專利名稱：一種在無源光網絡中進行光纖故障診斷的方法及光線路終端的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及光接入網領域，具體地說，涉及一種應用OTDR技術在無源光網絡中進 行光纖故障診斷的方法和光線路終端。
背景技術：
隨著光纖通信技術的成熟發(fā)展和“三網融合”服務需求的不斷推動，光纖到戶 (FTTH)已經毋庸置疑地成為解決接入網帶寬瓶頸問題的最終手段，而無源光網絡(PON) 技術以其高帶寬、遠距離傳輸以及點到多點拓撲等優(yōu)勢備受青睞，已經成為各國部署FTTH 的主要應用架構。PON是一種采用點到多點拓撲結構的無源光接入技術，拓撲圖如圖1所 示。由局側的 OLT (Optical Line Terminal，光線路終端)、用戶側的 ONU (Optical Network Unit，光網絡單元)以及ODN(Optical Distribution Network，光分配網絡)組成。當前，χΡΟΝ系統(tǒng)已經在國內外大量部署商用，與此同時，PON網絡的運營維護技術 也不斷發(fā)展壯大。在光纖故障診斷方面,借助OTDR(OpticalTime Domain RefIectometer, 光時域反射儀)進行光纖故障診斷仍然是PON系統(tǒng)的首選方案。針對PON網絡中ODN引入 高損耗及點到多點的拓撲特點，業(yè)界已經研制出具備高分辨率和大動態(tài)范圍的PON優(yōu)化型 OTDR設備，并且提出了一些解決點到多點測試的方法和技術，能夠滿足PON網絡測試需求； 同時，PON優(yōu)化型OTDR設備引入帶外測試波長λ χ，可以實現(xiàn)PON網絡的在線測試。當前， 雖然使用OTDR設備進行PON網絡光纖故障診斷已經沒有技術上的困難，但是，這種傳統(tǒng)測 試手段存在的固有弱點始終沒有得到改善。傳統(tǒng)PON光纖故障診斷的最基本形式是OTDR故 障診斷設備獨立于PON網絡，當網絡發(fā)生故障后，測試人員再將OTDR設備接入PON網絡完 成測試；測試啟動過程缺乏適時性；同時，測試結果也缺乏可維護性?，F(xiàn)在，也有一些PON網 絡部署采用如下的測試方案，即在PON網絡的局端配置多通道的OTDR測試設備，使用光開 關以及耦合器將OTDR的各測試通道分別接入到PON系統(tǒng)的各OLT下行光纖線路上；同時， 使用PON網絡管理系統(tǒng)對OTDR測試設備進行監(jiān)控和管理。這種方式可以滿足故障診斷的 適時性和可維護性；但是組網結構復雜，而且，光開關等設備的引入也大大地提高了網絡的 運營成本；同時，局端一臺OTDR設備測試很多PON OLT光纖線路，一旦儀表出現(xiàn)故障，將影 響多個PON網絡的測試，在可靠性方面存在隱患。

發(fā)明內容
本發(fā)明要解決的技術問題是提供一種在無源光網絡中進行光纖故障診斷的方法 和光線路終端，將OTDR技術應用PON OLT設計當中，使PON網絡設備自身具備了光纖故障 診斷能力，簡化了系統(tǒng)的組網結構。為了解決上述技術問題，本發(fā)明提供了一種在無源光網絡中進行光纖故障診斷的 方法，包括光線路終端的接收模塊接收到診斷光纖故障消息后，觸發(fā)測試模塊；
所述測試模塊被所述接收模塊觸發(fā)后，進行光時域反射測試，得到測試的數(shù)據信 息；故障診斷模塊分析所述數(shù)據信息，進行光纖故障診斷。進一步地，上述方法還具有下面特點所述測試模塊是根據預設的光時域反射測 試參數(shù)進行光時域反射測試的，所述光時域反射測試參數(shù)包括測試光信號的類型、測試光 信號的波形參數(shù)、采樣率、模數(shù)轉換位寬和采樣開始時間；所述測試光信號的類型為光脈沖，所述測試光信號的波形參數(shù)為光脈沖的寬度； 或者，所述測試光信號的類型為偽隨機序列，所述測試光信號的波形參數(shù)為偽隨機序列的 長度。進一步地，上述方法還具有下面特點所述測試模塊進行光時域反射測試得到數(shù) 據信息之后，所述方法還包括所述測試模塊將所述數(shù)據信息和測試參數(shù)封裝成光纖故障診斷所需的數(shù)據格式， 然后發(fā)送給所述故障診斷模塊。