專利名稱：測試板的制作方法
技術領域：
本實用新型實施例涉及測試技術，特別涉及一種測試板。
背景技術：
為適應通信網絡對傳輸帶寬的要求，可以采用多通道光收發(fā)器件，通過 增加傳輸信道的集成度來達到增加通信傳輸系統(tǒng)總容量的目的。例如，在光
纖通信的波分復用(Wavelength Division Multiplexing,以下簡稱WDM)技 術中使用的光集成器件(Photonic Integrated Device，以下簡稱PID )即在 單芯片中集成了多路不同波長光的傳輸通道。現有技術對多通道光收發(fā)器件 例如PID器件的測試是通過將PID器件連接在測試板上，并由測試儀表、測 試板和PID器件共同搭建形成光傳輸鏈路的測試系統(tǒng)來進行測試的。
圖1為現有技術提供的測試板應用于測試系統(tǒng)的系統(tǒng)架構圖，如圖1所 示，現有技術中針對多通道光收發(fā)器件的性能測試，以PID器件為例，是通 過將測試儀表脈沖信號發(fā)生器(Pulse Pattern Generator,以下簡稱PPG)、 誤碼檢測單元(Error Detector,以下簡稱ED)與測試板(TESTBENCH)、 連接在該測試板上的PID器件連接成供測試數據傳輸的端到端的傳輸鏈路， 并將同種測試項目的測試信號逐次輸入PID器件的每個傳輸通道中來完成整 個PID器件各傳輸通道的性能測試。圖1中的PID器件具有N個光傳輸通道， 包括合波器(MUX)、分波器(DEMUX)、激光器(Laser)、驅動器(Driver)、 光電二極管(PIN)和數據恢復部件(CDR)等功能部件，該PID器件的收 發(fā)電接口和測試板上的輸入輸出接口連接，并通過該輸入輸出接口和測試板 的對外接口相通。如圖1所示，該測試板的測試信號接收端和發(fā)送端分別具 有N個對外4妄口 ，該N個對外接口分別和PID器件中集成的N個測試通道相通。外部儀表PPG和ED通過電纜連線連接到測試板的對外接口上。在測 試中，測試信號或串擾測試中的干擾信號在PID器件傳輸通道之間的切換均 是通過手工切換外部測試儀表PPG、ED與測試板對外接口的電纜連線來實現 的。
設計人在實現本實用新型的過程中發(fā)現，上述PID器件等多通道光收發(fā) 器件的性能測試尚存在如下技術缺陷
1、 測試過程中人工手動切換測試通道會使得測試效率較低，延長了多通 道光收發(fā)器件的測試周期；而且，長期測試會對測試板的對外接口造成可觀 的磨損，縮短測試板的使用壽命；此外，手動切換中的過多外力介入，會對 整套測試環(huán)境造成影響，降低測試數據的可信度；
2、 多通道光收發(fā)器件中集成多路傳輸通道會使得測試板的對外接口也相 應較多，對測試板的布局布線和對外接口的排布造成很大壓力。

實用新型內容
本實用新型實施例提供一種測試板，解決現有手動切換測試通道導致的 測試效率和測試數據可信度均較低的問題，實現測試通道間的自動切換，提 高測試效率和測試數據的可信度，并且減少對測試板對外接口的磨損，P條低 了測試板的復雜度。
本實用新型實施例提供一種測試板，包括
用于將測試信號發(fā)送至自動選通的多通道光收發(fā)器件中的待測通道的第 一電交叉單元，所述第 一電交叉單元包括用于接收測試信號的一個第一輸入 端和用于分別連通多通道光收發(fā)器件中多個通道的多個第一輸出端；以及，
用于將所述待測通道輸出的測試信號自動輸出至信號4企測單元的第二電 交叉單元，所述第二電交叉單元包括用于分別連通多通道光收發(fā)器件中多個 通道的多個第二輸入端和用于與所述信號檢測單元連接的一個第二輸出端。本實用新型實施例的測試板通過設置電交叉單元，利用該電交叉單元將測試信號自動發(fā)送至多通道光收發(fā)器件中的待測通道，并自動接收及將該待測通道輸出的測試信號輸出至信號才企測單元，解決了現有測試方法的效率和測試數據可信度均較低的問題，實現了待測通道間的自動切換，提高了測試效率和測試數據的可信度，并且可以減少測試板對外接口的磨損，降低測試板的復雜度。


