移動(dòng)終端測試盒同時(shí)支持USB和 UART (Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，通用異步接收 / 發(fā)送裝置)的通信模式。為此，大大提高了通信的穩(wěn)定度，擴(kuò)展通信模式。由于電腦串口輸出的通信訊號(hào)為 TTL電平，加入公知的轉(zhuǎn)換電路便可實(shí)現(xiàn)手機(jī)和上位機(jī)PC的通信。 應(yīng)當(dāng)理解的是，本實(shí)用新型的應(yīng)用不限于上述的舉例，對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來 說，可以根據(jù)上述說明加以改進(jìn)或變換，所有這些改進(jìn)和變換都應(yīng)屬于本實(shí)用新型所附權(quán) 利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求1.一種基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其特征在于，包括USB總線轉(zhuǎn)換芯片、I2C總 線并行I/O 口擴(kuò)展芯片和緩沖器，所述USB總線轉(zhuǎn)換芯片一端連接上位機(jī)，另一端連接I2C 總線并行I/O 口擴(kuò)展芯片，所述I2C總線并行I/O 口擴(kuò)展芯片通過I/O 口連接緩沖器，所述 緩沖器連接被測的移動(dòng)終端，所述USB總線轉(zhuǎn)換芯片與上位機(jī)之間通過USB接口通信，所述 USB總線轉(zhuǎn)換芯片與I2C總線并行I/O 口擴(kuò)展芯片通過I2C總線通信。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其特征在于，所述移動(dòng)終端 測試盒還包括光耦隔離器，所述緩沖器的輸出端口連接光耦隔離器的陰極。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其特征在于，所述移動(dòng)終端 測試盒還包括切換開關(guān)，所述切換開關(guān)一端連接綜合測試儀，另一端連接被測移動(dòng)終端。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其特征在于，所述移動(dòng)終端 測試盒中還設(shè)置有一 UART通信模塊，所述UART通信模塊連接上位機(jī)與所述緩沖器。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其特征在于，所述I2C總線 并行I/O 口擴(kuò)展芯片為并行I/O 口擴(kuò)展芯片。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其特征在于，所述光耦隔離 器的集極為輸出端口，且每個(gè)輸出端口上都設(shè)有上拉電阻。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其特征在于，所述I2C總線 8位并行I/O 口擴(kuò)展芯片設(shè)置有12個(gè)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其特征在于，所述移動(dòng)終端 測試盒模擬出96個(gè)I/O 口。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其特征在于，所述緩沖器為 8線緩沖器。
10.根據(jù)權(quán)利要求4所述的基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其特征在于，所述移動(dòng)終 端測試盒中還設(shè)置有多功能繼電器，所述多功能繼電器分別設(shè)置在所述USB總線轉(zhuǎn)換芯片 和UART通信模塊與上位機(jī)的連接通道上。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種基于I2C總線的移動(dòng)終端測試盒，其包括USB總線轉(zhuǎn)換芯片、I2C總線并行I/O口擴(kuò)展芯片和緩沖器，所述USB總線轉(zhuǎn)換芯片一端連接上位機(jī)，另一端連接I2C總線并行I/O口擴(kuò)展芯片，所述I2C總線并行I/O口擴(kuò)展芯片通過I/O口連接緩沖器，所述緩沖區(qū)連接被測的移動(dòng)終端，所述USB總線轉(zhuǎn)換芯片與上位機(jī)之間通過USB接口通信，所述USB總線轉(zhuǎn)換芯片與I2C總線并行I/O口擴(kuò)展芯片通過I2C總線通信。采用本實(shí)用新型可全面覆蓋MTK和QCT平臺(tái)所有產(chǎn)品的測試工作，降低了生產(chǎn)成本，有效簡化現(xiàn)場的維護(hù)，大幅增加生產(chǎn)效率。
文檔編號(hào)H04M1/24GK201919055SQ201020684369
公開日2011年8月3日 申請日期2010年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月28日
發(fā)明者何琦, 曾翰智, 管銀, 趙曉洋 申請人:惠州Tcl移動(dòng)通信有限公司