進一步地，上述方法還具有下面特點所述接收模塊通過I2C管理接口觸發(fā)所述測試模塊；所述測試模塊通過一串行數(shù)據接口向所述故障診斷模塊發(fā)送封裝后的數(shù)據，所述 串行數(shù)據接口為一個單端串行數(shù)據接口或一對差分串行數(shù)據接口。進一步地，上述方法還具有下面特點所述測試模塊將所述數(shù)據信息和測試參數(shù) 封裝成光纖故障診斷所需的數(shù)據格式的步驟包括將所述測試參數(shù)封裝為幀頭字段，將所述數(shù)據信息封裝為數(shù)據字段，在所述幀頭 字段前加入用于標識光時域反射測試數(shù)據的前導碼字段，在所述數(shù)據字段后加入校驗位字 段。進一步地，上述方法還具有下面特點所述故障診斷模塊分析所述數(shù)據信息的步 驟包括若檢測所述前導碼字段用于標識光時域反射測試數(shù)據，并且對所述校驗位字段的 數(shù)據校驗成功，則根據從所述幀頭字段中提取出所述測試參數(shù)分析所述數(shù)據字段中的所述 數(shù)據信息。進一步地，上述方法還具有下面特點所述故障診斷模塊進行光纖故障診斷的步 驟之后，還包括將光纖故障診斷的結果信息上報給上層網管。為了解決上述問題，本發(fā)明還提供了一種光線路終端，包括控制模塊和光模塊，所 述控制模塊用于控制所述光模塊收發(fā)業(yè)務，所述控制模塊包括接收模塊和故障診斷模塊， 所述光模塊包括一測試模塊，其中，所述接收模塊，用于接收到診斷光纖故障消息時，向所述測試模塊發(fā)送觸發(fā)消 息；所述測試模塊，用于接收到所述觸發(fā)消息后，進行光時域反射測試，得到測試的數(shù) 據信息；所述故障診斷模塊，用于分析所述數(shù)據信息，進行光纖故障診斷。進一步地，上述光線路終端還具有下面特點
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所述測試模塊具體用于，根據預設的光時域反射測試參數(shù)進行光時域反射測試， 所述光時域反射測試參數(shù)包括測試光信號的類型、測試光信號的波形參數(shù)、采樣率、模數(shù) 轉換位寬和采樣開始時間，所述測試光信號的類型為光脈沖，所述測試光信號的波形參數(shù)為光脈沖的寬度； 或者，所述測試光信號的類型為偽隨機序列，所述測試光信號的波形參數(shù)為偽隨機序列的 長度。進一步地，上述光線路終端還具有下面特點所述測試模塊包括所述發(fā)送控制單元，用于根據所述測試參數(shù)向發(fā)光單元下發(fā)控制指令；所述發(fā)光單元，用于接收到所述控制指令后，根據所述測試光信號的類型和測試 光信號的波形參數(shù)發(fā)送相應的測試光信號進行光時域反射測試；接收處理單元，用于接收所述光時域反射測試所得的數(shù)據信息后，將所述數(shù)據信 息和測試參數(shù)封裝成光纖故障診斷所需的數(shù)據格式后，發(fā)送給所述故障診斷模塊。進一步地，上述光線路終端還具有下面特點所述數(shù)據格式包括前導碼字段、幀 頭字段、數(shù)據字段和校驗位字段，其中，所述前導碼字段為用于標識光時域反射測試數(shù)據的 比特流信息，所述幀頭字段包括所述測試參數(shù)，所述數(shù)據字段包括所述數(shù)據信息。進一步地，上述光線路終端還具有下面特點所述故障診斷模塊，進一步用于在檢測所述前導碼字段為用于標識光時域反射測 試數(shù)據，并且成功校驗所述校驗位字段的數(shù)據后，根據從所述幀頭字段中提取出的所述測 試參數(shù)，分析所述數(shù)據字段中的所述數(shù)據信息。進一步地，上述光線路終端還具有下面特點所述光模塊包括I2C管理接口和串 行數(shù)據接口，所述測試模塊通過所述I2C管理接口接收所述觸發(fā)消息；所述測試模塊通過所述串行數(shù)據接口向所述故障診斷模塊發(fā)送封裝后的數(shù)據，所 述串行數(shù)據接口為一個單端串行數(shù)據接口或一對差分串行數(shù)據接口。