圖1為現有技術提供的測試板應用于測試系統(tǒng)的系統(tǒng)架構圖2為本實用新型實施例一提供的測試板的結構示意圖3為本實用新型實施例二提供的測試板的結構示意圖4為本實用新型實施例二提供的測試板應用于測試系統(tǒng)的系統(tǒng)架構圖。
具體實施方式
以下結合附圖和具體實施例進一步說明本實用新型實施例的技術方案。圖2為本實用新型實施例一提供的測試板的結構示意圖，如圖2所示，本實施例的測試板包括第一電交叉單元11和第二電交叉單元12。其中，第一電交叉單元11用于接收測試信號，并將測試信號發(fā)送至自動選通的多通道光收發(fā)器件中的待測通道；第二電交叉單元12用于接收待測通道輸出的測試信號，并將測試信號自動輸出至信號檢測單元。具體的，第一電交叉單元ll包括用于接收測試信號的一個第一輸入端和用于分別連通多通道光收發(fā)器件中多個通道的多個第一輸出端；第二電交叉單元12包括用于和多通道光收發(fā)
器件中多個通道分別連通的多個第二輸入端和用于與信號檢測單元連接的一個第二輸出端。
具體應用中，本實施例的測試板在用于對多通道光收發(fā)器件進行傳輸性能測試時，該測試板中的第一電交叉單元11的第一輸入端接收到外部測試儀表產生的測試信號后，可以通過與待測通道連通的第一輸出端將該測試信號自動發(fā)送至多通道光收發(fā)器件選定的待測通道中。該待測通道是由第一電交叉單元ll自動選通的，由第一電交叉單元ll自動將測試信號發(fā)送至該待測通道，而不是通過人工手動切換測試板的對外接口電纜連線來選通。該測試信號經過傳輸鏈路的傳輸后，再從多通道光收發(fā)器件的與待測通道對應的電
發(fā)送端輸出，此時，第二電交叉單元12中與待測通道連通的第二輸入端可以自動接收該待測通道輸出的測試信號，并通過第二輸出端將該測試信號輸出至信號檢測單元進行測試信號的分析和處理，得到待測通道的傳輸性能指標分析結果。該測試信號的輸出也是由第二電交叉單元12自動將測試信號通過第二輸出端發(fā)送至信號檢測單元的，而不是通過人工手動切換測試板的對外
接口電纜連線來建立測試信號輸出至信號檢測單元的通道。
在多通道光收發(fā)器件的測試過程中，第一電交叉單元11可以將測試信號逐次輸入多通道光收發(fā)器件的各待測通道中，第二電交叉單元12可以自動接收多通道光收發(fā)器件電發(fā)送端對應的各待測通道輸出的測試信號，并將其逐次輸出至ED，從而完成整個多通道光收發(fā)器件的測試。
本實施例測試板通過在測試板上設置電交叉單元，通過電交叉單元將測試信號逐次輸入多通道光收發(fā)器件的各待測通道中，并將各待測通道輸出的測試信號逐次接收并輸出至信號檢測單元，實現了測試信號在待測通道間的自動切換，提高了測試效率；而且自動切換可以減少測試板的對外接口設置，降低測試板的復雜度，減少手工切換測試板接口電纜連線造成的測試板接口磨損。
圖3為本實用新型實施例二提供的測試板的結構示意圖，如圖3所示，本實施例的測試板在實施例一提供的測試板結構的基礎上，第一電交叉單元ll還包括第二輸入端，該第二輸入端用于與干擾信號發(fā)生器連接，接收干擾信號；本實施例測試板還包括設置在測試板上的干擾信號產生單元13和控制單元14，其中，干擾信號產生單元13用于產生干擾信號，并將該干擾信號輸出至第一電交叉單元11;控制單元14用于預先確定需要檢測的多通道光收發(fā)器件中的待測通道，并控制第一電交叉單元11將測試信號發(fā)送至多通道光收發(fā)器件中選定的待測通道，以及，控制第二電交叉單元12接收待測通道輸出的測試信號，并將測試信號輸出至信號檢測單元?？刂茊卧?4還可以用于控制干擾信號產生單元13產生的干擾信號的格式。
將本實施例的測試板應用于測試系統(tǒng)，如圖4所示，圖4為本實用新型實施例二提供的測試板應用于測試系統(tǒng)的系統(tǒng)架構圖。下面結合圖4具體說明本實施例測試板應用于多通道光收發(fā)器件的測試過程。