進一步地，上述光線路終端還具有下面特點所述故障診斷模塊，還用于將所述光 纖故障診斷的結果信息上報給上層網管。綜上，本發(fā)明提供的一種在無源光網絡中進行光纖故障診斷的方法和光線路終 端，首先，結合PON網絡管理系統(tǒng)進行光纖故障診斷過程，滿足適時性和可維護性需求；進 一步地，將OTDR技術應用PON OLT設計當中，使PON網絡設備自身具備了光纖故障診斷能 力，簡化了系統(tǒng)的組網結構，同時，本發(fā)明的方法無需引入除OTDR組件以外的其他設備或 組件，降低了網絡的運營成本；再次，這發(fā)明的方法能夠使每個OLT域內的光線故障診斷獨 立進行，提高了系統(tǒng)的可靠性；還可以利用PON系統(tǒng)的上行管理通道，將各OLT域內的故障 情況上報給上層網管進行集中處理，提高PON系統(tǒng)故障信息的可管理和可維護性。


結合了附圖的詳細描述，將使本發(fā)明方法的結構和過程更加直觀明了，其中圖1所示為無源光網絡(PON)基本結構圖；圖2為本發(fā)明的OLT的示意圖；圖3為本發(fā)明的測試模塊的示意6
圖4為本發(fā)明的在無源光網絡中進行光纖故障診斷的方法的流程圖；圖5為本實施例的OLT的示意圖；圖6為本實施例的OLT的光模塊的示意圖；圖7為本實施例的OLT的OTDR測試模塊的示意圖；圖8為本發(fā)明實施例約定的一種OTDR測試數(shù)據的數(shù)據格式的示意圖；圖9本發(fā)明實施例的在無源光網絡中進行光纖故障診斷的方法的流程圖。
具體實施例方式為了更好地理解本發(fā)明，下面結合附圖和具體實施例對本發(fā)明作進一步地描述。圖2為本發(fā)明的光線路終端的示意圖，如圖2所示，本實施例的光線路終端包括 控制模塊和光模塊，控制模塊用于光線路終端的業(yè)務處理和系統(tǒng)管理，包括控制所述光模 塊收發(fā)業(yè)務，其中，控制模塊包括接收模塊和故障診斷模塊，具有對所述光時域反射儀測試 模塊的控制管理和數(shù)據分析功能，光模塊包括一測試模塊；其中，所述接收模塊，用于接收到診斷光纖故障消息時，向所述測試模塊發(fā)送觸發(fā)消 息；所述測試模塊，用于接收到所述觸發(fā)消息后，進行光時域反射測試，得到測試的數(shù) 據信息；所述故障診斷模塊，用于分析所述數(shù)據信息，進行光纖故障診斷。這樣，本實施例的光線路終端本身即可以進行光纖故障診斷，滿足適時性和可維 護性需求，并且簡化了系統(tǒng)的組網結構。進一步地，所述測試模塊具體用于，根據預設的光時域反射測試參數(shù)進行光時域 反射測試。所述光時域反射測試參數(shù)包括測試光信號的類型、測試光信號的波形參數(shù)、采樣 率、模數(shù)轉換位寬和采樣開始時間，所述測試光信號的類型為光脈沖，所述測試光信號的波 形參數(shù)為光脈沖的寬度；或者，所述測試光信號的類型為偽隨機序列，所述測試光信號的波 形參數(shù)為偽隨機序列的長度。。優(yōu)選地，所述光模塊包括I2C管理接口和串行數(shù)據接口，所述測試模塊通過所述I2C管理接口接收所述觸發(fā)消息；所述測試模塊通過所述串行數(shù)據接口向所述故障診斷模塊發(fā)送封裝后的數(shù)據，所 述串行數(shù)據接口為一個單端串行數(shù)據接口或一對差分串行數(shù)據接口。本實施例的測試模塊可以包括發(fā)送控制單元、發(fā)光單元和接收處理單元，如圖3 所示，所述發(fā)送控制單元，用于根據所述測試參數(shù)向發(fā)光單元下發(fā)控制指令；所述發(fā)光單元，用于接收到所述控制指令后，根據所述測試光信號的類型和測試 光信號的波形參數(shù)發(fā)送相應的測試光信號進行光時域反射測試；接收處理單元，用于接收所述光時域反射測試所得的數(shù)據信息后，將所述數(shù)據信 息和測試參數(shù)封裝成光纖故障診斷所需的數(shù)據格式后，發(fā)送給所述故障診斷模塊。其中，所 述數(shù)據格式包括前導碼字段、幀頭字段、數(shù)據字段和校驗位字段，其中，所述前導碼字段為 用于標識光時域反射測試數(shù)據的的比特流信息，所述幀頭字段包括測試參數(shù)，所述數(shù)據字段為測試所得的數(shù)據信息，所述測試參數(shù)信息至少包括測試光信號的類型信息、測試光信號的波形信息、模 數(shù)轉換采樣率信息、模數(shù)轉換位寬信息和采樣開始時間信息。進一步地，所述故障診斷模塊，進一步用于在檢測所述前導碼字段為用于標識光 時域反射測試數(shù)據，并且成功校驗所述校驗位字段的數(shù)據后，根據從所述幀頭字段中提取 出的所述測試參數(shù)，分析所述數(shù)據字段中的所述數(shù)據信息。進一步地，所述光模塊包括I2C管理接口和串行數(shù)據接口，所述測試模塊通過所述I2C管理接口接收所述觸發(fā)消息；所述測試模塊通過所述串行數(shù)據接口向所述故障診斷模塊發(fā)送封裝后的數(shù)據，所 述串行數(shù)據接口為一個單端串行數(shù)據接口或一對差分串行數(shù)據接口。進一步地，所述控制模塊還可用于將所述光纖故障診斷的結果信息上報給上層網 管。這樣可以實現(xiàn)將各個裝置的上的光纖故障信號上報給上層網管進行集中的分析處理。圖4為本發(fā)明的在無源光網絡中進行光纖故障診斷的方法的流程圖，如圖4所示， 本實施例的方法可以包括下面步驟S10、光線路終端的接收模塊接收到診斷光纖故障消息后，觸發(fā)測試模塊；S20、所述測試模塊被所述接收模塊觸發(fā)后，進行光時域反射測試，得到測試的數(shù) 據信息；S30、故障診斷模塊分析所述數(shù)據信息，進行光纖故障診斷。這樣，本實施例的方法可以實現(xiàn)光線路終端自身進行光纖故障診斷，滿足適時性 和可維護性需求，并且不需要其他設備或組件，簡化了系統(tǒng)的組網結構。進一步地，在步驟S20中的所述測試模塊是根據預設的光時域反射測試參數(shù)進行 光時域反射測試的.所述光時域反射測試參數(shù)可以包括測試光信號的類型、測試光信號的波形參數(shù)、 采樣率、模數(shù)轉換位寬和采樣開始時間。所述測試光信號的類型為光脈沖，所述測試光信號 的波形參數(shù)為光脈沖的寬度；或者，所述測試光信號的類型為偽隨機序列，所述測試光信號 的波形參數(shù)為偽隨機序列的長度。進一步地，在步驟S20中所述測試模塊進行光時域反射測試得到數(shù)據信息之后還 可以包括所述測試模塊將所述數(shù)據信息和測試參數(shù)封裝成光纖故障診斷所需的數(shù)據格 式，然后發(fā)送給所述故障診斷模塊。優(yōu)選地，所述接收模塊通過I2C管理接口觸發(fā)所述測試模塊；所述測試模塊通過一串行數(shù)據接口向所述故障診斷模塊發(fā)送封裝后的數(shù)據，所述 串行數(shù)據接口為一個單端串行數(shù)據接口或一對差分串行數(shù)據接口。進一步地，所述測試模塊將所述數(shù)據信息和測試參數(shù)封裝成光纖故障診斷所需的 數(shù)據格式的步驟包括將所述測試參數(shù)封裝為幀頭字段，將所述數(shù)據信息封裝為數(shù)據字段，在所述幀頭 字段前加入用于標識光時域反射測試數(shù)據的前導碼字段，在所述數(shù)據字段后加入校驗位字 段。進一步地，在步驟S30中所述故障診斷模塊分析所述數(shù)據信息的步驟包括若檢測所述前導碼字段用于標識光時域反射測試數(shù)據，并且對所述校驗位字段的數(shù)據校驗成功，則根據從所述幀頭字段中提取出所述測試參數(shù)分析所述數(shù)據字段中的所述