如圖4所示，在進行多通道光收發(fā)器件的測試之前，首先需要通過測試設備搭建測試環(huán)境。本實施例的多通道光收發(fā)器件包括PID器件，或者為多個分立光收發(fā)器件的組合，該多個分立光收發(fā)器件可以為萬兆以太網接口小封裝可4翁拔的光才莫塊(10-Gigabit small form-factor pluggable transceiver,以下簡稱XFP)、小封裝可插拔光模塊(Small Form-Factor Pluggable,以下筒稱SFP)或者光電二極管(PIN photodiode，以下簡稱PIN管)、雪崩光電二極管(avalanche photodiode,以下簡稱APD管)等。本實施例以PID器件的測試為例進行說明。本實施例中的測試設備可以采用PPG、 ED和測試板，將PID器件連接在測試板上。具體實施中，該測試^反上可以包括兩個電交叉(Cross point Switch,以下簡稱CPS)單元，分別稱為第一CPS單元11和第二CPS單元12。其中，第一CPS單元11可以包括多個第一輸出端和第一輸入端，該多個第一輸出端的輸出接口與PID器件中的PID-TX收電接口連接，在進行傳輸性能測試時，該第一輸入端為一個，其輸入接口與測試信號發(fā)生器連接；在進行串擾性能測試時，該第一輸入端為兩個，其輸入接口分別與測試信號發(fā)生器和干擾信號發(fā)生器連接，該測試信號發(fā)生器用于產生測試信號，干擾信號發(fā)生器用于產生干擾信號。第二CPS單元12可以包括多個第二輸入端和一個第二輸出端，該多個第二輸入端的輸入接口與PID器件的PID-RX發(fā)電接口連接，第二輸出端的輸出接口通過電纜連線和ED連接。PID器件的)R/發(fā)電接口與PID器件中集成的各傳輸通道相通。PG、 ED、測試板和PID器件經過上述連接后，構成了測試信號端到端的傳輸鏈路，該傳輸鏈路為測試信號發(fā)生器輸出的測試信號經由測試板上的第一 CPS單元進入PID器件的待測通道，經過傳輸鏈路的傳輸后通過測試板上的第二 CPS單元輸出至ED。
在測試環(huán)境4答建完成后，結合圖4所示的測試系統(tǒng)，具體闡述本實施例測試板的具體應用如下
在進行待測通道的傳輸性能測試時，其應用與實施例一提供的測試板的應用相同，具體實施中，可以利用控制單元14預先確定需要;^測的多通道光收發(fā)器件中的待測通道。例如，控制單元14預先確定需要測試PID器件的第一個待測通道，可以稱之為第一通道，則在第一電交叉單元11的第一輸入端接收到測試信號后，控制單元14可以向第一電交叉單元11輸出控制指令，指示第 一 電交叉單元11通過與第 一通道連通的第 一輸出端將接收到的測試信號發(fā)送至該第一通道中。測試信號經過傳輸鏈路的傳輸后，在PID器件的電發(fā)送端，控制單元14也可以向第二電交叉單元12輸出控制指令，指示第二電交叉單元12中的與第一通道連通的第二輸入端自動接收該第一通道輸出的測試信號，并將接收到的測試信號通過第二輸出端發(fā)送至信號檢測單元中。
在進行待測通道的串擾性能測試時，本實施例測試板的第一電交叉單元ll在接收測試信號之外，還通過第二輸入端接收干擾信號，并可以將干擾信號扇出即同時發(fā)送至PID器件待測通道以外的其余所有通道中，該其余所有通道可以稱為干擾通道。其中，干擾信號可以由外部儀表PPG產生，也可以由設置在測試板上的干擾信號產生單元13產生，本實施例中的干擾信號是由干擾信號產生單元13產生的，該干擾信號產生單元13可以為PPG CHIP單元，該PPG CHIP單元是一個具有信號產生功能的芯片；其可以產生干擾信號，并將該干擾信號通過第二輸入端輸入至第一電交叉單元11。具體實施中，