數(shù)據信息。進一步地，所述故障診斷模塊進行光纖故障診斷的步驟之后，還包括將光纖故障 診斷的結果信息上報給上層網管。這樣可以實現(xiàn)上層網管對光纖故障信號進行集中的分析處理。下面以一具體實施例詳細說明本發(fā)明在無源光網絡中進行光纖故障診斷的方法。本實施例的方法是將OTDR技術和PON OLT設備結合，圖5為本實施例的OLT的示 意圖，如圖5所示，OLT的光模塊中包括一 OTDR測試模塊，可以在OLT的光模塊中完成OTDR 測試，并將測試所得數(shù)據通過光模塊專用的OTDR數(shù)據接口傳送到OLT的控制模塊；OLT的 控制模塊完成測試數(shù)據的分析和故障定位；同時，OLT的控制模塊通過光模塊管理接口(例 如光模塊的I2C管理接口 )可以實現(xiàn)OTDR測試的控制和管理。通過上述的測試和診斷過 程，本實施例的方法可以在PON OLT設備中完成系統(tǒng)的光纖故障診斷過程；本實施例的方 法還可以利用PON系統(tǒng)的上行管理通道將各OLT域內的故障情況上報給上層網管進行集中 處理。本實施例中的光模塊需要在傳統(tǒng)PON OLT光模塊基礎上結合測試需求進行改進， 如圖6所示。在功能上，本實施例在OLT光模塊中增加了 OTDR功能組件(即OTDR測試模 塊)，用以完成OTDR在線測試和數(shù)據轉換過程；OTDR的測試光信號的波長可以選用1625nm 或1650nm。在電接口上，本實施例中的OLT的光模塊可以增加一個單端數(shù)據接口或一對差 分串行數(shù)據接口，用以完成OTDR測試后的數(shù)據信號高速傳輸。若OLT上有多個光模塊，控 制模塊可以通過I2C管理接口對多個光模塊及各個光模塊中的OTDR測試模塊進行統(tǒng)一的 管理。圖6中的ROSA是光模塊原有的業(yè)務接收模塊，TOSA是光模塊中原有的業(yè)務發(fā)送模 塊，本發(fā)明在光模塊中加入OTDR測試模塊不會影響ROSA和TOSA的正常運行。本實施例的OTDR測試模塊可以完成OTDR測試的發(fā)送、接收和控制管理過程，如圖 7所示。OTDR測試模塊可以包括發(fā)送控制單元、發(fā)光單元和接收處理單元。發(fā)送控制單元，可以完成OTDR測試的光信號的發(fā)送控制功能，可以根據控制模塊 的指令選擇測試光信號的類型和控制信號波形，控制發(fā)光單元發(fā)出預定的測試光信號。根 據測試需求，OTDR測試模塊的測試光信號類型可以選擇光脈沖或偽隨機序列；同時，也可 以控制發(fā)送光脈沖的寬度和偽隨機序列的長度。發(fā)光單元可以是半導體激光器、激光二極管等，發(fā)光單元可以根據發(fā)送控制單元 的控制指令發(fā)出預定的測試光信號，例如能夠發(fā)出1625nm或1650nm波長的指定寬度光脈 沖，可以經光纖耦合器發(fā)送到光纖中。接收處理單元，用于接收OTDR測試所得的光信號，將該光信號處理后發(fā)送給控制 模塊。具體地，從光纖耦合器發(fā)回的光信號經過光電檢測器、放大器和A/D轉換器后進 入接收處理單元。接收處理單元可以完成數(shù)據信號緩存功能，同時能夠控制A/D轉換器的啟動、設 置A/D轉換的采樣率，以及計算采樣起始時間和完成數(shù)據格式處理；經接收處理單元的處 理后，測試所得數(shù)據經并串轉換后通過光模塊上定義的OTDR數(shù)據接口傳輸?shù)絆LT的控制模 塊。
所述光模塊管理接口使用光模塊已有的I2C管理接口，在保留I2C接口原有光模 塊管理功能的前提下，將I2C接口與光模塊內部增加的OTDR功能組件相連，完成對OTDR測 試過程的控制和管理。所述OLT的控制模塊，在保留OLT原有業(yè)務處理和系統(tǒng)管理功能的前提下，增加 OTDR管理和數(shù)據分析功能，通過光模塊管理接口可以發(fā)起OTDR測試過程，并且可以設置 OTDR測試參數(shù)，可以完成測試數(shù)據的分析和故障定位過程。當OLT的控制模塊發(fā)起測試時，在缺省條件下，OTDR測試模塊使用固定寬度的光 脈沖和默認采樣率進行測試；同時，OTDR測試模塊的發(fā)送控制單元提供可選的光脈沖或偽 隨機序列的測試模式；在選定的測試模式下，也提供可選的光脈沖寬度或偽隨機序列長度。 OTDR測試模塊的接收處理模塊也提供可選的采樣率。在發(fā)起OTDR測試時，控制模塊可以根 據測試需求的不同對OTDR測試模塊的測試參數(shù)進行設定。在OLT的控制模塊通過光模塊管理接口發(fā)起OTDR測試時，系統(tǒng)同時啟動光模塊的 OTDR測試模塊中的A/D轉換器，以及接收處理單元中的計時模塊。計時模塊可以用于計算 從發(fā)光單元開始發(fā)光到接收處理單元接收到第一組測試所得數(shù)據信號的時間；測試所得信 號經A/D轉換后，進行數(shù)據緩存；然后，用計時模塊的時間減去系統(tǒng)傳輸和處理時延就能算 出第一個采樣點的采樣時間。然后，接收處理單元將必要的測試參數(shù)、測試所得數(shù)據以及校 驗位封裝成系統(tǒng)約定的數(shù)據格式，進行數(shù)據串行化處理；最終，通過光模塊的OTDR數(shù)據接 口傳送到OLT的控制模塊進行分析和故障定位。圖8為本發(fā)明實施例約定的一種OTDR測試數(shù)據的數(shù)據格式的示意圖，如圖8所 示，本實施例的系統(tǒng)約定的數(shù)據格式包括前導碼字段、幀頭字段、數(shù)據字段以及校驗位字 段。前導碼字段為系統(tǒng)約定的特定比特流信息；幀頭字段主要包括測試參數(shù)，所述測試參數(shù) 應至少包含測試模式(即測試光信號的類型信息)、測試光信號的波形信息(包括光脈沖 寬度或偽隨機序列長度)、采樣率、A/D位寬及采樣開始時間等信息；數(shù)據字段為測試數(shù)據 流信息，數(shù)據字段的有效長度根據OTDR測試模塊的最大采樣率和A/D轉換位寬確定，數(shù)據 字段的總長度固定，數(shù)據字段長度應至少可以包含最大采樣率下的所有測試數(shù)據。校驗位 字段在封裝數(shù)據時通過約定的校驗算法添加，用以完成接收端數(shù)據校驗。在本實施例中，當OLT的控制模塊接收到光模塊送來的測試數(shù)據時，根據約 定的前導碼來檢測OTDR測試數(shù)據幀，然后根據校驗位進行數(shù)據校驗，例如根據預定的 CRC(Cyclic Redundancy Check，循環(huán)冗余校驗碼)進行校驗，若校驗未通過，說明傳輸發(fā)生 錯誤，則要求光模塊內的OTDR測試模塊重新傳輸；否則，從幀頭信息中提取測試參數(shù)，并根 據采樣率、A/D位寬以及采樣開始時間等信息對數(shù)據字段的數(shù)據流進行分析處理，完成數(shù)據 分析和故障定位。使用本發(fā)明的方法對PON系統(tǒng)進行測試時，流程如圖9所示，具體測試過程如下S101、在PON系統(tǒng)運行過程中，PON網絡系統(tǒng)的上層網管適時監(jiān)控系統(tǒng)運行狀態(tài)， 當判斷發(fā)生光纖故障時，則觸發(fā)相應的0LT，執(zhí)行步驟S102，若判斷發(fā)生其他故障，則進行 其他故障處理；S102、OLT 發(fā)起 OTDR 測試；具體地，PON OLT的控制模塊通過光模塊管理接口發(fā)起OTDR測試指令，適時開始 OTDR測試過程。
S103、判斷是否使用缺省配置，若是，則轉向步驟S105，否則，轉向步驟S104 ；S104、根據當前測試環(huán)境設置測試參數(shù)；具體地，PON OLT的控制模塊通過光模塊管理接口設置測試參數(shù)，測試參數(shù)可以包 括測試光信號類型、光脈沖寬度或偽隨機序列長度及光時域反射儀測試采樣率等。S105，開始測試。S106，在測試過程中，對測試所得信號進行處理；具體地，光模塊中的OTDR測試模塊的接收處理單元對測試所得信號進行模數(shù)轉 換和處理，并且完成數(shù)據格式封裝；通過光模塊的OTDR數(shù)據接口將測試數(shù)據傳送到PON OLT的控制模塊。S107，進行光纖故障分析；具體地，PON OLT的控制模塊接收到測試數(shù)據幀后，提取OTDR測試參數(shù)和測試數(shù) 據，完成OTDR測試數(shù)據的分析和光纖故障定位過程。S108，判斷是否需交上層網管處理，若是，則轉向步驟S109，否則，轉向步驟SllO ；S 109，將光纖故障信息發(fā)送給上層網管，則上層網管進行集中處理。具體地，根據系統(tǒng)管理和維護需求，若網絡部署需要上層網管維護和管理系統(tǒng)故 障信息，則通過PON OLT系統(tǒng)的上行管理通道，將各OLT域內的故障情況上報給上層網管進 行集中處理。