可以通過控制單元14控制干擾信號產生單元13產生的干擾信號的格式，并控制第一電交叉單元11將接收到的干擾信號扇出至所有干擾通道中。使用測試板上設置的板載PPG CHIP產生干擾信號，相比使用外部儀表PPG產生干擾信號，可以顯著降低測試成本，而且可以使得測試板的對外接口進一步減少，降低測試板的復雜度。
本實施例測試板在進行PID器件測試時，測試板中的第一電交叉單元11和第二電交叉單元12可以將測試信號自動地逐次輸入PID器件的各待測通道中，并自動接收各待測通道輸出的測試信號，將各測試信號逐次輸出至ED進行分析處理，從而完成整個PID器件的測試。當本實施例的測試板應用于多個分立光收發(fā)器件時，該多個分立光收發(fā)器件的組合即相當于一 PID器件，測試板的第一電交叉單元11和第二電交叉單元12可以將測試信號逐次輸入各分立光收發(fā)器件的通道中，并且自動接收各分立光收發(fā)器件的通道輸出的測試信號，將該測試信號逐次輸出至ED進行分析處理，從而實現該多個分立光收發(fā)器件之間的自動通道切換，完成多個分立光收發(fā)器件的通道性能測
試o
本實施例測試板在實現待測通道自動切換，提高測試效率的基礎上，通
過設置板載干擾信號產生單元，減少了對產生干擾信號的外部儀表PPG的依賴，進一步降低了測試板的復雜度，且顯著節(jié)省了測試成本。
最后應說明的是以上實施例僅用以說明本實用新型的技術方案，而非對其限制；盡管參照前述實施例對本實用新型進行了詳細的說明，本領域的普通技術人員應當理解其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術方案的本質脫離本實用新型各實施例技術方案的精神和范圍。
權利要求1、一種測試板，其特征在于，包括用于將測試信號發(fā)送至自動選通的多通道光收發(fā)器件中的待測通道的第一電交叉單元，所述第一電交叉單元包括用于接收測試信號的一個第一輸入端和用于分別連通多通道光收發(fā)器件中多個通道的多個第一輸出端；以及，用于將所述待測通道輸出的測試信號自動輸出至信號檢測單元的第二電交叉單元，所述第二電交叉單元包括用于分別連通多通道光收發(fā)器件中多個通道的多個第二輸入端和用于與所述信號檢測單元連接的一個第二輸出端。
2、 根據權利要求1所述的測試板，其特征在于，所述第一電交叉單元還 包括用于接收干擾信號的第二輸入端。
3、 根據權利要求2所述的測試板，其特征在于，還包括 干擾信號產生單元，用于產生所述干擾信號，并將所述干擾信號輸出至所述第二輸入端。
4、 根據權利要求l、 2或3所述的測試板，其特征在于，還包括用于預先確定所述待測通道，并控制所述第一電交叉單元將測試信號發(fā) 送至自動選通的所述待測通道，以及，控制所述第二電交叉單元將所述待測 通道輸出的測試信號自動輸出至信號檢測單元的控制單元，所述控制單元與 所述第 一電交叉單元和第二電交叉單元連接。
5、 根據權利要求1所述的測試板，其特征在于，所述多通道光收發(fā)器件 包括光集成器件或多個分立光收發(fā)器件。
專利摘要本實用新型實施例提供一種測試板，該測試板包括用于將測試信號發(fā)送至自動選通的多通道光收發(fā)器件中的待測通道的第一電交叉單元，所述第一電交叉單元包括用于接收測試信號的一個第一輸入端和用于分別連通多通道光收發(fā)器件中多個通道通的多個第一輸出端；以及，用于將所述待測通道輸出的測試信號自動輸出至信號檢測單元的第二電交叉單元，所述第二電交叉單元包括用于和多通道光收發(fā)器件中多個通道分別連通的多個第二輸入端和用于與所述信號檢測單元連接的一個第二輸出端。本實用新型測試板實現了待測通道間的自動切換，提高了測試效率和數據可信度；并且可以減少測試板對外接口的磨損，降低測試板的復雜度。
文檔編號H04B10/08GK201409138SQ200920108139
公開日2010年2月17日 申請日期2009年5月14日 優(yōu)先權日2009年5月14日
發(fā)明者吳雙起, 全 周, 張紅蘋 申請人:華為技術有限公司