S110,P0N OLT自行完成故障信息維護和管理，測試完成。本實施例將OTDR測試技術應用到PON OLT的系統(tǒng)設計當中，在OLT光模塊上增加 OTDR功能組件和數(shù)據接口 ；在OLT的控制模塊上增加OTDR管理和數(shù)據分析功能，使得在發(fā) 生光纖故障時，OLT的控制模塊可以通過光模塊管理接口下達指令，適時發(fā)起OTDR故障診 斷過程；測試所得數(shù)據通過光模塊的OTDR數(shù)據接口送回OLT的控制模塊，完成數(shù)據分析和 故障定位過程。根據系統(tǒng)需求，使用本實施例OLT測試的光纖故障情況可以在PONOLT上進行分析 和處理，實現(xiàn)PON系統(tǒng)的光纖故障診斷；也可以通過PON系統(tǒng)的上行管理通道，將各OLT域 內的故障情況上報給上層網管進行集中分析處理，最終實現(xiàn)PON系統(tǒng)的光纖故障診斷。與現(xiàn)有PON光纖故障診斷方法相比，本實施例所提出的使用OTDR技術進行PON光 纖診斷的方法和裝置，首先，將光纖故障診斷過程結合PON網絡管理系統(tǒng)進行，滿足適時性 和可維護性需求；進一步地，將OTDR技術應用PON OLT設計當中，使PON網絡設備自身具備 了光纖故障診斷能力；簡化了系統(tǒng)的組網結構，同時，本發(fā)明的方法無需引入除OTDR組件 以外的其它設備或組件，降低了網絡的運營成本；再次，本發(fā)明的方法使每個OLT域內的光 線故障診斷獨立進行，提高了系統(tǒng)的可靠性。以上僅為本發(fā)明的優(yōu)選實施例，當然，本發(fā)明還可有其他多種實施例，本發(fā)明同樣 適用于其他光網絡系統(tǒng)上稍加改動，在不背離本發(fā)明精神及其實質的情況下，熟悉本領域 的技術人員當可根據本發(fā)明作出各種相應的改變和變形，但這些相應的改變和變形都應屬 于本發(fā)明所附的權利要求的保護范圍。
1權利要求
一種在無源光網絡中進行光纖故障診斷的方法，包括光線路終端的接收模塊接收到診斷光纖故障消息后，觸發(fā)測試模塊；所述測試模塊被所述接收模塊觸發(fā)后，進行光時域反射測試，得到測試的數(shù)據信息；故障診斷模塊分析所述數(shù)據信息，進行光纖故障診斷。
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于所述測試模塊是根據預設的光時域反射測 試參數(shù)進行光時域反射測試的，所述光時域反射測試參數(shù)包括測試光信號的類型、測試光 信號的波形參數(shù)、采樣率、模數(shù)轉換位寬和采樣開始時間；所述測試光信號的類型為光脈沖，所述測試光信號的波形參數(shù)為光脈沖的寬度；或者， 所述測試光信號的類型為偽隨機序列，所述測試光信號的波形參數(shù)為偽隨機序列的長度。
3.如權利要求2所述的方法，其特征在于所述測試模塊進行光時域反射測試得到數(shù) 據信息之后，所述方法還包括所述測試模塊將所述數(shù)據信息和測試參數(shù)封裝成光纖故障診斷所需的數(shù)據格式，然后 發(fā)送給所述故障診斷模塊。
4.如權利要求3所述的方法，其特征在于所述接收模塊通過I2C管理接口觸發(fā)所述測試模塊；所述測試模塊通過一串行數(shù)據接口向所述故障診斷模塊發(fā)送封裝后的數(shù)據，所述串行 數(shù)據接口為一個單端串行數(shù)據接口或一對差分串行數(shù)據接口。
5.如權利要求3所述的方法，其特征在于所述測試模塊將所述數(shù)據信息和測試參數(shù) 封裝成光纖故障診斷所需的數(shù)據格式的步驟包括將所述測試參數(shù)封裝為幀頭字段，將所述數(shù)據信息封裝為數(shù)據字段，在所述幀頭字段 前加入用于標識光時域反射測試數(shù)據的前導碼字段，在所述數(shù)據字段后加入校驗位字段。
6.如權利要求5所述的方法，其特征在于所述故障診斷模塊分析所述數(shù)據信息的步 驟包括若檢測所述前導碼字段用于標識光時域反射測試數(shù)據，并且對所述校驗位字段的數(shù)據 校驗成功，則根據從所述幀頭字段中提取出所述測試參數(shù)分析所述數(shù)據字段中的所述數(shù)據fn息ο
7.如權利要求1-6任一項所述的方法，其特征在于所述故障診斷模塊進行光纖故障 診斷的步驟之后，還包括將光纖故障診斷的結果信息上報給上層網管。
8.一種光線路終端，包括控制模塊和光模塊，所述控制模塊用于控制所述光模塊收發(fā) 業(yè)務，其特征在于，所述控制模塊包括接收模塊和故障診斷模塊，所述光模塊包括一測試模 塊，其中，所述接收模塊，用于接收到診斷光纖故障消息時，向所述測試模塊發(fā)送觸發(fā)消息； 所述測試模塊，用于接收到所述觸發(fā)消息后，進行光時域反射測試，得到測試的數(shù)據信息；所述故障診斷模塊，用于分析所述數(shù)據信息，進行光纖故障診斷。
9.如權利要求8所述的光線路終端，其特征在于，所述測試模塊具體用于，根據預設的光時域反射測試參數(shù)進行光時域反射測試，所述 光時域反射測試參數(shù)包括測試光信號的類型、測試光信號的波形參數(shù)、采樣率、模數(shù)轉換位寬和采樣開始時間，所述測試光信號的類型為光脈沖，所述測試光信號的波形參數(shù)為光脈沖的寬度；或者， 所述測試光信號的類型為偽隨機序列，所述測試光信號的波形參數(shù)為偽隨機序列的長度。
10.如權利要求9所述的光線路終端，其特征在于，所述測試模塊包括所述發(fā)送控制單元，用于根據所述測試參數(shù)向發(fā)光單元下發(fā)控制指令；所述發(fā)光單元，用于接收到所述控制指令后，根據所述測試光信號的類型和測試光信 號的波形參數(shù)發(fā)送相應的測試光信號進行光時域反射測試；接收處理單元，用于接收所述光時域反射測試所得的數(shù)據信息后，將所述數(shù)據信息和 測試參數(shù)封裝成光纖故障診斷所需的數(shù)據格式后，發(fā)送給所述故障診斷模塊。
11.如權利要求10所述的光線路終端，其特征在于，所述數(shù)據格式包括前導碼字段、 幀頭字段、數(shù)據字段和校驗位字段，其中，所述前導碼字段為用于標識光時域反射測試數(shù)據 的比特流信息，所述幀頭字段包括所述測試參數(shù)，所述數(shù)據字段包括所述數(shù)據信息。
12.如權利要求11所述的光線路終端，其特征在于，所述故障診斷模塊，進一步用于在檢測所述前導碼字段為用于標識光時域反射測試數(shù) 據，并且成功校驗所述校驗位字段的數(shù)據后，根據從所述幀頭字段中提取出的所述測試參 數(shù)，分析所述數(shù)據字段中的所述數(shù)據信息。
13.如權利要求10所述的光線路終端，其特征在于，所述光模塊包括I2C管理接口和串 行數(shù)據接口，所述測試模塊通過所述I2C管理接口接收所述觸發(fā)消息；所述測試模塊通過所述串行數(shù)據接口向所述故障診斷模塊發(fā)送封裝后的數(shù)據，所述串 行數(shù)據接口為一個單端串行數(shù)據接口或一對差分串行數(shù)據接口。
14.如權利要求8-13任一項所述的光線路終端，其特征在于，所述故障診斷模塊，還用于將所述光纖故障診斷的結果信息上報給上層網管。
全文摘要
本發(fā)明提供一種在無源光網絡中進行光纖故障診斷的方法和光線路終端，該方法包括光線路終端的接收模塊接收到診斷光纖故障消息后，觸發(fā)測試模塊；所述測試模塊被所述接收模塊觸發(fā)后，進行光時域反射測試，得到測試的數(shù)據信息；故障診斷模塊分析所述數(shù)據信息，進行光纖故障診斷。本發(fā)明將OTDR技術應用PON OLT設計當中，使PON網絡設備自身具備了光纖故障診斷能力，簡化了系統(tǒng)的組網結構。
文檔編號H04Q11/00GK101917226SQ201010262160
公開日2010年12月15日 申請日期2010年8月23日 優(yōu)先權日2010年8月23日
發(fā)明者梁偉, 陸建鑫 申請人:中興通訊股份有限公司